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타원해석기

  • 기술번호 : KST2019003749
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 타원해석기는, 기준시편이 장착되는 기준시편 장착대; 기준시편 장착대의 일단에 마련되며, 선편광된 광을 발생시켜 기준시편에 입사시키는 광원부; 일단이 기준시편 장착대의 타단에 결합되며, 측정시편이 장착되는 측정시편 장착대; 및 측정시편 장착대의 타단에 마련되며, 측정시편에서 반사되는 광의 영상을 획득하는 광영상부; 를 포함할 수 있다. 이와 같은 타원해석기에 의하면, 편광발생기나 편광분석기 등과 같은 광부품의 회전없이 1회 측정을 진행하므로, 측정시간이 매우 짧아진다. 또한, 편광발생기 및 편광분석기가 서로 수직으로 고정되어 있고, 기준시편도 항상 고정 장착되어 있어 광부품과 시편의 정렬에 따른 정렬오차를 감소시킬 수 있다. 또한, 기준시편과 측정시편을 함께 장착하여 비교 측정하므로, 측정시점 차이에 따른 장비상태의 차이나 장비 사용자가 다름에 따라 발생하는 운용오차 등을 감소시킬 수 있다. 또한, Δ, Ψ를 산출할 필요 없이, 출력되는 밝기 영상을 확인함으로써 측정시편의 불량여부 또는 불량위치 등을 즉각 인지할 수 있다. 또한, 회전편광자 타원해석기의 구성을 포함하고 있으므로, 편광발생기의 회전을 통해 불량선별 외에도 불량의 원인 등을 분석하는데 이용될 수 있다.
Int. CL G01N 21/21 (2006.01.01) G01J 4/04 (2006.01.01) G01N 21/17 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020190045063 (2019.04.17)
출원인 한양대학교 에리카산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0042536 (2019.04.24) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자 10-2017-0064546 (2017.05.25)
관련 출원번호 1020170064546
심사청구여부/일자 Y (2019.04.17)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 대한민국 경기도 안산시 상록구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안일신 경기도 안산시 상록구
2 박성모 부산광역시 사상구
3 김슬기 경기도 수원시 팔달구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 홍성욱 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***(역삼동) 동아빌딩 *층(주식회사에스와이피)
2 심경식 대한민국 서울시 강남구 역삼로 *** 동아빌딩 *층(에스와이피특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 경기도 안산시 상록구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2019.04.17 수리 (Accepted) 1-1-2019-0395956-34
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.04.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0300328-24
3 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.06.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0654007-95
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.06.26 수리 (Accepted) 1-1-2019-0654006-49
5 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2019.09.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0684356-08
6 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2019.10.17 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2019-1062058-62
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2019.10.17 수리 (Accepted) 1-1-2019-1062057-16
8 등록결정서
Decision to Grant Registration
2019.10.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0775377-68
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번호 청구항
1 1
기준시편이 장착되는 기준시편 장착대;상기 기준시편 장착대의 일단에 마련되며, 선편광된 광을 발생시켜 상기 기준시편에 입사시키는 광원부;일단이 상기 기준시편 장착대의 타단에 결합되며, 측정시편이 장착되는 측정시편 장착대;상기 측정시편 장착대의 타단에 마련되며, 상기 측정시편에서 반사되는 광의 영상을 획득하는 광영상부;상기 측정시편 장착대의 일단에 회전 가능하게 마련되어, 상기 측정시편 장착대의 일단을 상기 기준시편 장착대의 타단에 회전 결합시키는 회전결합기; 및 상기 기준시편 및 측정시편 사이의 광 경로상에 마련되어, 상기 기준시편에서 반사되는 광의 편광방향을 90° 회전시킴으로써 상기 기준시편에서 반사되는 p파와 s파의 방향을 서로 바꾸어 상기 측정시편으로 입사시키는 편광회전기를 포함하되, 상기 회전결합기의 회전에 의해, 상기 측정시편 장착대와 상기 기준시편 장착대는 소정의 기울기를 형성하는 것을 특징으로 하며,상기 측정시편에 입사하는 광의 입사각은, 70도 전후의 각도로 채택되며, 상기 회전결합기의 회전에 의해 상기 기준시편에 입사하는 광의 입사각과 동일하게 형성되고,상기 영상은 상기 기준시편과 상기 측정시편의 광특성이 동일한지 여부를 보여주되, 상기 기준시편과 상기 측정시편의 광특성이 동일한 경우 블랙 영상이고, 상기 기준시편과 상기 측정시편의 광특성이 일부 또는 전체 영역에서 차이가 나는 경우 블랙 영상 중 일부 또는 전부가 밝아지는 영상인 것을 특징으로 하되,상기 광원부는 백색광원으로 마련되는 광원;상기 광원으로부터 조사된 백색광을 통과시켜 단색광을 선택하는 분광기; 및마그네슘 플루라이드로 이루어져 입사된 광을 선편광시키는 편광발생기;를 포함하고,상기 광영상부는마그네슘 플루라이드로 이루어져, 상기 측정시편에서 반사되는 광을 수광하고, 기준시편 및 측정시편에 의한 편광상태의 변화를 분석하는 편광분석기; 및줌렌즈를 통과한 편광성분으로부터 기준시편 및 측정시편에 의한 편광상태의 변화를 영상화하는 검출기;를 포함하는 타원해석기
2 2
제 1 항에 있어서,상기 기준시편에서 반사되는 광은,상기 측정시편에 입사하는 광을 형성하는 타원해석기
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 측정시편에 입사하는 광의 입사각은, 상기 기준시편에 입사하는 광의 입사각과 동일하게 형성되는 타원해석기
4 4
삭제
5 5
제 1 항에 있어서,상기 측정시편 장착대는, 상기 측정시편이 장착되며, 수평방향으로 이동 가능하게 마련되는 이동 스테이지를 포함하고, 상기 측정시편은, 상기 기준시편에서 반사되는 광이 상기 측정시편에 입사하도록 상기 이동 스테이지의 이동에 의해 위치가 조절되는 타원해석기
6 6
제 1 항에 있어서,상기 광영상부는,상기 기준시편 및 측정시편에 의한 편광상태의 변화를 밝기 영상으로 획득하는 타원해석기
7 7
제 1 항에 있어서,상기 기준시편 장착대, 광원부, 측정시편 장착대, 및 광영상부는, 동일 평면상에 배치되는 타원해석기
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 KR1020180129078 KR 대한민국 FAMILY

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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한양대학교 에리카 산학협력단 산업기술혁신사업 / 산업핵심기술개발사업 / 전자정보디바이스산업원천기술개발사업(RCMS) Lithography 공정에서 박막 및 표면을 고해상도 (100μm x100μm이하) 로 검사할 수 있는 in-line ellipsometry 기술 개발