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표면 형상 측정 장치(Suface shape measurement device)

  • 기술번호 : KST2018005069
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 표면 형상 측정 장치에 관한 것으로서, 레이저소스, 원뿔 형상의 옆면에 서로 나란히 위치한 환형의 돌출 패턴이 형성된 반사면을 가지고 반사면에 입사된 레이저를 면 타입 레이저로 반사하여 조사하는 원뿔형 반사체, 스캔 대상 물체에 조사된 면 타입 레이저의 반사광을 검출하기 위한 어레이 구조의 센서를 가지는 수광부, 및 수광된 반사광의 정보를 이용하여 스캔 대상 물체의 3차원 모델링 데이터를 생성하는 3차원 데이터 처리부를 포함하며, 이를 통해 레이저를 0도 내지 360도 범위의 면 타입 레이저로 확산하여 조사할 수 있고, 이를 이용해 스캔 대상 물체의 표면 형상에 대한 3차원 스캔을 효율적으로 진행할 수 있다.
Int. CL G01B 11/24 (2006.01.01) G01B 9/02 (2006.01.01) B23K 26/06 (2014.01.01)
CPC G01B 11/24(2013.01) G01B 11/24(2013.01) G01B 11/24(2013.01)
출원번호/일자 1020160139868 (2016.10.26)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0045946 (2018.05.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임용석 대한민국 서울특별시 구로구
2 박용주 대한민국 경기도 고양시 일산동구
3 임승옥 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박종한 대한민국 서울특별시 구로구 디지털로**길 * (구로동, 에이스하이엔드타워*차) ***호(한림특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.10.26 수리 (Accepted) 1-1-2016-1040502-14
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.10.27 수리 (Accepted) 1-1-2017-1064020-16
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2017.10.27 수리 (Accepted) 1-1-2017-1063361-91
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
레이저를 발광하는 레이저소스;원뿔 형상의 옆면에 서로 나란히 위치한 환형의 돌출 패턴이 형성된 반사면을 가지고, 상기 반사면에 입사된 상기 레이저를 면 타입 레이저로 반사하여 조사하는 원뿔형 반사체;상기 원뿔형 반사체로부터 스캔 대상 물체에 조사된 상기 면 타입 레이저의 반사광을 검출하기 위한 어레이 구조의 센서를 가지는 수광부; 및상기 수광부에서 수광한 상기 반사광의 정보를 이용하여 상기 스캔 대상 물체의 3차원 모델링 데이터를 생성하는 3차원 데이터 처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 표면 형상 측정 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 반사면에 형성된 돌출 패턴의 단면은, 상기 레이저를 반사하여 진행방향을 변경할 수 있도록 상기 반사면으로부터 돌출 형성된 삼각형, 사각형, 사다리꼴 또는 선의 형태를 갖는 것을 특징으로 하는 표면 형상 측정 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 반사면에 형성된 돌출 패턴의 간격은, 10㎛ ~ 0
4 4
제1항에 있어서,상기 반사면에 형성된 돌출 패턴은, 스테인레스, 알루미늄, 크롬 또는 은의 재질로 이루어진 광 반사물질이 코팅된 것을 특징으로 하는 표면 형상 측정 장치
5 5
레이저를 발광하는 레이저소스;원뿔 형상의 옆면에 서로 나란히 위치한 환형의 돌출 패턴이 형성된 반사면을 가지고, 상기 반사면에 입사된 상기 레이저를 면 타입 레이저로 반사하여 조사하는 원뿔형 반사체;상기 원뿔형 반사체로부터 스캔 대상 물체에 조사된 상기 면 타입 레이저의 반사광을 검출하기 위한 어레이 구조의 센서를 가지고, 상기 어레이 구조의 센서 방향으로 굽은 곡면 형태의 수광 반사면을 가지고 상기 수광 반사면에 입사된 상기 반사광을 반사하여 상기 어레이 구조의 센서로 조사하는 수광 곡률 반사경을 포함하는 수광부; 및상기 수광부에서 수광한 상기 반사광의 정보를 이용하여 상기 스캔 대상 물체의 3차원 모델링 데이터를 생성하는 3차원 데이터 처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 표면 형상 측정 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 3차원 데이터 처리부는,상기 수광 곡률 반사경에 의해 상기 반사광이 반사됨에 따라 발생하게 되는 왜곡을 보정하여 3차원 모델링 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 표면 형상 측정 장치
7 7
제5항에 있어서,상기 수광부는상기 반사광을 상기 어레이 구조의 센서로 조사하도록 상기 어레이 구조의 센서와 상기 수광 곡률 반사경 사이에 위치한 렌즈;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표면 형상 측정 장치
8 8
제5항에 있어서,상기 수광부는상기 어레이 구조의 센서로 입사되는 상기 반사광을 선택적으로 통과시키도록 상기 어레이 구조의 센서와 상기 수광 곡률 반사경 사이에 위치한 광 대역통과필터;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표면 형상 측정 장치
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패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 (주)유테크솔루션 스마트공장고도화기술개발 제조환경 적응형 데이터 수집/처리 시스템 개발 및 스마트공장 실증모델 구축