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빛을 방출하는 레이저 광원;상기 레이저 광원에서 방출된 빛을 통과시키고 시편을 향하는 방향으로 상기 빛의 초점을 형성시키는 대물렌즈;상기 시편에서 반사된 빛을 검출하는 두 개의 광 검출기; 및상기 광 검출기에서 검출된 빛의 신호를 통하여 영상을 복원할 수 있는 제어부; 를 포함하고,상기 제어부는,상기 광 검출기로부터 전달되는 빛을 시간축을 기준으로 지연시키는 두 개의 증폭기; 및상기 증폭기에 의하여 시간축을 기준으로 지연된 빛의 데이터를 저장하고 형광수명시간(Tfl)을 계산하는 디지타이저(digitizer);를 포함하며,상기 시편에서 반사된 빛은 반사광과 형광을 포함하고,상기 반사광은 제1 광 검출기에 의하여 검출된 후 제1 증폭기에 의하여 변조되고,상기 형광은 제2 검출기에 의하여 검출된 후 제2 증폭기에 의하여 변조되며,상기 디지타이저에 의하여 검출되는 변조된 반사광 및 형광의 시간 오차의 양은 서로 동일하며,상기 시편으로부터 반사된 빛의 평균 지연 시간을 이중으로 검출함으로써 형광수명시간(Tfl)을 측정하는, 현미경 시스템
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제1항에 있어서,상기 디지타이저는,변조된 반사광 및 형광을 각각 검출하는 두 개의 채널을 구비하고,한 개의 샘플링 클락(Sampling clock)을 통하여 변조된 반사광과 형광의 평균 시간 지연값을 동시에 측정할 수 있는, 현미경 시스템
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제4항에 있어서,상기 대물렌즈와 광 검출기들 사이에 배치되는 이색성 광 분리기(Dichroic beam-splitter);를 더 포함하고,상기 이색성 광 분리기는 상기 시편에서 반사된 빛을 반사광과 형광으로 분리하는, 현미경 시스템
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제1항에 있어서,상기 대물렌즈와 상기 광 검출기와 사이에 배치되는 광학계;를 더 포함하고,상기 광학계는, 상기 레이저 광원에서 방출되는 빛을 상기 대물렌즈에 전달하고, 상기 시편에서 반사된 빛을 상기 광 검출기에 전달하는, 현미경 시스템
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제1항에 있어서,상기 증폭기는 저 대역폭 증폭기인, 현미경 시스템
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제1항에 있어서,상기 디지타이저는,한 개의 픽셀을 구성하는 복수 개의 펄스를 한 개의 메모리 공간에 중첩시킨 후, 수치적분을 수행함으로써 데이터를 처리하는, 현미경 시스템
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형광수명시간(Tfl)을 측정하는 방법에 있어서,레이저 광원에서 방출된 빛을 대물렌즈를 통하여 시편에 조사하는 단계(S100);이색성 광 분리기(Dichroic beam-splitter)에 의하여 상기 시편에서 반사된 빛을 반사광과 형광으로 분리하는 단계(S200);상기 반사광과 형광을 적어도 하나의 광 검출기에 의하여 검출하는 단계(S300);적어도 하나의 증폭기에 의하여 상기 광 검출기로부터 전달되는 반사광과 형광을 시간축을 기준으로 지연시키는 단계(S400); 및디지타이저(digitizer)에 의하여 변조된 반사광과 형광의 데이터를 저장하고 형광수명시간(Tfl)을 계산하는 단계(S500);를 포함하고,상기 형광수명시간(Tfl)을 계산하는 단계(S500)는, 상기 시편으로부터 반사된 빛의 평균 지연 시간을 이중으로 검출함으로써 형광수명시간(Tfl)을 측정하는, 형광수명시간(Tfl)을 측정하는 방법
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제9항에 있어서,상기 형광수명시간(Tfl)을 계산하는 단계(S500)는,한 개의 샘플링 클락(Sampling clock)을 통하여 변조된 반사광과 형광의 평균 시간 지연값을 동시에 측정하는 단계(S510);을 포함하는, 형광수명시간(Tfl)을 측정하는 방법
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제10항에 있어서,상기 형광수명시간(Tfl)을 계산하는 단계(S500)는,한 개의 픽셀을 구성하는 복수 개의 펄스를 한 개의 메모리 공간에 중첩시킨 후, 수치적분을 수행함으로써 데이터를 처리하는 단계(S520);을 더 포함하는, 형광수명시간(Tfl)을 측정하는 방법
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