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메타트로닉 회로 구조체 및 그 제조 방법

  • 기술번호 : KST2018011885
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 메타트로닉 회로 구조체는 기판, 기판 상에서, 제1 방향으로 배열되는 제1 광 구조체들, 제1 광 구조체들 사이에 각각 배치되는 제2 광 구조체들, 및 제1 광 구조체들 상에 각각 제공되는 제3 광 구조체들을 포함하되, 제2 및 제3 광 구조체들의 각각은 유전율의 실수부가 음수인 물질을 포함하되, 제1 내지 제3 광 구조체들의 각각의 두께는 적외선 영역의 파장 이하이고 0보다 큰 값을 갖고, 제1 내지 제3 광 구조체들의 각각의 폭은 적외선 영역의 파장 이하이고 0보다 큰 값을 갖는다.
Int. CL G02B 1/00 (2006.01.01) B82B 3/00 (2017.01.01) G02B 6/132 (2006.01.01) B82Y 40/00 (2017.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020170114104 (2017.09.06)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2018-0097116 (2018.08.30) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020170023124   |   2017.02.21
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 19

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍성훈 대한민국 대전광역시 유성구
2 김미현 대한민국 대전광역시 동구
3 양용석 대한민국 대전광역시 유성구
4 유인규 대한민국 충청남도 공주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 고려 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2017.09.06 수리 (Accepted) 1-1-2017-0867128-71
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번호 청구항
1 1
기판;상기 기판 상에서, 제1 방향으로 배열되는 제1 광 구조체들;상기 제1 광 구조체들 사이에 각각 배치되는 제2 광 구조체들; 및상기 제1 광 구조체들 상에 각각 제공되는 제3 광 구조체들을 포함하되,상기 제2 및 제3 광 구조체들의 각각은 유전율의 실수부가 음수인 물질을 포함하되,상기 제1 내지 제3 광 구조체들의 각각의 두께는 적외선 영역의 파장 이하이고 0보다 큰 값을 갖고,상기 제1 내지 제3 광 구조체들의 각각의 폭은 상기 적외선 영역의 파장 이하이고 0보다 큰 값을 갖는 메타트로닉 회로 구조체
2 2
제 1 항에 있어서,상기 제2 광 구조체들의 각각의 두께는 제1 광 구조체들의 각각의 두께보다 작은 메타트로닉 회로 구조체
3 3
제 1 항에 있어서,상기 제2 광 구조체들의 각각의 상면은 상기 제1 광 구조체들의 각각의 상면보다 낮은 준위에 배치되는 메타트로닉 회로 구조체
4 4
제 1 항에 있어서,제2 광 구조체들의 각각의 두께와 제3 광 구조체들의 각각의 두께는 서로 동일한 메타트로닉 회로 구조체
5 5
제 1 항에 있어서,제2 광 구조체들은 각각 서로 다른 폭들을 갖는 메타트로닉 회로 구조체
6 6
제 1 항에 있어서,제2 광 구조체들은 각각 서로 다른 두께들을 갖는 메타트로닉 회로 구조체
7 7
제 1 항에 있어서,상기 제1 광 구조체들은 유전율의 실수부가 양수인 물질을 포함하는 메타트로닉 회로 구조체
8 8
제 7 항에 있어서,상기 제1 광 구조체들은 SiO2 및 TiO2 중 선택된 적어도 하나를 포함하는 메타트로닉 회로 구조체
9 9
제 1 항에 있어서,상기 제1 광 구조체들은 상변화 물질을 포함하되,상기 제1 광 구조체들은 상기 상변화 물질의 상에 따라 변하는 유전율을 갖는 메타트로닉 회로 구조체
10 10
제 9 항에 있어서,제1 광 구조체들은 VO2 또는 GeSbTe를 포함하는 메타트로닉 회로 구조체
11 11
제 1 항에 있어서,제2 및 제3 광 구조체들은 은(Ag), 알루미늄(Al), 금(Au), 백금(Pt), 인듐-주석-산화물(Indium-Tin-Oxide, ITO), 및 알루미늄 도핑된 산화아연(Al-doped ZnO, AZO)에서 선택된 적어도 하나를 포함하는 메타트로닉 회로 구조체
12 12
제 1 항에 있어서,상기 제2 및 제3 광 구조체들의 각각은 차례로 적층된 제1 막, 제2 막, 및 제3 막을 포함하되,상기 제1 및 제3 막들은 유전율의 실수부가 음수인 물질을 포함하고,상기 제2 막은 유전율의 실수부가 양수인 물질을 포함하는 메타트로닉 회로 구조체
13 13
제 1 항에 있어서,상기 제2 광 구조체들과 상기 기판의 상면 사이에 개재되는 연결막을 더 포함하되,상기 연결막은 유전율의 실수부가 양수인 물질을 포함하고,상기 제1 광 구조체들과 상기 연결막은 단일 구조체인 메타트로닉 회로 구조체
14 14
제 13 항에 있어서,상기 제1 광 구조체들과 상기 연결막은 동일한 물질을 포함하는 메타트로닉 회로 구조체
15 15
기판 상에 예비 광 구조체 막을 형성하는 것;상기 예비 광 구조체 막을 패터닝하여 제1 광 구조체들을 형성하는 것; 상기 제1 광 구조체들 사이에 제2 광 구조체들을 각각 형성하는 것; 및상기 제1 광 구조체들 상에 제3 광 구조체들을 각각 형성하는 것을 포함하되,상기 예비 광 구조체 막 및 상기 제1 광 구조체들은 유전율(permittivity)의 실수부가 양수인 물질을 포함하고,상기 제2 광 구조체들 상기 제3 광 구조체들은 유전율의 실수부가 음수인 물질을 포함하며,상기 제1 내지 제3 광 구조체들의 각각의 두께는, 적외선 영역의 파장 이하이고 0보다 큰 값을 갖고,상기 제1 내지 제3 광 구조체들의 각각의 폭은 상기 적외선 영역의 파장 이하이고 0보다 큰 값을 갖는 메타트로닉 회로 구조체 제조 방법
16 16
제 15 항에 있어서,상기 예비 광 구조체 막을 패터닝하는 것은, 상기 예비 광 구조체 막의 하부를 남기는 것을 포함하는 메타트로닉 회로 구조체 제조 방법
17 17
제 15 항에 있어서,상기 예비 광 구조체 막을 패터닝하는 것은, 상기 예비 광 구조체 막의 일부를 제거하여 상기 기판의 상면을 노출하는 것을 포함하는 메타트로닉 회로 구조체 제조 방법
18 18
제 15 항에 있어서,상기 예비 광 구조체 막을 패터닝하는 것은, 나노 임프린팅(nano imprinting) 공정을 수행하는 것에 의해 상기 예비 광 구조체 막의 일부를 제거하는 것을 포함하는 메타트로닉 회로 구조체 제조 방법
19 19
제 15 항에 있어서,상기 제2 광 구조체들을 형성하는 것 및 상기 제3 광 구조체들을 형성하는 것은 전자빔 증착 공정을 수행하는 것을 포함하는 메타트로닉 회로 구조체 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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