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망막 질환 검지 장치(RETINA DISEASE DETECTION DEVICE)

  • 기술번호 : KST2018003440
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은, 안구에 광을 조사하도록 이루어지는 광 이미징 수단; 및 상기 안구로부터 반사된 광을 제공받아 상기 안구에서 발생된 광의 수차를 처리하여 보정하는 광 처리 수단을 포함하고, 상기 광 처리 수단은, 상기 안구에 의해 발생된 상기 반사된 광의 수차를 감지하는 파면 센서; 및 상기 감지된 수차를 근거로 상기 광을 보상하는 광 보상 거울을 포함하고, 상기 수차의 차이를 보상함으로써 상기 안구의 망막의 질환을 검지하는 것을 특징으로 하는 망막 질환 검지 장치를 제공한다.
Int. CL A61B 3/14 (2006.01.01) G02B 5/30 (2006.01.01) F21V 8/00 (2016.01.01) G02B 19/00 (2006.01.01)
CPC A61B 3/14(2013.01) A61B 3/14(2013.01) A61B 3/14(2013.01) A61B 3/14(2013.01)
출원번호/일자 1020160121456 (2016.09.22)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0032353 (2018.03.30) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.09.22)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김재헌 대한민국 서울특별시 성북구
2 김석환 대한민국 서울특별시 동작구
3 오주영 대한민국 서울특별시 성북구
4 박병호 대한민국 서울특별시 성북구
5 김효석 대한민국 서울특별시 성북구
6 서민아 대한민국 서울특별시 성북구
7 김철기 대한민국 서울특별시 성북구
8 이택진 대한민국 서울특별시 성북구
9 우덕하 대한민국 서울특별시 성북구
10 이석 대한민국 서울특별시 성북구
11 전영민 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 티앤아이 대한민국 서울특별시 송파구 법원로 ***, A동 ****호(문정동, 엠스테이트)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2016-0919501-17
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.12.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0906158-36
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2018.02.14 수리 (Accepted) 1-1-2018-0163507-94
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2018.02.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0163508-39
5 등록결정서
Decision to grant
2018.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0289631-15
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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안구에 광을 조사하도록 이루어지는 광 이미징 수단; 및상기 안구로부터 반사된 광을 제공받아 상기 안구에서 발생된 광의 수차를 처리하여 보정하는 광 처리 수단을 포함하고,상기 광 처리 수단은,상기 안구에 의해 발생된 상기 반사된 광의 수차를 감지하는 파면 센서; 및상기 감지된 수차를 근거로 상기 광을 보상하는 광 보상 거울을 포함하고, 상기 수차의 차이를 보상함으로써 상기 안구의 망막의 질환을 검지하되,상기 광 이미징 수단은,광원으로부터 조사된 광을 한 방향으로 편광시키는 제1편광판; 상기 편광된 광을 분산시키는 월라스톤 프리즘; 및 상기 월라스톤 프리즘으로부터 분산된 광을 수렴하게 투과시키는 대물 렌즈를 포함하고,상기 월라스톤 프리즘은 상기 대물렌즈에 인접하여 배치되고, 상기 제1편광판에서 편광된 광은 빔 스플리터에 의해 기 결정된 각도만큼 굴절되어 상기 월라스톤 프리즘에 유입되며,상기 안구로부터 반사된 광은 상기 월라스톤 프리즘을 투과한 후에, 제2편광판에 의해 광이 검지되고, 상기 검지된 광은 상기 광 처리 수단으로 유입되는 것을 특징으로 하는 망막 질환 검지 장치
2 2
안구에 광을 조사하도록 이루어지는 광 이미징 수단; 및상기 안구로부터 반사된 광을 제공받아 상기 안구에서 발생된 광의 수차를 처리하여 보정하는 광 처리 수단을 포함하고,상기 광 처리 수단은,상기 안구에 의해 발생된 상기 반사된 광의 수차를 감지하는 파면 센서; 및상기 감지된 수차를 근거로 상기 광을 보상하는 광 보상 거울을 포함하고, 상기 수차의 차이를 보상함으로써 상기 안구의 망막의 질환을 검지하되,상기 광 이미징 수단은,광원으로부터 조사된 광을 한 방향으로 편광시키는 제1편광판; 상기 편광된 광을 분산시키는 월라스톤 프리즘; 및 상기 월라스톤 프리즘으로부터 분산된 광을 수렴하게 투과시키는 대물 렌즈를 포함하고,상기 월라스톤 프리즘은 상기 제1편광판에 인접하게 배치되는 제1 월라스톤 프리즘이고, 상기 제1 월라스톤 프리즘을 투과한 광은 빔 스플리터에 의해 기 결정된 각도만큼 굴절되어 상기 대물 렌즈에 유입되며,상기 광 처리 수단을 통해서 보정된 광을 투과시켜서 광 신호의 간섭을 얻도록 하는 별도의 제2 월라스톤 프리즘이 상기 광 처리 수단에 인접하여 배치되고,상기 별도의 제2 월라스톤 프리즘에 인접하여 제2편광판이 배치되며, 상기 제2편광판은 상기 별도의 월라스톤 프리즘을 통과한 광을 검지하는 것을 특징으로 하는 망막 질환 검지 장치
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제2항에 있어서,상기 광 보상 거울에 의해 보상되는 광의 적어도 일부는 빔 스플리터에 의해 기 결정된 각도만큼 굴절되는 것을 특징으로 하는 망막 질환 검지 장치
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