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광학 현미경으로부터 획득한 컬러 이미지를 흑백 이미지로 변환하는 이미지 변환부와,상기 흑백 이미지의 픽셀에 대해 임계값을 기준으로 이진화를 수행하여 이진화 맵을 생성하는 이진화부와,상기 이진화 맵을 이용하여 밀도를 계산하는 밀도 계산부와,상기 이진화 수행을 위한 임계값을 결정하는 임계값 설정부를 포함하여,상기 임계값 설정부가 임계값의 초깃값부터 최댓값까지 순차 변경하면서 상기 이진화부로부터 생성된 이진화 맵을 이용하여 상기 밀도 계산부에 의해 계산된 밀도로부터 밀도의 미분값을 구하여 미분 최솟값에 대응하는 임계값을 결정하는 것을 특징으로 하는 광학 현미경 이미지를 이용한 금속 제품의 밀도 측정 장치
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제1항에서,상기 이진화부는 상기 흑백 이미지의 각 픽셀 값이 임계값 이상이면 해당 픽셀 값을 픽셀 최댓값으로 대체하고, 임계값 미만이면 해당 픽셀 값을 픽셀 최솟값으로 대체하여 이진화를 수행하는 것을 특징으로 하는 광학 현미경 이미지를 이용한 금속 제품의 밀도 측정 장치
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제2항에서,상기 밀도 계산부는 상기 흑백 이미지의 전체 픽셀 수 중에서 픽셀 최댓값인 픽셀 수의 비율로 밀도를 계산하는 것을 특징으로 하는 광학 현미경 이미지를 이용한 금속 제품의 밀도 측정 장치
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금속 제품의 밀도 측정 장치가 광학 현미경 이미지를 이용해 밀도를 측정하는 방법에 있어서, 광학 현미경 이미지를 흑백 이미지로 변환하는 이미지 변환 단계와,상기 흑백 이미지의 픽셀에 대해 임계값을 기준으로 이진화를 수행하여 이진화 맵을 생성하는 이진화 단계와,상기 이진화 맵을 이용하여 밀도를 계산하는 밀도 계산 단계를 포함하여,상기 임계값은 임계값의 초깃값부터 최댓값까지 순차 변경하면서 순차 변경된 임계값에 따라 생성된 이진화 맵을 이용하여 계산된 밀도로부터 밀도의 미분값을 구하여 미분 최솟값에 대응하는 값으로 결정하는 것을 특징으로 하는 방법
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제5항에서, 상기 이진화 단계는 상기 흑백 이미지의 각 픽셀 값이 임계값 이상이면 해당 픽셀 값을 픽셀 최댓값으로 대체하고, 임계값 미만이면 해당 픽셀 값을 픽셀 최솟값으로 대체하여 이진화를 수행하는 것을 특징으로 하는 방법
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제6항에서, 상기 밀도 계산 단계는 상기 흑백 이미지의 전체 픽셀 수 중에서 픽셀 최댓값인 픽셀 수의 비율로 밀도를 계산하는 것을 특징으로 하는 방법
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