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지렛대 원리를 이용한 입자 크기 측정 시스템 및 이를 이용한 입자 크기 측정 방법

  • 기술번호 : KST2018007269
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 지렛대 원리를 이용한 입자 크기 측정 시스템 및 이를 이용한 입자 크기 측정 방법에서, 상기 입자 크기 측정 시스템은 제1 플레이트 및 제2 플레이트를 포함한다. 상기 제1 플레이트는 제1 방향으로 연장된다. 상기 제2 플레이트는 상기 제1 플레이트와 제1 끝단은 서로 접촉하며, 상기 제1 플레이트와 제2 끝단은 소정 간격 이격되도록 연장된다. 측정의 대상이 되는 입자를 포함한 용액은 상기 제1 플레이트 및 상기 제2 플레이트 사이의 공간에 채워진다. 상기 제1 플레이트의 전체 길이, 상기 제1 플레이트 중 상기 입자가 채워지지 않는 공간의 길이, 및 상기 제1 플레이트와 상기 제2 플레이트 사이의 이격 간격을 바탕으로 상기 입자의 지름을 연산한다.
Int. CL G01N 15/10 (2006.01.01) G01N 21/64 (2006.01.01)
CPC G01N 15/10(2013.01) G01N 15/10(2013.01) G01N 15/10(2013.01) G01N 15/10(2013.01)
출원번호/일자 1020160159111 (2016.11.28)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0060064 (2018.06.07) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.11.28)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최재빈 대한민국 서울특별시 성북구
2 전영민 대한민국 서울특별시 성북구
3 우덕하 대한민국 서울특별시 성북구
4 이석 대한민국 서울특별시 성북구
5 김재헌 대한민국 서울특별시 성북구
6 이택진 대한민국 서울특별시 성북구
7 서민아 대한민국 서울특별시 성북구
8 유용상 대한민국 서울특별시 성북구
9 김철기 대한민국 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김민태 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, *층 **세기특허법률사무소 (역삼동, 세일빌딩)
2 박영우 대한민국 서울특별시 강남구 논현로 ***, *층 **세기특허법률사무소 (역삼동, 세일빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.11.28 수리 (Accepted) 1-1-2016-1161156-79
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2017.08.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2017.10.13 수리 (Accepted) 9-1-2017-0034834-35
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2017.12.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0863655-74
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2018.02.08 수리 (Accepted) 1-1-2018-0141676-86
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2018.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2018-0208847-91
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2018.02.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2018-0208846-45
8 등록결정서
Decision to grant		 2018.07.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0461132-24
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
제1 방향으로 연장된 제1 플레이트; 상기 제1 플레이트와 제1 끝단은 서로 접촉하며, 상기 제1 플레이트와 제2 끝단은 소정 간격 이격되도록 연장되는 제2 플레이트; 및상기 제1 플레이트와 상기 제2 플레이트의 제2 끝단을 이격하는 스페이서를 포함하며, 측정의 대상이 되는 입자를 포함한 용액은 상기 제1 플레이트 및 상기 제2 플레이트 사이의 공간에 채워지고, 상기 제1 플레이트의 전체 길이, 상기 제1 플레이트 중 상기 입자가 채워지지 않는 공간의 길이, 및 상기 제1 플레이트와 상기 제2 플레이트 사이의 이격 간격을 바탕으로 상기 입자의 지름을 연산하고, 상기 측정 대상이 되는 입자가 광학현미경으로 관찰이 어려운 경우, 형광분자를 상기 측정 대상 입자에만 선택적으로 부착하여 상기 형광분자가 부착된 상기 입자 전체의 지름을 연산하고, 상기 스페이서의 길이를 변경하면서 상기 제1 및 제2 플레이트들의 이격 간격을 다르게 제어하여 상기 입자의 지름을 반복적으로 측정하고, 상기 측정된 입자의 지름의 평균값으로 입자의 크기를 도출하는 것을 특징으로 하는 입자 크기 측정 시스템
2 2
제1항에 있어서, 상기 제1 및 제2 플레이트들 사이의 이격 간격을 H, 상기 제1 플레이트의 전체 길이를 L, 상기 제1 플레이트 중 상기 입자가 채워지지 않은 공간의 길이를 X라고하면, 상기 입자의 지름 R은,으로 연산되는 것을 특징으로 하는 입자 크기 측정 시스템
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
제1 플레이트와 제2 플레이트의 제1 끝단은 서로 접촉시키고, 제2 끝단은 스페이서를 통해 소정 간격으로 이격하도록 위치시키는 단계;상기 제1 플레이트와 상기 제2 플레이트 사이의 공간에 측정의 대상이 되는 입자를 포함한 용액을 채우는 단계;상기 입자가 상기 공간 내에서 고르게 분포하도록 시간을 경과시키는 단계; 및상기 제1 플레이트의 전체 길이, 상기 제1 플레이트 중 상기 입자가 채워지지 않는 공간의 길이, 및 상기 제1 플레이트와 상기 제2 플레이트 사이의 이격 간격을 바탕으로 상기 입자의 지름을 연산하는 단계를 포함하고, 상기 측정 대상이 되는 입자가 광학현미경으로 관찰이 어려운 경우, 형광분자를 상기 측정 대상 입자에만 선택적으로 부착하여 상기 형광분자가 부착된 상기 입자 전체의 지름을 연산하고, 상기 스페이서의 길이를 변경하면서 상기 제1 및 제2 플레이트들의 이격 간격을 다르게 제어하여 상기 입자의 지름을 반복적으로 측정하고, 상기 측정된 입자의 지름의 평균값으로 입자의 크기를 도출하는 입자 크기 측정방법
7 7
삭제
8 8
삭제
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제6항에 있어서, 상기 입자의 지름을 연산하는 단계에서, 상기 제1 및 제2 플레이트들 사이의 이격 간격을 H, 상기 제1 플레이트의 전체 길이를 L, 상기 제1 플레이트 중 상기 입자가 채워지지 않은 공간의 길이를 X라고하면, 상기 입자의 지름 R은,으로 연산되는 것을 특징으로 하는 입자 크기 측정방법
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패밀리정보가 없습니다
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