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다중채널 분광타원해석기

  • 기술번호 : KST2014037883
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 넓은 영역의 파장을 동시에 이용하여 시편의 특성을 측정할 수 있도록 구조가 개선된 다중채널 분광타원해석기에 관한 것이다. 본 발명에 따른 다중채널 분광타원해석기는 시편이 장착되는 스테이지의 상방에 배치되며, 입사된 광을 진동방향이 서로 수직인 두 개의 편광으로 분리하는 편광발생기와, 편광발생기를 향하여 제1광을 조사하되, 편광발생기를 투과하면서 분리되는 두 개의 편광 중 편광발생기를 직진하여 투과하는 제1편광이 시편에 조사되도록 제1광을 조사하는 제1광원과, 편광발생기를 향하여 제2광을 조사하되, 편광발생기를 투과하면서 분리되는 두 개의 편광 중 편광발생기를 굴절하면서 투과하는 제2편광이 제1편광과 동일한 방향으로 진행하여 시편에 조사되도록 제2광을 조사하는 제2광원과, 시편에서 반사되면서 편광상태가 변화된 제1편광 및 제2편광이 입사되며, 입사된 제1편광 및 제2편광을 진동방향이 서로 수직인 두 개의 편광으로 분리하는 편광분석기와, 편광분석기에서 분리된 편광이 입사되며, 입사된 편광을 파장 별로 분광시키는 분광부와, 분광부에서 파장 별로 분광된 편광의 광량을 측정하는 다중채널 검출부를 포함한다. 다중채널, 편광발생기, 분리각, 편광, 편광상태
Int. CL G01J 4/04 (2006.01.01) G01N 21/21 (2006.01.01) G01J 1/44 (2006.01.01) G01J 3/02 (2006.01.01)
CPC G01J 4/04(2013.01) G01J 4/04(2013.01) G01J 4/04(2013.01) G01J 4/04(2013.01)
출원번호/일자 1020090056524 (2009.06.24)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1008376-0000 (2011.01.07)
공개번호/일자 10-2010-0138136 (2010.12.31) 문서열기
공고번호/일자 (20110113) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 발송
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.06.24)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 안일신 대한민국 경기 안산시 상록구
2 이상육 대한민국 경북 경주시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 임승섭 대한민국 서울특별시 종로구 율곡로*길 *(수송동, 로얄팰리스스위트) ***호(특허법인임앤정)
2 송경근 대한민국 서울특별시 서초구 서초대로**길 ** (방배동) 기산빌딩 *층(엠앤케이홀딩스주식회사)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 경기도 안산시 상록구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.06.24 수리 (Accepted) 1-1-2009-0383568-51
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.07.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.08.17 수리 (Accepted) 9-1-2010-0053176-38
4 등록결정서
Decision to grant
2011.01.05 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0008965-28
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
시편이 장착되는 스테이지의 상방에 배치되며, 입사된 광을 진동방향이 서로 수직인 두 개의 편광으로 분리하는 편광발생기; 상기 편광발생기를 향하여 제1광을 조사하되, 상기 편광발생기를 투과하면서 분리되는 두 개의 편광 중 상기 편광발생기를 직진하여 투과하는 제1편광이 상기 시편에 조사되도록 상기 제1광을 조사하는 제1광원; 상기 편광발생기를 향하여 제2광을 조사하되, 상기 편광발생기를 투과하면서 분리되는 두 개의 편광 중 상기 편광발생기를 굴절하면서 투과하는 제2편광이 상기 제1편광과 동일한 방향으로 진행하여 상기 시편에 조사되도록 상기 제2광을 조사하는 제2광원; 상기 시편에서 반사되면서 편광상태가 변화된 제1편광 및 제2편광이 입사되며, 상기 입사된 제1편광 및 제2편광을 진동방향이 서로 수직인 두 개의 편광으로 분리하는 편광분석기; 상기 편광분석기에서 분리된 편광이 입사되며, 상기 입사된 편광을 파장 별로 분광시키는 분광부; 및 상기 분광부에서 파장 별로 분광된 편광의 광량을 측정하는 다중채널 검출부;를 포함하는 하는 다중채널 분광타원해석기
2 2
제1항에 있어서, 상기 분광부는, 상기 편광분석기에서 분리된 두 개의 편광 중 상기 편광분석기를 직진하여 투과하는 편광이 입사되며, 상기 입사된 편광을 파장 별로 분광시키는 제1분광기; 및 상기 편광분석기에서 분리된 두 개의 편광 중 상기 편광분석기를 굴절하면서 투과하는 편광이 입사되며, 상기 입사된 편광을 파장 별로 분광시키는 제2분광기;를 포함하며, 상기 다중채널 검출부는, 상기 제1분광기에서 파장 별로 분광된 편광의 광량을 측정하는 제1다중채널 검출기; 및 상기 제2분광기에서 파장 별로 분광된 편광의 광량을 측정하는 제2다중채널 검출기;를 포함하는 다중채널 분광타원해석기
3 3
제1항에 있어서, 상기 제1광 및 상기 제2광의 진행방향 상 상기 편광발생기와 상기 편광분석기 사이에 회전가능하게 배치되며, 입사된 광의 편광상태를 변화시키는 보상기;를 더 포함하는 다중채널 분광타원해석기
4 4
제1항에 있어서, 상기 편광발생기에는, 상기 제1광이 수직으로 입사되는 제1입사면과, 상기 제2광이 수직으로 입사되는 제2입사면이 형성되어 있으며, 상기 편광분석기에는, 상기 편광분석기에서 분리된 두 개의 편광 중 상기 편광분석기를 직진하여 투과하는 편광과 직교하는 제1투과면과, 상기 편광분석기에서 분리된 두 개의 편광 중 상기 편광분석기를 굴절하면서 투과하는 편광과 직교하는 제2투과면이 형성되어 있는 다중채널 분광타원해석기
5 5
제1항에 있어서, 상기 제1광원과 상기 제2광원은 조사되는 광의 파장 영역이 서로 상이한 다중채널 분광타원해석기
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부(산자부) 지식경제부(산자부)(한국반도체연구조합) 기술개발사업(산업기술개발사업) High-k 유전막 증착 in-situ 및 실시간 모니터링용 진공자외선 분광 엘립소미터 개발