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나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2019023324
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법에 있어서, 제1 트렌치 평균 선폭을 갖는 요철 패턴이 형성된 베이스의 표면 위에 상기 요철 패턴의 프로파일을 따라 스페이서 재료층을 형성하여 상기 제1 트렌치 평균 선폭보다 감소된 제2 트렌치 평균 선폭을 갖는 나노 임프린팅 스탬프를 준비한 후, 상기 나노 임프린팅 스탬프를 이용하는 패터닝 공정의 대상체로서, 기판 상에 나노 박막, 희생층 및 레지스트층을 순차로 형성한다. 상기 레지스트층을 향하여 상기 나노 임프린팅 스탬프를 가압하여 예비 레지스트층 패턴을 형성한 후, 상기 예비 레지스트층 패턴 및 희생층을 이방성 식각하여 상기 나노 박막의 상면을 노출시키는 레지스트층 패턴 및 희생층 패턴을 각각 형성한다. 상기 레지스트층 패턴 및 상기 희생층 패턴을 마스크로 이용하여 상기 나노 박막을 식각하여 상기 기판 상에 나노 박막 패턴을 형성한다.
Int. CL G03F 7/00 (2006.01.01) G03F 7/40 (2006.01.01) B29C 59/02 (2006.01.01) B29C 59/14 (2018.01.01) H01L 21/027 (2006.01.01)
CPC G03F 7/0002(2013.01) G03F 7/0002(2013.01) G03F 7/0002(2013.01) G03F 7/0002(2013.01) G03F 7/0002(2013.01) G03F 7/0002(2013.01)
출원번호/일자 1020160057751 (2016.05.11)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1789921-0000 (2017.10.18)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20171026) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.05.11)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한창수 대한민국 서울특별시 강동구
2 우주연 대한민국 경기도 이천시
3 조성환 대한민국 경기도 시흥시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이동건 대한민국 서울특별시 강남구 논현로***길 *, *층 ***호 (논현동)(차암특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.05.11 수리 (Accepted) 1-1-2016-0450705-13
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.01.10 수리 (Accepted) 9-1-2017-0001495-98
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.02.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0087875-10
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.04.03 수리 (Accepted) 1-1-2017-0323974-66
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.04.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0323941-60
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2017.08.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0571045-17
8 [명세서등 보정]보정서(재심사)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2017.09.18 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2017-0907741-77
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.09.18 수리 (Accepted) 1-1-2017-0907805-01
10 등록결정서
Decision to Grant Registration
2017.10.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0713133-24
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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제1 트렌치 평균 선폭을 갖는 요철 패턴이 형성된 베이스의 표면 위에 상기 요철 패턴의 프로파일을 따라 스페이서 재료층을 형성하여 상기 제1 트렌치 평균 선폭보다 감소된 제2 트렌치 평균 선폭을 갖는 나노 임프린팅 스탬프를 준비하는 단계;상기 나노 임프린팅 스탬프를 이용하는 패터닝 공정의 대상체로서, 기판 상에 나노 박막, 희생층 및 레지스트층을 순차로 형성하는 단계; 상기 레지스트층을 향하여 상기 나노 임프린팅 스탬프를 가압하여 예비 레지스트층 패턴을 형성하는 단계;상기 예비 레지스트층 패턴 및 희생층을 이방성 식각하여 상기 나노 박막의 상면을 노출시키는 레지스트층 패턴 및 희생층 패턴을 각각 형성하는 단계; 및상기 레지스트층 패턴 및 상기 희생층 패턴을 마스크로 이용하여 상기 나노 박막을 식각하여 상기 기판 상에 나노 박막 패턴을 형성하는 단계를 포함하고,상기 스페이서 재료층은 원자층 증착(Atomic layer deposition) 공정을 통해 형성되고,상기 희생층은 지용성 고분자 및 수용성 고분자로 이루어진 군에서 선택된 적어도 하나를 이용하여 형성된 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 요철 패턴이 형성된 베이스는 유리, 석영 및 실리콘으로 이루어진 하드 스탬프 군에서 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 요철 패턴이 형성된 베이스는 고분자 재질로 이루어진 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 제1 트렌치 평균 선폭은 50 내지 200 nm 범위를 갖는 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
5 5
삭제
6 6
제1항에 있어서, 상기 스페이서 재료층은 알루미늄 산화물, 실리콘 산화물, 실리콘 질화물, 실리콘 산화질화물, 마그네슘 산화물, 인듐 산화물, 하프늄 산화물, 아연 산화물, 주석 산화물, 타타늄 산화물, 망간 산화물, 텅스텐 산화물 및 마그네슘 불화물로 이루어진 군에서 선택된 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
7 7
제1항에 있어서, 상기 나노 박막은 Al, Au, Ni, Cr, Ti, Si, Zr, Ge, Zn, Pt, SiN, SiO2, TiO2, Al2O3, HfO2, MnO2, CrO2, RuO2, MoO3, WO3, V2O5, TaO3, LaNb2O7, (Ca,Sr)2Nb3O10, Bi4Ti3O12, Ca2Ta2TiO10 Ni(OH)2, Eu(OH)2, Graphene, hBN, BCN, Fluorographene, Graphene oxide, MoS2, WS2, MoSe2, WSe2, MoTe2, WTe2, ZrS2, ZrSe2, NbSe2, NbS2, TaS2, TiS2, NiSe2 GaSe, GaTe, InSe, 및 Bi2Se3로 이루어진 군에서 선택된 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
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삭제
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제1항에 있어서, 상기 예비 레지스트층 패턴 및 상기 희생층을 식각하는 단계는 플라즈마 식각(Plasma etching), 반응성 이온 식각(Reactive ion etching), 반응성 이온 빔 식각(Reactive ion beam etching), MERIE (Magnetically enhanced RIE), ICP-RIE (Inductively coupled plasma RIE), Ion milling 및 RF sputtering 공정 중 적어도 하나를 수행하는 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
10 10
제1항에 있어서, 상기 나노 박막을 식각하는 단계는 플라즈마 식각(Plasma etching), 반응성 이온 식각(Reactive ion etching), 반응성 이온 빔 식각(Reactive ion beam etching), MERIE (Magnetically enhanced RIE), ICP-RIE (Inductively coupled plasma RIE), Ion milling 및 RF sputtering 공정 중에서 선택된 적어도 하나를 수행하는 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
11 11
제 1항에 있어서, 상기 나노 박막 패턴은 5 내지 60 nm 범위의 평균 선폭을 갖는 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
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제1항에 있어서, 상기 베이스의 스페이서 재료층 상에 점착 방지층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
13 13
제12항에 있어서, 상기 점착 방지층은 불소계 고분자, 실리콘계 고분자, 실란계 고분자 및 자기조립단분자막(Self assembled monolayers)로 이루어진 군에서 선택된 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
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제1항에 있어서, 상기 나노 박막 패턴을 형성한 후, 상기 레지스트층 패턴 및 상기 희생층 패턴을 상기 기판으로부터 제거하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
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제1항에 있어서, 상기 나노 박막 패턴을 형성한 후, 상기 나노 박막 패턴을 열처리하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 나노 박막 패턴 구조물의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 미래창조과학부 고려대학교 글로벌프론티어사업 2D소재의 소프트소자화 공정기술