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스캔 셀(Scan Cell)들을 상기 스캔 셀들에 대한 테스트 신호 응답(reponse)에 기초하여 복수의 그룹들로 구분하는 그룹 설정부; 상기 그룹들 각각에 대한 X 마스킹 제어를 위한 컨트롤 신호(Control Signals)를 생성하는 컨트롤 신호 생성부; 및 상기 컨트롤 신호를 인코딩하여 인코딩된 컨트롤 신호(Encoded Control Signals)를 획득하는 인코더부를 포함하는X 마스킹 컨트롤 신호 생성장치
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제1항에 있어서, 상기 X 마스킹 컨트롤 신호 생성장치는, 외부 시험장치(Automatic Test Equipment)에 구비되는X 마스킹 컨트롤 신호 생성장치
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제1항에 있어서, 상기 컨트롤 신호는 unknown 값이 상기 스캔 셀의 마스킹 대상 열에 존재하는지 여부를 나타내는 인에이블(enable) 데이터와, 상기 복수의 그룹들 중 상기 마스킹 대상 열이 속하는 그룹에서 상기 unknown 값이 존재하는 스캔 체인 행을 나타내는 마스킹 데이터를 포함하는X 마스킹 컨트롤 신호 생성장치
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제1항에 있어서, 상기 복수의 그룹들 전체에 대한 컨트롤 신호의 총 bit수는 하기의 수학식 1에 의하여 결정되는[수학식 1]{컨트롤 신호의 총 bit 수 = (그룹의 개수 X 스캔 체인의 개수) + 스캔 체인의 길이}X 마스킹 컨트롤 신호 생성장치
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외부 장치로부터 마스킹 데이터와 인에이블(enable) 데이터를 포함하는 인코딩된 컨트롤 신호(Encoded Control Signals)를 수신하는 수신부; 상기 인코딩된 컨트롤 신호를 복호화 하여 컨트롤 신호(Control Signals)를 획득하는 디코더부; 상기 컨트롤 신호에 기초하여 마스킹 로직을 제어하는 마스킹 컨트롤러; 및상기 마스킹 컨트롤러의 제어에 기초하여 테스트 신호 응답(reponse)에 발생하는 X 값들을 제거하는 마스킹 로직을 포함하는피시험 장치(DUT)
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제5항에 있어서,상기 컨트롤 신호는 unknown 값이 스캔 셀의 마스킹 대상 열에 존재하는지 여부를 나타내는 인에이블(enable) 데이터와, 복수의 스캔 셀 그룹들 중 상기 마스킹 대상 열이 속하는 그룹에서 상기 unknown 값이 존재하는 스캔 체인 행을 나타내는 마스킹 데이터를 포함하는피시험 장치(DUT)
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제5항에 있어서, 상기 컨트롤 신호의 총 bit수는 하기의 수학식 1에 의하여 결정되는 [수학식 1]{컨트롤 신호의 총 bit 수 = (그룹의 개수 X 스캔 체인의 개수) + 스캔 체인의 길이}피시험 장치(DUT)
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스캔 셀(Scan Cell)들을 상기 스캔 셀들에 대한 테스트 신호 응답(reponse)에 기초하여 복수의 그룹들로 구분하는 스캔 셀 그룹 구분 단계; 상기 그룹들 각각에 대한 X 마스킹 제어를 위한 컨트롤 신호(Control Signals)를 생성하는 컨트롤 신호 생성 단계; 및상기 컨트롤 신호를 인코딩하여 인코딩된 컨트롤 신호(Encoded Control Signals)를 획득하는 컨트롤 신호 인코딩 단계를 포함하는X 마스킹 컨트롤 신호 생성 방법
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제8항에 있어서, 상기 컨트롤 신호는 unknown 값이 상기 스캔 셀의 마스킹 대상 열에 존재하는지 여부를 나타내는 인에이블(enable) 데이터와, 상기 복수의 그룹들 중 상기 마스킹 대상 열이 속하는 그룹에서 상기 unknown 값이 존재하는 스캔 체인 행을 나타내는 마스킹 데이터를 포함하는 X 마스킹 컨트롤 신호 생성 방법
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제8항에 있어서, 상기 복수의 그룹들 전체에 대한 컨트롤 신호의 총 bit수는 하기의 수학식 1에 의하여 결정되는[수학식 1]{컨트롤 신호의 총 bit 수 = (그룹의 개수 X 스캔 체인의 개수) + 스캔 체인의 길이}X 마스킹 컨트롤 신호 생성 방법
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