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복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정장치 및 측정방법

  • 기술번호 : KST2020009456
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정장치 및 측정방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 자유 곡면 3차원 형상 측정장치에 있어서, 광을 출사시키는 광원을 갖는 조명광학모듈; 상기 조명광학모듈에서 출사된 광 일부를 반사시켜 자유 곡면을 갖는 측정대상물 측으로 입사시키는 제1빔스플리터; 상기 측정대상물에서 반사된 광이 입사되어 반사광과 투사광으로 분할하는 제2빔스플리터; 상기 반사광이 입사되어 제1방향의 층밀림양을 갖는 제1방향 층밀림파를 생성하고, 상기 제1방향 층밀림파로부터 서로 다른 위상차이를 갖는 복수의 제1방향 간섭무늬를 획득하는 제1층밀리기 간섭계; 및 상기 투과광이 입사되어 제2방향의 층밀림양을 갖는 제2방향 층밀림파를 생성하고, 상기 제2방향 층밀림파로부터 서로 다른 위상차이를 갖는 복수의 제2방향간섭무늬를 획득하는 제2층밀리기 간섭계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정장치에 관한 것이다.
Int. CL G01B 11/24 (2006.01.01) G01B 9/02 (2006.01.01) G01B 11/25 (2006.01.01) G06T 7/521 (2017.01.01)
CPC G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01) G01B 11/2441(2013.01)
출원번호/일자 1020190068102 (2019.06.10)
출원인 한국표준과학연구원, 조선대학교산학협력단
등록번호/일자 10-2132559-0000 (2020.07.03)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20200709) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2019.06.10)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
2 조선대학교산학협력단 대한민국 광주광역시 동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김영식 세종특별자치시 마음로 *
2 주기남 광주광역시 광산구
3 이혁교 대전광역시 유성구
4 서용범 광주광역시 북구
5 정효빈 광주광역시 광산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 아이퍼스 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로**길*, *층(대치동 삼성빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국표준과학연구원 대한민국 대전 유성구
2 조선대학교산학협력단 대한민국 광주광역시 동구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.06.10 수리 (Accepted) 1-1-2019-0590275-24
2 보정요구서
Request for Amendment
2019.06.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2019-0100339-37
3 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2019.07.05 수리 (Accepted) 1-1-2019-0691034-29
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.09.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.11.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2020-0068026-56
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.03.26 수리 (Accepted) 4-1-2020-5071333-01
7 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2020.03.27 수리 (Accepted) 1-1-2020-0321655-53
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2020-5088703-88
9 등록결정서
Decision to grant
2020.06.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0432939-31
10 [명세서등 보정]보정서(심사관 직권보정)
2020.07.07 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2020-5017480-01
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
자유 곡면 3차원 형상 측정장치에 있어서, 광을 출사시키는 광원을 갖는 조명광학모듈;상기 조명광학모듈에서 출사된 광 일부를 반사시켜 자유 곡면을 갖는 측정대상물 측으로 입사시키는 제1빔스플리터;상기 측정대상물에서 반사된 광이 입사되어 반사광과 투사광으로 분할하는 제2빔스플리터;상기 반사광이 입사되어 제1방향의 층밀림양을 갖는 제1방향 층밀림파를 생성하고, 상기 제1방향 층밀림파로부터 서로 다른 위상차이를 갖는 복수의 제1방향 간섭무늬를 획득하는 제1층밀리기 간섭계; 및상기 투사광이 입사되어 제2방향의 층밀림양을 갖는 제2방향 층밀림파를 생성하고, 상기 제2방향 층밀림파로부터 서로 다른 위상차이를 갖는 복수의 제2방향간섭무늬를 획득하는 제2층밀리기 간섭계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정장치
2 2
제 1항에 있어서, 상기 조명광학모듈은, 단파장 광을 출사하는 광원; 상기 단파장 광을 고르게 확산시키기 위한 로테이션 디퓨져; 상기 로테이션 디퓨져를 지난 광을 평행광으로 만들기 위한 렌즈; 및 제1편광파와 제2편광파의 편광 성분비율을 조절하기 위한 편광기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정장치
3 3
제 1항에 있어서, 상기 제1층밀리기 간섭계는, 제1방향으로 회전되며 상기 반사광이 투과되어 복굴절 성질에 의해 제1편광파와 제2편광파로 분할되어 층밀림 효과를 발생시켜 제1방향 층밀림파를 생성시키는 제1복굴절유닛; 상기 제1편광파와 상기 제2편광파의 위상 지연을 발생시키는 제1쿼터파장판; 제1이미징 렌즈; 및 상기 제1방향 층밀림파에서 서로 다른 위상천이값을 갖는 복수의 제1위상천이 간섭무늬 패턴을 생성하고 측정하는 제1편광카메라;를 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정장치
4 4
제 3항에 있어서, 상기 제2층밀리기 간섭계는, 제2방향으로 회전되며 상기 투사광이 투과되어 복굴절 성질에 의해 제1편광파와 제2편광파로 분할되어 층밀림 효과를 발생시켜 제2방향 층밀림파를 생성시키는 제2복굴절유닛; 상기 제1편광파와 상기 제2편광파의 위상지연을 발생시키는 제2쿼터파장판; 제2이미징 렌즈; 및 상기 제2방향 층밀림파에서 서로 다른 위상천이값을 갖는 복수의 제2위상천이 간섭무늬 패턴을 생성하고 측정하는 제2편광카메라;를 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정장치
5 5
제 4항에 있어서, 상기 복수의 제1위상천이 간섭무늬 패턴으로부터 제1방향 기울기값을 추출하고, 상기 복수의 제2위상천이 간섭무늬 패턴으로부터 제2방향 기울기값을 추출하며, 상기 제1방향 기울기값과 상기 제2방향 기울기값으로부터 상기 측정대상물의 형상정보를 측정, 분석하는 분석수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정장치
6 6
자유 곡면 3차원 형상을 측정하기 위한 방법에 있어서, 광원을 갖는 조명광학모듈에서 광이 출사되는 단계;제1빔스플리터가 상기 조명광학모듈에서 출사된 광 일부를 반사시켜 자유 곡면을 갖는 측정대상물 측으로 입사시키는 제1단계; 상기 측정대상물에서 반사된 광이 제2빔스플리터에 입사되어 반사광과 투사광으로 분할되는 제2단계; 및제1층밀리기 간섭계가 상기 반사광을 입사받아 제1방향의 층밀림양을 갖는 제1방향 층밀림파를 생성하고 상기 제1방향 층밀림파로부터 서로 다른 위상차이를 갖는 복수의 제1방향 간섭무늬를 획득하는 제3-1단계, 동시에 제2층밀리기 간섭계가 상기 투사광을 입사받아 제2방향의 층밀림양을 갖는 제2방향 층밀림파를 생성하고, 상기 제2방향 층밀림파로부터 서로 다른 위상차이를 갖는 복수의 제2방향간섭무늬를 획득하는 제3-2단계; 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정방법
7 7
제 6항에 있어서, 상기 제1단계는, 광원에서 단파장 광이 출사되는 단계; 로테이션 디퓨져가 상기 단파장 광을 고르게 확산시키는 단계; 렌즈가 상기 로테이션 디퓨져를 지난 광을 평행광으로 생성하는 단계; 및 편광기가 제1편광파와 제2편광파의 편광 성분비율을 조절하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정방법
8 8
제 6항에 있어서, 상기 제3-1단계는, 제1방향으로 회전된 제1복굴절유닛에 상기 반사광이 투과되어 복굴절 성질에 의해 제1편광파와 제2편광파로 분할되어 층밀림 효과를 발생시켜 제1방향 층밀림파를 생성시키는 단계; 제1쿼터파장판이 상기 제1편광파와 상기 제2편광파의 위상지연을 발생시키는 단계; 제1이미징 렌즈가 상기 제1방향 층밀림파를 제1편광카메라로 입사시키는 단계; 및 제1편광카메라가 상기 제1방향 층밀림파에서 서로 다른 위상천이값을 갖는 복수의 제1위상천이 간섭무늬 패턴을 생성하고 측정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정방법
9 9
제 6항에 있어서, 상기 제3-2단계는, 제2방향으로 회전된 제2복굴절유닛에 상기 투사광이 투과되어 복굴절 성질에 의해 제1편광파와 제2편광파로 분할되어 층밀림 효과를 발생시켜 제2방향 층밀림파를 생성시키는 단계; 제2쿼터파장판이 제1편광파와 제2편광파의 위상지연을 발생시키는 단계; 제2이미징 렌즈가 상기 제2방향 층밀림파를 제2편광카메라로 입사시키는 단계; 및 제2편광카메라가 상기 제2방향 층밀림파에서 서로 다른 위상천이값을 갖는 복수의 제2위상천이 간섭무늬 패턴을 생성하고 측정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정방법
10 10
제 9항에 있어서, 분석수단이 상기 복수의 제1위상천이 간섭무늬 패턴으로부터 제1방향 기울기값을 추출하고, 상기 복수의 제2위상천이 간섭무늬 패턴으로부터 제2방향 기울기값을 추출하며, 상기 제1방향 기울기값과 상기 제2방향 기울기값으로부터 상기 측정대상물의 형상정보를 측정, 분석하는 제4단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 복굴절 매질을 이용한 층밀리기 간섭계 기반의 실시간 자유 곡면 3차원 형상 측정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.