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샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템

  • 기술번호 : KST2020004019
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템에 관한 것으로, 평면파를 조사하는 광원부와, 상기 광원부로부터 조사되는 상기 평면파의 각도를 조절하는 각도 조절 미러와, 상기 각도 조절 미러에 의해 각도가 조절된 상기 평면파를 참조파와 샘플파로 분할하고, 기준 미러로부터 반사되는 상기 참조파와 상기 타겟 오브젝트로부터 반사되는 상기 샘플파 간의 간섭에 의한 간섭파를 형성하는 광학 간섭계와, 상기 간섭파를 획득하는 카메라 모듈과, 상기 각도 조절 미러가 상기 평면파의 각도를 순차적으로 조절하도록 제어하고, 각각의 각도의 상기 평면파에 대응하여 상기 카메라 모듈에 의해 획득되는 간섭파를 이용하여 시분해 반사 행렬을 생성하고, 상기 시분해 반사 행렬에 기초하여 상기 타겟 오브젝트를 이미징하는 이미징 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 속도가 느린 공간 광 변조기를 대신하여 2축 갈바노미터 스캐닝 미러와 같은 각도 조절 미러를 이용하여 빠른 측정 속도로 생체 조직과 같은 매질 내부에 있는 타겟 오브젝트의 고해상도 이미지를 획득할 수 있다.
Int. CL G01N 21/45 (2006.01.01) G01J 3/45 (2006.01.01) G01J 9/02 (2006.01.01)
CPC G01N 21/45(2013.01) G01N 21/45(2013.01) G01N 21/45(2013.01)
출원번호/일자 1020180118096 (2018.10.04)
출원인 고려대학교 산학협력단, 기초과학연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2020-0039064 (2020.04.16) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.10.04)
심사청구항수 7

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구
2 기초과학연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김문석 서울특별시 성북구
2 최원식 서울특별시 노원구
3 조용현 서울특별시 성북구
4 윤석찬 서울특별시 성북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인남촌 대한민국 서울특별시 종로구 새문안로*길 **, 도렴빌딩 ***호 (도렴동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 서울특별시 성북구
2 기초과학연구원 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2018.10.04 수리 (Accepted) 1-1-2018-0977964-50
2 보정요구서
Request for Amendment
2018.10.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0159250-09
3 직권정정안내서
Notification of Ex officio Correction
2018.10.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2018-0159251-44
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2018.10.26 수리 (Accepted) 1-1-2018-1058736-25
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.02.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.05.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2019-0140041-96
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
8 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2019.12.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2019-0910833-66
9 [출원서 등 보완]보정서
2020.02.17 수리 (Accepted) 1-1-2020-0165759-87
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2020.02.17 무효 (Invalidation) 1-1-2020-0165112-68
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2020.02.17 수리 (Accepted) 1-1-2020-0165758-31
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2020.02.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-0165756-40
13 [공지예외적용대상(신규성, 출원시의 특례)증명서류]서류제출서
[Document Verifying Exclusion from Being Publically Known (Novelty, Special Provisions for Application)] Submission of Document
2020.02.17 수리 (Accepted) 1-1-2020-0165757-96
14 보정요구서
Request for Amendment
2020.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2020-0030057-16
15 무효처분통지서
Notice for Disposition of Invalidation
2020.03.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2020-0047374-61
16 등록결정서
Decision to grant
2020.07.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0464770-17
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템에 있어서,평면파를 조사하는 광원부와,상기 광원부로부터 조사되는 상기 평면파의 각도를 조절하는 각도 조절 미러와,상기 각도 조절 미러에 의해 각도가 조절된 상기 평면파를 광 분할기를 통해 참조파와 샘플파로 분할하고, 기준 미러로부터 반사되는 상기 참조파와 상기 타겟 오브젝트로부터 반사되는 상기 샘플파 간의 간섭파를 형성하는 광학 간섭계와 - 상기 참조파와 상기 샘플파로 분할되기 전의 상기 평면파가 상기 각도 조절 미러에 의해 각도가 조절되어 상기 참조파와 상기 샘플파가 시간적 파면(Temporal front)이 일치된 상태로 상기 광 분할기에 의해 분할되고, 상기 간섭파는 전체 영역에서 간섭 무늬가 형성됨,상기 간섭파를 획득하는 카메라 모듈과,상기 각도 조절 미러가 상기 평면파의 각도를 순차적으로 조절하도록 제어하고, 각각의 각도의 상기 평면파에 대응하여 상기 카메라 모듈에 의해 획득되는 간섭파를 이용하여 시분해 반사 행렬을 생성하고, 상기 시분해 반사 행렬에 기초하여 상기 타겟 오브젝트를 이미징하는 이미징 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템
2 2
제1항에 있어서,상기 각도 조절 미러는 2축 갈바노미터 스캐닝 미러를 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템
3 3
제1항에 있어서,상기 광학 간섭계는 탈축 간섭계를 포함하는 것을 특징으로 하는 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템
4 4
제1항에 있어서,상기 이미징 제어부는 각각의 상기 간섭파로부터 획득한 상기 타겟 오브젝트의 스펙트럼을 각도 고정된 고정 참조파를 기준으로 하는 고정 스펙트럼으로 변환한 후 상기 시분해 반사 행렬을 생성하는 것을 특징으로 하는 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템
5 5
제4항에 있어서,상기 시분해 반사 행렬은 상기 샘플로 입사되는 입사파의 파형 벡터와 상기 타겟 오브젝트로부터 반사되는 반사파의 파형 벡터로 구성되고;상기 이미징 제어부는(a) 상기 시분해 반사 행렬을 상기 입사파의 파형 벡터 및 상기 반사파의 파형 벡터의 차이와, 상기 입사파의 파형 벡터로 구성된 입사 경로 수차 보정 행렬로 재구성하고,(b) 상기 입사 경로 수차 보정 행렬에서 상기 반사파와 상기 입사파 간의 차이 스펙트럼의 복소합 토탈 세기가 최대가 되는 최적 입사 경로 수차 보정 세트를 산출하고,(c) 상기 최적 입사 경로 수차 보정 세트를 이용하여 상기 시분해 반사 행렬을 보정하고,(d) 보정된 상기 시분해 반사 행렬이 상기 반사파의 파형 벡터와, 상기 입사파의 파형 벡터 및 상기 반사파의 파형 벡터의 차로 구성된 반사 경로 수차 보정 행렬로 재구성하고,(e) 상기 반사 경로 수차 보정 행렬에서 상기 반사 경로 수차 보정 행렬에 대응하는 역위상의 입사파와 반사빔 간의 차이의 스펙트럼의 복소합 토탈 세기가 최대가 되는 최적 반사 경로 수차 보정 세트를 산출하고,(f) 상기 최적 반사 경로 수차 보정 세트를 이용하여 보정된 상기 시분해 반사 행렬을 재보정하며,(g) 재보정된 상기 시분해 반사 행렬 내의 동일한 반사파 성분들의 누적에 의해 상기 타겟 오브젝트를 이미징하는 것을 특징으로 하는 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템
6 6
제5항에 있어서,상기 이미징 제어부는상기 (a) 과정 내지 상기 (f) 과정을 재보정된 상기 시분해 반사 행렬에 대해 기 등록된 기준에 따라 반복적으로 수행하며;상기 (g) 과정은 반복적인 수행 후에 수행하는 것을 특징으로 하는 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템
7 7
제5항에 있어서,상기 이미징 제어부는상기 카메라 모듈에 의해 획득된 간섭파의 전체 뷰 필드를 복수의 서브 필드로 분할하고, 각각 상기 서브 필드에 대한 시분해 반사 행렬을 생성하고, 상기 (a) 과정 내지 상기 (g) 과정을 수행하여 각각의 상기 서브 필드에 대한 이미지를 생성한 후 통합하여 상기 타겟 오브젝트를 이미징하는 것을 특징으로 하는 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템
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1 US20200110026 US 미국 FAMILY

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1 US2020110026 US 미국 DOCDBFAMILY
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1 기초과학연구원 기초과학연구원 기초과학연구단사업 분자분광학 및 동력학 연구