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광원으로부터 수신되는 광의 방향을 변경하여 피사체에 조사하는 발광부;상기 발광부와 독립적인 광학계로 이루어지며, 상기 피사체에 의해 반사되는 광을 수신하는 수광부; 및상기 수광부에 의해 수신되는 광을 신호처리하여 상기 피사체의 물성을 분석하는 신호처리부를 포함하며,상기 발광부는,상기 광원으로부터 수신되는 광을 설정된 범위의 각도로 틸팅(tilting)하여 반사하는 제1반사거울;상기 제1반사거울로부터 수신되는 광을 동일한 초점을 갖는 평행광으로 변환하는 제1평행광 변환렌즈; 및일방으로 볼록한 포물곡면으로 이루어지며, 상기 제1평행광 변환렌즈에 의해 변환된 평행광의 접촉지점과 상기 포물곡면의 초점에 대응하는 방향으로 광을 반사하는 곡면거울을 포함하고,상기 수광부는,측방향을 향하여 복수로 설치되며, 상기 피사체로부터 반사되는 광을 수신하는 광각렌즈;상기 광각렌즈에 의해 수신되는 광을 굴절시키는 제2평행광 변환렌즈;상기 제2평행광 변환렌즈에 의해 굴절되는 광을 설정된 범위 내에서 틸팅하여 반사하는 제2반사거울; 및복수의 채널을 구비하는 다채널 검출기를 포함하며,상기 곡면거울은 동일한 초점을 가지며, 상기 제1평행광 변환렌즈를 통해 수신되는 광을, 해당 광의 접촉지점과 상기 포물곡면의 초점을 연결하는 직선의 방향으로 반사하고,상기 광각렌즈는,상기 피사체로부터 반사되는 광을 수신하여 특정 초점의 방향으로 전달하는 광각 렌즈군;상기 광각 렌즈군을 통해 수신되는 광의 수신각도에 따라 설정된 방향의 광으로 굴절시키는 굴절 렌즈군; 및상기 굴절 렌즈군에 의해 굴절되는 광에 따라 설정된 변위의 초점을 형성하는 초점렌즈;를 포함하며,상기 제2평행광 변환렌즈는 상기 초점렌즈로부터 수신되는 광이 동일한 초점을 향하도록 상기 제2반사거울의 방향으로 굴절시키고,상기 신호처리부는 상기 피사체에 대한 광의 스캔각도 별로 수신되는 광을 상기 다채널 검출기의 각각의 채널에 할당하는 것을 특징으로 하는 전방위 무회전 스캐닝 라이다 시스템
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제1항에 있어서, 상기 제1반사거울 및 상기 제2반사거울은 MEMS(Micro Electro Mechanical System) 미러를 포함하는 것을 특징으로 하는 전방위 무회전 스캐닝 라이다 시스템
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제1항에 있어서,상기 신호처리부는 상기 다채널 검출기에 의해 검출되는 광을 멀티플렉싱(multiplexing)하여 비행시간을 측정하는 것을 특징으로 하는 전방위 무회전 스캐닝 라이다 시스템
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제1항 또는 제3항에 있어서,상기 제1반사거울 및 상기 제2반사거울은 기준면에 대하여 +-20도의 범위 내의 각도로 틸팅하여 광을 반사하는 것을 특징으로 하는 전방위 무회전 스캐닝 라이다 시스템
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제1항에 있어서,상기 수광부는 복수로 설치되는 것을 특징으로 하는 전방위 무회전 스캐닝 라이다 시스템
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광원으로부터 수신되는 광의 방향을 변경하여 피사체에 조사하는 발광부;상기 피사체에 의해 반사되는 광을 수신하는 수광부; 및상기 수광부에 의해 수신되는 광을 신호처리하여 상기 피사체의 물성을 분석하는 신호처리부를 포함하며,상기 발광부는,상기 광원으로부터 수신되는 광을 설정된 범위의 각도로 틸팅하여 반사하는 반사거울;일방으로 볼록한 포물곡면으로 이루어지며, 상기 반사거울에 의해 반사된 광의 접촉지점과 상기 포물곡면의 초점에 대응하는 측방향으로 광을 반사하는 곡면거울; 및상기 반사거울과 상기 곡면거울의 사이에 설치되며, 상기 반사거울로부터 수신되는 광을 동일한 초점을 갖는 평행광으로 변환하는 평행광 변환렌즈를 포함하고,상기 곡면거울은 동일한 초점을 가지며, 상기 평행광 변환렌즈를 통해 수신되는 광을 해당 광의 접촉지점과 상기 포물곡면의 초점을 연결하는 직선의 방향으로 반사하되, 상기 피사체로부터 수신되는 광을 접촉 지점에서 수직 하방으로 반사하고,상기 수광부는 복수의 채널을 구비하며, 상기 곡면거울에 의해 수직 하방으로 반사되는 광을 수신하는 다채널 검출기를 포함하며,상기 신호처리부는 상기 피사체에 대한 광의 스캔각도 별로 수신되는 광을 상기 다채널 검출기의 각각의 채널에 할당하고, 상기 평행광 변환렌즈 및 상기 곡면거울은 상기 발광부의 광학계로 이용되는 동시에 상기 수광부의 광학계로 이용되는 것을 특징으로 하는 전방위 무회전 스캐닝 라이다 시스템
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제8항에 있어서,상기 수광부는 상기 발광부의 역경로를 통해 광을 수신하는 것을 특징으로 하는 전방위 무회전 스캐닝 라이다 시스템
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광원으로부터 수신되는 광의 방향을 변경하여 피사체에 조사하는 발광부;상기 발광부와 독립적인 광학계로 이루어지며, 상기 피사체에 의해 반사되는 광을 수신하는 수광부; 및상기 수광부에 의해 수신되는 광을 신호처리하여 상기 피사체의 물성을 분석하는 신호처리부를 포함하며,상기 발광부는,상기 광원으로부터 수신되는 광을 설정된 범위의 각도로 틸팅하여 반사하는 제1반사거울; 및일방으로 볼록한 포물곡면으로 이루어지며, 상기 제1반사거울에 의해 반사된 광의 접촉지점과 상기 포물곡면의 초점에 대응하는 방향으로 광을 반사하는 곡면거울을 포함하고,상기 수광부는,측방향을 향하여 복수로 설치되며, 상기 피사체로부터 반사되는 광을 수신하는 광각렌즈; 상기 광각렌즈로부터 수신되는 광을 평행광으로 변환하는 평행광 변환렌즈; 및상기 평행광 변환렌즈로부터 수신되는 광을 다채널 검출기로 반사하는 제2반사거울;을 포함하며,상기 곡면거울은 동일한 초점을 가지며, 상기 제1반사거울로부터 수신되는 광을, 해당 광의 접촉지점과 상기 포물곡면의 초점을 연결하는 직선의 방향으로 반사하고,상기 광각렌즈는,상기 피사체로부터 반사되는 광을 수신하여 특정 초점의 방향으로 전달하는 광각 렌즈군;상기 광각 렌즈군을 통해 수신되는 광의 수신각도에 따라 설정된 방향의 광으로 굴절시키는 굴절 렌즈군; 및상기 굴절 렌즈군에 의해 굴절되는 광에 따라 설정된 변위의 초점을 형성하는 초점렌즈;를 포함하며,상기 평행광 변환렌즈는 상기 초점렌즈로부터 수신되는 광이 동일한 초점을 향하도록 상기 제2반사거울의 방향으로 굴절시키고,상기 신호처리부는 상기 피사체에 대한 스캔각도 별로 수신되는 광을 상기 다채널 검출기의 각각의 채널에 할당하는 것을 특징으로 하는 전방위 무회전 스캐닝 라이다 시스템
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