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재프로그램 가능한 소자를 사용하는 주소 비교기

  • 기술번호 : KST2019030971
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 재프로그래밍 가능한 MTJ를 사용하는 주소 비교기가 개시된다. 상기 주소 비교기는 상기 주소 비교기의 활성화 여부를 결정하는 주소 비교기 인에이블 유닛 및 불량 셀의 주소를 저장하고, 상기 저장된 주소와 입력 주소의 동일 여부를 판단하는 적어도 하나의 주소 비교기 유닛을 포함한다. 여기서, 상기 주소 비교기 유닛은 상기 주소 비교기 인에이블 유닛의 활성화 결정에 따라 동작하고, 상기 주소 비교기 유닛은 재프로그램 가능한 소자를 사용한다.
Int. CL G11C 29/00 (2006.01.01)
CPC G11C 29/822(2013.01) G11C 29/822(2013.01)
출원번호/일자 1020160156456 (2016.11.23)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1856383-0000 (2018.05.02)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20180620) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호 1020170171296;
심사청구여부/일자 Y (2016.11.23)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박상규 대한민국 서울특별시 송파구
2 이동기 대한민국 대구광역시 달서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 최관락 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)
2 송인호 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로**길 ** (역삼동) 동림빌딩 *층(아이피즈국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.11.23 수리 (Accepted) 1-1-2016-1146098-11
2 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.01.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0011224-68
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2017.01.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.01.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0055042-75
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2017.03.13 수리 (Accepted) 9-1-2017-0007613-29
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.10.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0708182-33
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.12.13 수리 (Accepted) 1-1-2017-1242172-67
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.12.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-1242173-13
9 [분할출원]특허출원서
[Divisional Application] Patent Application
2017.12.13 수리 (Accepted) 1-1-2017-1242192-70
10 등록결정서
Decision to grant
2018.04.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2018-0283666-62
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
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번호 청구항
1 1
삭제
2 2
삭제
3 3
주소 비교기에 있어서,상기 주소 비교기의 활성화 여부를 결정하는 주소 비교기 인에이블 유닛; 및불량 셀의 주소를 저장하고, 상기 저장된 주소와 입력 주소의 동일 여부를 판단하는 적어도 하나의 주소 비교기 유닛을 포함하되,상기 주소 비교기 유닛은,제 1 MTJ;제 2 MTJ;일단이 상기 제 1 MTJ와 연결되고 타단이 상기 제 2 MTJ와 연결되는 스위치 선택부; 및 상기 스위치 선택부와 연결되는 비트 동일 결정부를 포함하되,상기 MTJ들은 상기 불량 셀의 주소 중 일 비트를 상보적으로 저장하고, 상기 스위치 선택부는 상기 MTJ들에 저장된 비트의 로직에 따라 상기 비트 동일 결정부의 스위치들 중 일부를 선택하며, 상기 비트 동일 결정부는 상기 선택된 스위치들을 통하여 상기 입력 주소 중 상기 불량 셀의 비트에 대응하는 입력 비트 또는 상기 입력 비트의 반전 비트를 반전시켜 출력시키는 것을 특징으로 하는 주소 비교기
4 4
제3항에 있어서, 상기 스위치 선택부는,일단이 전원전압에 연결되고 타단이 접지에 연결되는 제 1 인버터;상기 제 1 인버터와 병렬로 연결되고, 일단이 상기 전원전압에 연결되며 타단이 상기 접지에 연결되는 제 2 인버터;상기 제 1 MTJ와 상기 제 1 인버터 사이에 연결되는 제 1 스위치; 및상기 제 2 MTJ와 상기 제 2 인버터 사이에 연결되는 제 2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 주소 비교기
5 5
제4항에 있어서, 상기 비트 동일 결정부는,상기 제 1 스위치와 상기 제 1 인버터 사이의 제 1 노드와 연결되는 제 1 트랜지스터; 상기 제 2 스위치와 상기 제 2 인버터 사이의 제 2 노드에 연결되는 제 2 트랜지스터; 및상기 트랜지스터들 사이의 노드와 연결되는 제 3 인버터를 포함하되,상기 스위치 선택부의 동작에 따라 상기 트랜지스터들 중 하나만 온되어 상기 입력 비트 또는 상기 반전 비트가 상기 제 3 인버터의 입력단으로 입력되는 것을 특징으로 하는 주소 비교기
6 6
주소 비교기에 있어서,상기 주소 비교기의 활성화 여부를 결정하는 주소 비교기 인에이블 유닛; 및불량 셀의 주소를 저장하고, 상기 저장된 주소와 입력 주소의 동일 여부를 판단하는 적어도 하나의 주소 비교기 유닛을 포함하고,상기 주소 비교기 인에이블 유닛은,제 1 MTJ;제 2 MTJ;일단이 상기 제 1 MTJ와 연결되고 타단이 상기 제 2 MTJ와 연결되는 비트 선택부; 및 상기 비트 선택부의 선택에 따라 상기 주소 비교기의 활성화 여부를 결정하는 결정부를 결정하는 것을 특징으로 하는 주소 비교기
7 7
제6항에 있어서, 상기 비트 선택부는,일단이 전원전압에 연결되고 타단이 접지에 연결되는 제 1 인버터;상기 제 1 인버터와 병렬로 연결되고, 일단이 상기 전원전압에 연결되며 타단이 상기 접지에 연결되는 제 2 인버터;상기 제 1 MTJ와 상기 제 1 인버터 사이에 연결되는 제 1 스위치; 및상기 제 2 MTJ와 상기 제 2 인버터 사이에 연결되는 제 2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 주소 비교기
8 8
제7항에 있어서, 상기 결정부는,입력단이 상기 제 1 스위치와 상기 제 1 인버터 사이의 노드에 연결되는 제 3 인버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 주소 비교기
9 9
주소 비교기에 사용되는 주소 비교기 유닛에 있어서, 제 1 MTJ;제 2 MTJ;일단이 상기 제 1 MTJ에 연결되고 타단이 상기 제 2 MTJ에 연결되는 스위치 선택부; 및상기 스위치 선택부에 연결되는 비트 동일 결정부를 포함하되,불량 셀의 주소 중 적어도 일부의 비트가 상기 MTJ들 중 적어도 하나에 저장되고, 상기 비트 동일 결정부는 상기 스위치 선택부의 동작에 응답하여 비트들이 동일한 지의 여부를 나타내는 정보를 출력하는 것을 특징으로 하는 주소 비교기 유닛
10 10
제9항에 있어서, 상기 스위치 선택부는,일단이 전원전압에 연결되고 타단이 접지에 연결되는 제 1 인버터;상기 제 1 인버터와 병렬로 연결되고, 일단이 상기 전원전압에 연결되며 타단이 상기 접지에 연결되는 제 2 인버터;상기 제 1 MTJ와 상기 제 1 인버터 사이에 연결되는 제 1 스위치; 및상기 제 2 MTJ와 상기 제 2 인버터 사이에 연결되는 제 2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 주소 비교기 유닛
11 11
제10항에 있어서, 상기 비트 동일 결정부는,상기 제 1 스위치와 상기 제 1 인버터 사이의 제 1 노드와 연결되는 제 1 트랜지스터; 상기 제 2 스위치와 상기 제 2 인버터 사이의 제 2 노드에 연결되는 제 2 트랜지스터; 및상기 트랜지스터들 사이의 노드와 연결되는 제 3 인버터를 포함하되,상기 스위치 선택부의 동작에 따라 상기 트랜지스터들 중 하나만 온되어 입력 비트 또는 상기 입력 비트의 반전 비트가 상기 제 3 인버터의 입력단으로 입력되는 것을 특징으로 하는 주소 비교기 유닛
12 12
주소 비교기에 사용되는 주소 비교기 인에이블 유닛에 있어서, 제 1 MTJ;제 2 MTJ;일단이 상기 제 1 MTJ에 연결되고 타단이 상기 제 2 MTJ에 연결되는 비트 선택부; 및상기 비트 선택부에 연결되는 결정부를 포함하되,상기 결정부는 상기 비트 선택부의 동작에 응답하여 상기 주소 비교기를 활성화시킬 지의 여부를 나타내는 정보를 출력하는 것을 특징으로 하는 주소 비교기 인에이블 유닛
13 13
제12항에 있어서, 상기 비트 선택부는,일단이 전원전압에 연결되고 타단이 접지에 연결되는 제 1 인버터;상기 제 1 인버터와 병렬로 연결되고, 일단이 상기 전원전압에 연결되며 타단이 상기 접지에 연결되는 제 2 인버터;상기 제 1 MTJ와 상기 제 1 인버터 사이에 연결되는 제 1 스위치; 및상기 제 2 MTJ와 상기 제 2 인버터 사이에 연결되는 제 2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 주소 비교기 인에이블 유닛
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제13항에 있어서, 상기 결정부는,입력단이 상기 제 1 스위치와 상기 제 1 인버터 사이의 노드에 연결되는 제 3 인버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 주소 비교기 인에이블 유닛
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 산업통상자원부 한양대학교산학협력단 전자정보디바이스산업원천기술개발사업 10nm급 STT-MRAM의 MTJ 신뢰성 모델링 및 신뢰성 불량에 강인한 회로 기술 연구