| 1 |
1
고장 로그(fail log) 정보에 기초하여 비정상 출력을 제공하는 제1 스캔 셀을 결정하는 고장 진단부; 및상기 결정된 제1 스캔 셀로부터 적어도 하나 이상의 논리 게이트들을 통하여 상기 제1 스캔 셀에 입력을 제공하는 제2 스캔 셀까지 확률 행렬을 계산하는 계산부를 포함하고,상기 고장 진단부는, 상기 계산된 확률 행렬을 이용하여 상기 제2 스캔셀을 포함하는 스캔 체인의 고장을 진단하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 장치
|
| 2 |
2
제1항에 있어서,상기 계산부는,상기 제1 스캔 셀의 출력과 상기 적어도 하나 이상의 논리 게이트들 중 상기 제1 스캔 셀에 연결된 제1 논리 게이트로부터의 입력에 기초하여 제1 확률 행렬을 계산하고,상기 제1 논리 게이트의 출력과 상기 적어도 하나 이상의 논리 게이트들 중 상기 제1 논리 게이트에 연결된 제2 논리 게이트로부터의 입력에 기초하여 제2 확률 행렬을 계산하며,상기 제2 논리 게이트의 출력과 상기 제2 논리 게이트에 연결된 상기 제2 스캔 셀로부터의 입력에 기초하여 제3 확률 행렬을 계산하고,상기 제1 확률 행렬, 상기 제2 확률 행렬 및 상기 제3 확률 행렬에 대하여 순차적으로 행렬 곱셈 연산을 수행하여 제4 확률 행렬을 계산하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 장치
|
| 3 |
3
제2항에 있어서,상기 고장 진단부는,상기 제4 확률 행렬에 기초하여 상기 제2 스캔 셀로부터 상기 제1 스캔 셀로의 입력에 대한 고장 여부를 판단하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 장치
|
| 4 |
4
제3항에 있어서,상기 고장 진단부는,상기 제4 확률 행렬에서의 확률 값이 기준 값보다 클 경우, 상기 제2 스캔 셀을 고장 스캔 셀로서 판단하고,상기 제4 확률 행렬에서의 확률 값이 상기 기준 값보다 작을 경우, 상기 제2 스캔 셀을 정상 스캔 셀로서 판단하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 장치
|
| 5 |
5
제2항에 있어서,상기 계산부는,상기 제1 확률 행렬의 성분(entry)들을 상기 제1 스캔 셀의 출력 및 상기 제1 논리 게이트로부터의 입력에 기초하여 계산하고,상기 제2 확률 행렬의 성분(entry)들을 상기 제1 논리 게이트의 출력 및 상기 제2 논리 게이트로부터의 입력에 기초하여 계산하며,상기 제3 확률 행렬의 성분(entry)들을 상기 제2 논리 게이트의 출력 및 상기 제2 스캔 셀로부터의 입력에 기초하여 계산하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 장치
|
| 6 |
6
제1항에 있어서,상기 고장 진단부는,상기 고장 로그(fail log) 정보와 정상 테스트 정보를 비교하여 상기 제1 스캔 셀이 상기 비정상 출력을 제공하는지 여부를 판단하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 장치
|
| 7 |
7
제6항에 있어서,상기 고장 진단부는,상기 고장 로그(fail log) 정보에 포함되는 제1 출력 정보와 상기 정상 테스트 정보에 포함되는 제2 출력 정보를 비교하여, 상기 제1 출력 정보와 상기 제2 출력 정보 간에 불일치 되는 출력을 제공하는 스캔 셀을 상기 제1 스캔 셀로 결정하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 장치
|
| 8 |
8
제1항에 있어서,상기 계산부는,상기 적어도 하나 이상의 논리 게이트들을 통하여 상기 제1 스캔 셀로부터 상기 제2 스캔 셀까지 역추적(backtracking)하여 상기 확률 행렬을 계산하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 장치
|
| 9 |
9
제1항에 있어서,상기 계산부는,상기 계산된 확률 행렬에 기초하여 상기 제2 스캔 셀로부터 상기 제1 스캔 셀로의 입력에 대한 고장 확률을 계산하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 장치
|
| 10 |
10
고장 진단부에서, 고장 로그(fail log) 정보에 기초하여 비정상 출력을 제공하는 제1 스캔 셀을 결정하는 단계; 및계산부에서, 상기 결정된 제1 스캔 셀로부터 적어도 하나 이상의 논리 게이트들을 통하여 상기 제1 스캔 셀에 입력을 제공하는 제2 스캔 셀까지 확률 행렬을 계산하는 단계; 및상기 고장 진단부에서, 상기 계산된 확률 행렬을 이용하여 상기 제2 스캔셀을 포함하는 스캔 체인의 고장을 진단하는 단계를 포함하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 방법
|
| 11 |
11
제10항에 있어서,상기 확률 행렬을 계산하는 단계는,상기 계산부에서, 상기 제1 스캔 셀의 출력과 상기 적어도 하나 이상의 논리 게이트들 중 상기 제1 스캔 셀에 연결된 제1 논리 게이트로부터의 입력에 기초하여 제1 확률 행렬을 계산하는 단계;상기 계산부에서, 상기 제1 논리 게이트의 출력과 상기 적어도 하나 이상의 논리 게이트들 중 상기 제1 논리 게이트에 연결된 제2 논리 게이트로부터의 입력에 기초하여 제2 확률 행렬을 계산하는 단계;상기 계산부에서, 상기 제2 논리 게이트의 출력과 상기 제2 논리 게이트에 연결된 상기 제2 스캔 셀로부터의 입력에 기초하여 제3 확률 행렬을 계산하는 단계; 및상기 계산부에서, 상기 제1 확률 행렬, 상기 제2 확률 행렬 및 상기 제3 확률 행렬에 대하여 순차적으로 행렬 곱셈 연산을 수행하여 제4 확률 행렬을 계산하는 단계를 포함하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 방법
|
| 12 |
12
제11항에 있어서,상기 스캔 체인의 고장을 진단하는 단계는,상기 고장 진단부에서, 상기 제4 확률 행렬에 기초하여 상기 제2 스캔 셀로부터의 입력에 대한 고장 여부를 판단하는 단계를 포함하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 방법
|
| 13 |
13
제10항에 있어서,상기 제1 스캔 셀을 결정하는 단계는,상기 고장 진단부에서, 상기 고장 로그(fail log) 정보와 정상 테스트 정보를 비교하여 상기 제1 스캔 셀이 상기 비정상 출력을 제공하는지 여부를 판단하는 단계를 포함하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 방법
|
| 14 |
14
제11항에 있어서,상기 확률 행렬을 계산하는 단계는,상기 계산부에서, 상기 적어도 하나 이상의 논리 게이트들을 통하여 상기 제1 스캔 셀로부터 상기 제2 스캔 셀까지 역추적(backtracking)하여 상기 확률 행렬을 계산하는 단계를 포함하는스캔 체인의 고장을 진단하는 고장 진단 방법
|
