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선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정장치 및 측정방법

  • 기술번호 : KST2019031254
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 측정 대상물이 놓이는 지지부, 상기 지지부의 일 측에 위치하는 프로브 지지부, 상기 프로브 지지부에 결합하며, 상기 측정 대상물의 표면을 측정하는 적어도 3개 이상의 프로브 및 상기 지지부와 상기 프로브 지지부 중 어느 하나를 다른 하나에 대해 상대 직선 구동시키는 구동부를 포함하되, 상기 적어도 3개 이상의 프로브는 상기 상대 직선 구동 방향과 나란한 직선상에서 소정 간격 이격하여 배치되는 선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정장치.
Int. CL G01B 21/30 (2006.01.01) G01B 21/32 (2006.01.01) G06F 17/10 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020190051770 (2019.05.02)
출원인 한양대학교 에리카산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2019-0128565 (2019.11.18) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020180052684   |   2018.05.08
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.05.02)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 대한민국 경기도 안산시 상록구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 조남규 경기도 안양시 동안구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박상열 대한민국 서울 금천구 가산디지털*로 *** **층 ****호(나눔국제특허법률사무소)
2 최내윤 대한민국 서울 금천구 가산디지털*로 ** *동 ***호(나눔국제특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 에리카산학협력단 대한민국 경기도 안산시 상록구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2019-0454036-73
2 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2019.05.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2019-0455181-53
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.03.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0199722-86
4 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2020.04.27 수리 (Accepted) 1-1-2020-0432278-13
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.04.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0432279-69
6 등록결정서
Decision to grant
2020.09.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0624429-61
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
측정 대상물이 놓이는 지지부;상기 지지부의 일 측에 위치하는 프로브 지지부;상기 프로브 지지부에 결합하며, 상기 측정 대상물의 표면을 측정하는 적어도 3개 이상의 프로브;상기 지지부와 상기 프로브 지지부 중 어느 하나를 다른 하나에 대해 상대 직선 구동시키는 구동부; 및상기 적어도 3개 이상의 프로브 각각에서 수신되는 측정 신호를 합산하여 합성 신호를 생성하고, 상기 합성 신호에서 상기 상대 직선 구동에서 발생하는 구동 오차 신호와 상기 측정 대상물의 표면 형상 오차 신호를 제거하는 연산부를 포함하되,상기 적어도 3개 이상의 프로브는 상기 상대 직선 구동 방향과 나란한 직선상에서 소정 간격 이격하여 배치되고,상기 3개의 이상의 프로브는 제1 내지 제3 프로브를 포함하고,상기 측정 대상물의 측정길이에 대한 상기 제1 프로브와 상기 제2 프로브의 사이 거리의 비, 그리고 상기 측정 대상물의 측정길이에 대한 상기 제2 프로브와 상기 제3 프로브의 사이 거리의 비는 각각 기약 분수로 나타나는 선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정장치
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제 1 항에 있어서,상기 제1 내지 제3 프로브는 상기 프로브 지지부의 복수 개의 측면들 중 동일한 일 측면에 결합되는 선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정장치
5 5
제 4 항에 있어서,상기 제1 내지 제3 프로브 각각은 동일 높이에 위치하는 선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정장치
6 6
제 1 항에 있어서,상기 제1 내지 제3 프로브 각각은, 상기 상대 직선 구동으로 동일한 경로를 따라 상기 측정 대상물의 표면 변화를 개별적으로 측정하는 선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정장치
7 7
제 1 항에 있어서,상기 연산부는 상기 합성 신호에서 상기 구동 오차 신호가 제거된 신호를 푸리에 변환하여 고조파 성분이 선형 결합된 신호를 얻고,상기 측정 대상물의 측정길이에 대한 상기 제1 프로브와 상기 제2 프로브의 사이 거리의 비를 기약분수(aL/T/bL/T)로 정의하고, 상기 측정 대상물의 측정길이에 대한 상기 제2 프로브와 상기 제3 프로브의 사이 거리의 비를 기약분수(aR/T / bR/T)로 정의할 경우,상기 고조파 성분 중 파장이 가장 짧은 고조파의 파장(λmin)에 대한 파장이 가장 긴 고조파의 파장(λmax) 의 비율(λmax / λmin) 이 상기 bL/T와 bR/T 의 최소공배수보다 작은 값을 가지는 선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정장치
8 8
측정 대상물이 놓이는 지지부;상기 지지부의 일 측에 위치하는 프로브 지지부;상기 프로브 지지부에 결합하며, 상기 측정 대상물의 표면을 측정하는 적어도 3개 이상의 프로브; 및상기 지지부와 상기 프로브 지지부 중 어느 하나를 다른 하나에 대해 상대 직선 구동시키는 구동부를 포함하되,상기 프로브 지지부는 상기 측정 대상물의 일 측면과 마주하는 제1 지지 영역과 상기 측정 대상물의 타 측면과 마주하는 제2 지지 영역을 포함하고,상기 적어도 3개 이상의 프로브는,상기 제1 지지 영역에 결합하며, 상기 상대 직선 구동 방향과 나란한 직선상에서 일렬 배열되는 제1 내지 제3 프로브;상기 제2 지지 영역에 결합하며, 상기 상대 직선 구동 방향과 나란한 직선상에서 일렬 배열되는 제4 내지 제6 프로브를 포함하는 선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정장치
9 9
제8 항에 있어서,상기 적어도 3개 이상의 프로브는,상기 제2 지지 영역에 결합하며, 상기 제4 내지 제6 프로브와 평행하게 배치되는 제7 내지 제9 프로브를 더 포함하는 선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정장치
10 10
측정 대상물이 놓인 지지부와 상기 지지부의 일 측에 위치하는 적어도 3개 이상의 프로브 중 어느 하나를 다른 하나에 대해 상대 직선 구동시키는 단계; 및상기 상대 직선 구동 동안 상기 적어도 3개 이상의 프로브에서 상기 측정 대상물의 표면을 측정하여 측정 신호들을 생성하는 단계;를 포함하되, 상기 적어도 3개 이상의 프로브는 상기 상대 직선 구동 방향과 나란한 직선상에서 소정 간격 이격하여 배치되어 상기 측정 대상물의 표면을 측정하고,상기 3개의 이상의 프로브는 제1 내지 제3 프로브를 포함하고,상기 측정 대상물의 측정길이에 대한 상기 제1 프로브와 상기 제2 프로브의 사이 거리의 비, 그리고 상기 측정 대상물의 측정길이에 대한 상기 제2 프로브와 상기 제3 프로브의 사이 거리의 비는 각각 기약 분수로 나타나는 선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정 방법
11 11
삭제
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제 10 항에 있어서,상기 측정 신호를 합산하여 합성 신호를 생성하는 단계; 상기 합성 신호에서 상기 상대 직선 구동에서 발생하는 구동 오차 신호를 제거하는 단계; 및상기 구동 오차 신호가 제거된 상기 합성 신호에서 측정 대상물의 표면 형상 오차 신호를 제거하는 단계;를 더 포함하며,상기 구동 오차 신호가 제거된 상기 합성 신호에서 측정 대상물의 표면 형상 오차 신호를 제거하는 단계는, 상기 구동 오차가 제거된 상기 합성 신호를 푸리에 변환하여 고조파 성분이 선형 결합된 신호를 얻으며,상기 측정 대상물의 측정길이에 대한 상기 제1 프로브와 상기 제2 프로브의 사이 거리의 비는 기약분수(aL/T/bL/T)로 정의하고,상기 측정 대상물의 측정길이에 대한 상기 제2 프로브와 상기 제3 프로브의 사이 거리의 비를 기약분수(aR/T / bR/T)로 정의할 경우,상기 고조파 성분 중 파장이 가장 짧은 고조파의 파장(λmin)에 대한 파장이 가장 긴 고조파의 파장(λmax)의 비율은 상기 bL/T와 bR/T 간의 최소공배수 보다 작은 값을 갖는 선형 단면 형상을 갖는 대상물의 표면 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
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1 WO2019216624 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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