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측정 대상에 대한 간섭 무늬로부터 접힌 위상(wrapped phase)을 획득하는 접힌 위상 획득부;상기 접힌 위상을 3차원의 실린더 좌표계로 매핑시켜 상기 접힌 위상을 실린더 곡면 상의 커브(curve)로 변환하는 좌표계 변환부;상기 커브에 포함된 복수의 커브 엘리먼트(element)들 각각의 방위각 차이들에 기초하여 절대 위상을 산출하는 절대 위상 산출부; 및상기 절대 위상을 기반으로 상기 측정 대상에 대한 형상을 복원하는 측정 대상 복원부를 포함하고,상기 좌표계 변환부는 국소 등장(local isometry) 변환을 수행하는 매핑 함수 P'를 이용하여 상기 접힌 위상을 상기 커브로 변환하고,상기 매핑 함수 P'는 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스 및 상기 픽셀 인덱스에 대응하는 접힌 위상 값을 기반으로 하는 전자 장치
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제 1 항에 있어서,상기 매핑 함수 P'는 이고, 상기 n은 상기 간섭 무늬의 상기 픽셀 인덱스이고, 상기 는 상기 n에 대응하는 상기 접힌 위상 값인 전자 장치
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제 1 항에 있어서,상기 절대 위상 산출부는 상기 복수의 커브 엘리먼트들 각각의 상기 방위각 차이들의 누적합 결과에 기초하여 상기 절대 위상을 산출하는 전자 장치
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제 4 항에 있어서,상기 절대 위상 산출부는 매핑 함수 U를 이용하여 상기 절대 위상을 산출하고,상기 매핑 함수 U는 이고,상기 r은 상기 실린더의 반지름이고, 상기 는 상기 커브의 방위각이고, 상기 z는 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스이고, 상기 는 상기 z에 대응하는 커브 엘리먼트의 방위각 차이이고, 상기 r은 1이고,상기 는 상기 z+1에 대응하는 제1 커브 값의 제1 방위각과 z에 대응하는 제2 커브 값의 제2 방위각의 차이인 전자 장치
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전자 장치의 동작 방법에 있어서,측정 대상에 대한 간섭 무늬로부터 접힌 위상(wrapped phase)을 획득하는 단계;상기 접힌 위상을 3차원의 실린더 좌표계로 매핑시켜 상기 접힌 위상을 실린더 곡면 상의 커브(curve)로 변환하는 단계;상기 커브에 포함된 복수의 커브 엘리먼트(element)들 각각의 방위각 차이들에 기초하여 절대 위상을 산출하는 단계; 및상기 절대 위상을 기반으로 상기 측정 대상에 대한 형상을 복원하는 단계를 포함하고,상기 접힌 위상은 국소 등장(local isometry) 변환을 수행하는 매핑 함수 P'에 의해 상기 커브로 변환되고,상기 매핑 함수 P'는 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스 및 상기 픽셀 인덱스에 대응하는 접힌 위상 값을 기반으로 하는 동작 방법
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제 6 항에 있어서,상기 매핑 함수 P'는 이고, 상기 n은 상기 간섭 무늬의 상기 픽셀 인덱스이고, 상기 는 상기 n에 대응하는 상기 접힌 위상 값인 동작 방법
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제 6 항에 있어서,상기 절대 위상을 산출하는 단계는,상기 복수의 커브 엘리먼트들 각각의 상기 방위각 차이들을 계산하는 단계;상기 방위각 차이들의 누적합 결과에 기초하여 상기 절대 위상을 산출하는 단계를 포함하는 동작 방법
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제 9 항에 있어서,상기 절대 위상은 매핑 함수 U를 이용하여 산출되고,상기 매핑 함수 U는 이고,상기 r은 상기 실린더의 반지름이고, 상기 는 상기 커브의 방위각이고, 상기 z는 상기 간섭 무늬의 픽셀 인덱스이고, 상기 는 상기 z에 대응하는 커브 엘리먼트의 방위각 차이이고, 상기 r은 1이고,상기 는 상기 z+1에 대응하는 제1 커브 값의 제1 방위각과 z에 대응하는 제2 커브 값의 제2 방위각의 차이인 동작 방법
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