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정전용량 인셀 터치 패널 및 이에 있어서 리드아웃 방법

  • 기술번호 : KST2019030943
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 한 열에 배열된 서브 픽셀들, 픽셀들 또는 픽셀 어레이들로 구성된 터치/지문인식 전극들이 하나의 센싱 라인을 공유하는 터치 패널이 개시된다. 상기 터치 패널은 m×n 서브 픽셀들 및 상기 서브 픽셀들을 구동시키는 드라이버를 포함한다. 여기서, 한 열에 배열된 서브 픽셀들의 터치/지문인식 전극들이 하나의 센싱 라인을 공유한다. 또한, 이와 같은 터치 패널 구조 및 리드아웃 방법을 통해 터치 지점 검출과 지문 인식을 선택적으로 구동할 수 있다.
Int. CL G06F 3/041 (2006.01.01) G06F 3/044 (2006.01.01) G06K 9/00 (2006.01.01)
CPC G06F 3/0412(2013.01) G06F 3/0412(2013.01) G06F 3/0412(2013.01) G06F 3/0412(2013.01)
출원번호/일자 1020160108869 (2016.08.26)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1770521-0000 (2017.08.16)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20170905) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호 1020170075098;
심사청구여부/일자 Y (2016.08.26)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 권오경 대한민국 서울특별시 강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 최관락 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
2 송인호 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2016.08.26 수리 (Accepted) 1-1-2016-0830719-54
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2017.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2017.03.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2017-0039998-36
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2017.03.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0189098-10
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2017.05.15 수리 (Accepted) 1-1-2017-0457570-88
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2017.06.14 수리 (Accepted) 1-1-2017-0569414-12
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2017.06.14 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0569415-68
8 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application		 2017.06.14 수리 (Accepted) 1-1-2017-0569374-84
9 등록결정서
Decision to grant		 2017.08.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0556156-80
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
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번호 청구항
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m×n 서브 픽셀들, m 및 n은 각기 양의 정수임; 상기 서브 픽셀들을 구동시키는 드라이버;센싱 라인을 통하여 터치/지문인식 전극들의 셀프 캐패시턴스 또는 상호 캐패시턴스를 감지하는 리드 아웃 회로; 및상기 감지된 셀프 캐패시턴스 또는 상호 캐패시턴스를 통하여 터치 지점을 검출하거나 지문 정보를 획득하는 터치 검출 프로세서를 포함하되,한 열에 배열된 서브 픽셀들의 터치/지문인식 전극들이 하나의 센싱 라인을 공유하며, 상기 리드 아웃 회로는 해당 서브 픽셀에 연결된 스캔 라인을 통하여 상기 서브 픽셀로 신호를 인가하며 상기 스캔 라인과 전하 증폭기 사이의 연결을 스위칭하는 센싱 스위치를 더 포함하고,상기 터치/지문인식 전극들은 복수의 스캔 라인들을 통하여 상기 리드 아웃 회로에 연결되고 복수의 센싱 라인들이 상기 리드 아웃 회로로 연결되며,상기 지문 정보의 획득시, 상기 리드 아웃 회로는 특정 스캔 라인을 통하여 해당 터치/지문인식 전극들로 신호를 인가하고 상기 신호의 하이 로직 동안 상기 센싱 라인들과 해당 전하 증폭기들 사이의 센싱 스위치들을 순차적으로 온 시킨 후 상기 센싱 라인들을 통하여 상기 터치/지문인식 전극들의 셀프 캐패시턴스 또는 상호 캐패시턴스를 감지하며, 상기 터치 검출 프로세서는 상기 감지된 셀프 캐패시턴스 또는 상호 캐패시턴스를 통하여 상기 지문 정보를 획득하는 것을 특징으로 하는 터치 패널
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m×n 서브 픽셀들, m 및 n은 각기 양의 정수임; 상기 서브 픽셀들을 구동시키는 드라이버;센싱 라인을 통하여 터치/지문인식 전극들의 셀프 캐패시턴스 또는 상호 캐패시턴스를 감지하는 리드 아웃 회로; 및상기 감지된 셀프 캐패시턴스 또는 상호 캐패시턴스를 통하여 터치 지점을 검출하거나 지문 정보를 획득하는 터치 검출 프로세서를 포함하되,한 열에 배열된 서브 픽셀들의 터치/지문인식 전극들이 하나의 센싱 라인을 공유하며, 상기 리드 아웃 회로는 해당 서브 픽셀에 연결된 스캔 라인을 통하여 상기 서브 픽셀로 신호를 인가하며 상기 스캔 라인과 전하 증폭기 사이의 연결을 스위칭하는 센싱 스위치를 더 포함하고,상기 터치/지문인식 전극들은 복수의 스캔 라인들을 통하여 상기 리드 아웃 회로에 연결되고 복수의 센싱 라인들이 상기 리드 아웃 회로로 연결되며,상기 지문 정보의 획득시, 상기 리드 아웃 회로는 상기 스캔 라인들에 직교한 신호들을 동시에 인가하고 상기 센싱 라인들과 해당 전하 증폭기들 사이의 센싱 스위치들을 동시에 온시킨 후 상기 센싱 라인들을 통하여 상기 터치/지문인식 전극들의 셀프 캐패시턴스 또는 상호 캐패시턴스를 감지하며, 상기 터치 검출 프로세서는 상기 감지된 셀프 캐패시턴스 또는 상호 캐패시턴스를 통하여 상기 지문 정보를 획득하는 것을 특징으로 하는 터치 패널
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m×n 서브 픽셀들, m 및 n은 각기 양의 정수임; 상기 서브 픽셀들을 구동시키는 드라이버;센싱 라인을 통하여 터치/지문인식 전극들의 셀프 캐패시턴스 또는 상호 캐패시턴스를 감지하는 리드 아웃 회로; 상기 감지된 셀프 캐패시턴스 또는 상호 캐패시턴스를 통하여 터치 지점을 검출하거나 지문 정보를 획득하는 터치 검출 프로세서;상기 터치 검출 프로세서에 연결된 어플리케이션 프로세서(Application processor, AP); 및상기 어플리케이션 프로세서에 연결된 제어부를 포함하되,한 열에 배열된 서브 픽셀들의 터치/지문인식 전극들이 하나의 센싱 라인을 공유하며, 상기 리드 아웃 회로는 해당 서브 픽셀에 연결된 스캔 라인을 통하여 상기 서브 픽셀로 신호를 인가하며 상기 스캔 라인과 전하 증폭기 사이의 연결을 스위칭하는 센싱 스위치를 더 포함하고,상기 어플리케이션 프로세서는 사용자 인증을 위하여 사용자의 지문 정보와 상기 획득된 지문 정보의 일치 여부를 확인하고, 상기 제어부는 상기 사용자의 지문 정보와 상기 획득된 지문 정보가 일치하는 경우 어플리케이션의 상태를 동작모드로 전환하는 것을 특징으로 하는 터치 패널
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3 EP3506063 EP 유럽특허청(EPO) DOCDBFAMILY
4 US2019227652 US 미국 DOCDBFAMILY
5 WO2018038389 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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