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광 신호를 조사하는 송신부;상기 광 신호를 평행광으로 변환시키는 제1 렌즈부;상기 변환된 광 신호의 방향을 조절하는 반사부;상기 반사부의 반사 각도의 변동에도 상기 조절된 광 신호가 동일 초점면을 가지도록 하는 제2 렌즈부;상기 제2 렌즈부를 통과한 광 신호를 평행광으로 변환하는 제3 렌즈부; 상기 제3 렌즈부를 통과한 광 신호는 피사체로부터 반사되고, 반사된 광 신호가 통과하는 제4 렌즈부; 및상기 제4 렌즈부를 통과한 광 신호를 수신하는 수신부;를 포함하고,상기 제3 렌즈부와 상기 제4 렌즈부는 제2 방향으로 동일 선상에 위치하고,제1 방향은 상기 제3 렌즈부에서 상기 피사체를 향한 방향이고,상기 제2 방향은 상기 제1 방향과 수직한 방향인 라이다 장치
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제1항에 있어서,상기 광 신호는,상기 제1 렌즈부와 상기 제2 렌즈부 사이, 상기 제3 렌즈부와 상기 피사체 사이 및 상기 피사체와 상기 제4 렌즈부에서 평행광인 라이다 장치
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제1항에 있어서,상기 수신부는,상기 제4 렌즈부를 통과한 광 신호를 수신하는 채널부; 및 상기 채널부에서 수신한 광 신호를 이용하여 상기 피사체 사이의 거리를 연산하는 조작부를 포함하는 라이다 장치
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제6항에 있어서상기 채널부는 상기 동일 초점면에 위치하는 라이다 장치
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제6항에 있어서,상기 채널부는 복수의 수광 소자를 포함하는 복수 개의 채널을 포함하는 라이다 장치
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제8항에 있어서,상기 조작부는,상기 반사부의 상기 반사 각도에 대응하는 상기 복수 개의 채널을 선택하여 상기 제4 렌즈부를 통과한 광신호를 수신하는 라이다 장치
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제1항에 있어서,상기 동일 초점면에 위치하는 위치하는 초점부;를 더 포함하는 라이다 장치
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제1항에 있어서,상기 반사부는 틸팅 각도를 조절하여 광학 수차를 보상하는 라이다 장치
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제1항에 있어서,상기 반사부는 MEMS(Micro Electro Mechanical system) 미러를 포함하는 라이다 장치
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복수 개의 영역을 스캐닝하는 라이다 장치를 포함하고,상기 라이다 장치는,광 신호를 조사하는 송신부;상기 광 신호를 평행광으로 변환시키는 제1 렌즈부;상기 변환된 광 신호의 방향을 조절하는 반사부;상기 반사부의 반사 각도의 변동에도 상기 조절된 광 신호가 동일 초점면을 가지도록 하는 제2 렌즈부;상기 제2 렌즈부를 통과한 광 신호를 평행광으로 변환하는 제3 렌즈부; 상기 제3 렌즈부를 통과한 광 신호는 피사체로부터 반사되고, 반사된 광 신호가 통과하는 제4 렌즈부; 및상기 제4 렌즈부를 통과한 광 신호를 수신하는 수신부;를 포함하고,상기 제3 렌즈부와 상기 제4 렌즈부는 제2 방향으로 동일 선상에 위치하고,제1 방향은 상기 제3 렌즈부에서 상기 피사체를 향한 방향이고,상기 제2 방향은 상기 제1 방향과 수직한 방향인 라이다 시스템
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