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서로 대칭되는 복수의 반사면을 가지고 중심축을 중심으로 회전하면서 입사되는 광을 반사시키는 회전 미러;제1 광원 및 제1 광센서를 포함하고, 상기 중심축을 수직 방향으로 가로지르는 수평축 아래 방향에 형성되는 제1 광학모듈; 및제2 광원 및 제2 광센서를 포함하고, 상기 회전 미러를 중심으로 상기 제1 광학모듈과 대칭으로 배치되도록 상기 수평축 아래 방향에 형성되는 제2 광학모듈;을 포함하는 확장된 수평 시야각을 가지는 스캐닝 라이다 장치
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제1항에 있어서, 상기 제1 광학모듈 및 상기 제2 광학모듈은 상기 중심축의 수평축과 소정의 제1 각도를 이루도록 형성되는 것을 특징으로 하는 확장된 수평 시야각을 가지는 스캐닝 라이다 장치
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제1항에 있어서, 상기 회전미러가 제1 위치에 있을 때, 상기 제1 광학모듈의 광을 반사시켜 제1 광경로를 형성하고, 상기 제2 광학모듈의 광을 반사시켜 제4 광경로를 형성하며, 상기 제1 광경로와 상기 제4 광경로 사이의 영역이 수평시야각으로 형성되는 것을 특징으로 하는 확장된 수평 시야각을 가지는 스캐닝 라이다 장치
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제1항에 있어서, 상기 회전미러가 제1 위치에 있을 때, 상기 제1 광학모듈의 광을 반사시켜 제1 광경로를 형성하고, 제2 위치에 있을 때 상기 제1 광학모듈의 광을 반사시켜 제2 광경로를 형성하며, 제1 광경로와 제2 광경로 사이 영역이 제1 시야각으로 형성되고,상기 회전미러가 제3 위치에 있을 때, 상기 제2 광학모듈의 광을 반사시켜 제3 광경로를 형성하고, 상기 제1 위치에 있을 때 상기 제2 광학모듈의 광을 반사시켜 제4 광경로를 형성하며, 제3 광경로와 제4 광경로 사이 영역이 제2 시야각으로 형성되고,상기 제1 광경로와 상기 제4 광경로 사이의 영역이 수평시야각으로 형성되되,상기 제3 광경로와 상기 제2 광경로는 서로 교차하여 상기 제1 시야각과 상기 제2 시야각 사이에 중첩영역이 형성되어 측정거리가 길어지는 것을 특징으로 하는 확장된 수평 시야각을 가지는 스캐닝 라이다 장치
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5
제4항에 있어서, 상기 회전미러가 상기 제2 위치에 있을 때, 상기 회전미러는 상기 중심축의 수평축과 제2 각도를 형성하는 것을 특징으로 하는 확장된 수평 시야각을 가지는 스캐닝 라이다 장치
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6
제4항에 있어서, 상기 회전미러가 상기 제3 위치에 있을 때, 상기 회전미러는 상기 중심축의 수평축과 제3 각도를 형성하는 것을 특징으로 하는 확장된 수평 시야각을 가지는 스캐닝 라이다 장치
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제4항에 있어서, 상기 제2 위치와 상기 제3 위치는 서로 대칭되는 것을 특징으로 하는 확장된 수평 시야각을 가지는 스캐닝 라이다 장치
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제1항에 있어서, 상기 제1 광학모듈 또는 제2 광학모듈은, 레이저 광을 출력하는 광원;상기 광원에서 출사된 광이 빔형상이 되도록 제어하는 제1 렌즈;상기 제1 렌즈를 통과한 빔 형상의 광을 집광하고 콜리메이트 빔을 생성하고, 측정 타겟에서 반사된 반사광을 수광하는 제2 렌즈;상기 제2 렌즈를 통과한 반사광을 반사시키고 수평면과 경사지게 형성된 반사미러; 및 상기 반사미러에서 반사된 광을 수신하여 전기신호로 변환하는 광검출부를 포함하는 확장된 수평 시야각을 가지는 스캐닝 라이다 장치
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