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두께 측정 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2021002649
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 두께 측정 장치 및 방법을 개시한다. 상기 두께 측정 장치는, 반도체 공정용 챔버(chamber) 내의 측정 대상체에 레이저 빔을 조사하는 레이저; 상기 챔버 내부에 설치되고, 상기 레이저 빔의 일부를 반사하고 나머지 일부를 투과하는 석영 유리; 상기 챔버 내부에 설치되고, 상기 석영 유리에서 반사된 제1 반사광의 강도를 감지하는 제1 수광 센서; 상기 챔버 내부에 설치되고, 상기 석영 유리를 투과한 상기 레이저 빔이 상기 측정 대상체에서 반사된 제2 반사광의 강도를 감지하는 제2 수광 센서; 및 상기 제1 반사광의 강도와 상기 제2 반사광의 강도를 비교하여 상기 측정 대상체의 반사율을 연산하고, 상기 반사율과 사전에 설정된 두께 별 반사율을 비교하여 상기 측정 대상체의 두께를 측정하는 제어기;를 포함한다.
Int. CL G01B 11/06 (2006.01.01) H01L 21/265 (2006.01.01) H01L 21/67 (2006.01.01)
CPC G01B 11/0625(2013.01) H01L 22/12(2013.01) H01L 22/30(2013.01) H01L 21/265(2013.01) H01L 21/67213(2013.01) H01L 21/67242(2013.01) G01B 2210/56(2013.01)
출원번호/일자 1020190093061 (2019.07.31)
출원인 에스케이하이닉스 주식회사, 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2021-0014947 (2021.02.10) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 18

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 에스케이하이닉스 주식회사 대한민국 경기도 이천시
2 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 문승재 서울특별시 마포구
2 윤중호 경기도 수원시 영통구
3 황종진 서울특별시 노원구
4 유청일 경기도 화성
5 정성묵 경기도 용인시 기흥구
6 제갈문형 경기도 용인시 기흥구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이철희 대한민국 서울특별시 강남구 삼성로***길 *, ***호 가디언국제특허법률사무소 (삼성동, 우경빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2019.07.31 수리 (Accepted) 1-1-2019-0786429-55
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
반도체 공정용 챔버(chamber) 내의 측정 대상체에 레이저 빔을 조사하는 레이저;상기 챔버 내부에 설치되고, 상기 레이저 빔의 일부를 반사하고 나머지 일부를 투과하는 석영 유리;상기 챔버 내부에 설치되고, 상기 석영 유리에서 반사된 제1 반사광의 강도를 감지하는 제1 수광 센서;상기 챔버 내부에 설치되고, 상기 석영 유리를 투과한 상기 레이저 빔이 상기 측정 대상체에서 반사된 제2 반사광의 강도를 감지하는 제2 수광 센서; 및상기 제1 반사광의 강도와 상기 제2 반사광의 강도를 비교하여 상기 측정 대상체의 반사율을 연산하고, 상기 반사율과 사전에 설정된 두께 별 반사율을 비교하여 상기 측정 대상체의 두께를 측정하는 제어기;를 포함하는 두께 측정 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 제어기는 상기 측정 대상체로서 이온 주입 공정에 이용되는 에너지 퓨리티 모듈(energy purity module, EPM)의 전극 로드에 증착된 불순물의 두께를 측정하는 두께 측정 장치
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 제어기는 상기 전극 로드에 증착된 불순물의 두께와 사전에 설정된 기준 파라미터를 비교하여 상기 전극 로드의 교체 시기를 연산하는 두께 측정 장치
4 4
제 1 항에 있어서,상기 제2 수광 센서의 앞 단에 상기 제2 반사광을 집광하는 집광 렌즈를 더 포함하는 두께 측정 장치
5 5
제 1 항에 있어서,상기 사전에 설정된 두께 별 반사율은 상기 측정 대상체의 물질에 따라 분류되는 두께 측정 장치
6 6
제 5 항에 있어서,상기 사전에 설정된 두께 별 반사율은 상기 레이저 빔의 입사각에 따라 분류되는 두께 측정 장치
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 제어기는 상기 측정 대상체로서 웨이퍼(wafer)에 증착된 반투명 박막의 두께를 측정하는 두께 측정 장치
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 제어기는 상기 측정 대상체에 레이저 빔을 적어도 두 개 이상의 입사각들로 조사하도록 상기 레이저를 제어하는 두께 측정 장치
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 제어기는 상기 입사각들 별 반사율을 연산하고, 상기 입사각들 별 반사율과 상기 레이저 빔의 입사각에 따라 분류된 상기 사전에 설정된 두께 별 반사율을 비교하여 상기 측정 대상체의 두께를 측정하는 두께 측정 장치
10 10
레이저가 레이저 빔을 반도체 공정용 챔버 내의 석영 유리를 통해서 측정 대상체에 조사하는 단계;제1 수광 센서가 상기 석영 유리에서 반사된 제1 반사광의 강도를 감지하는 단계;제2 수광 센서가 상기 석영 유리를 투과한 상기 레이저 빔이 상기 측정 대상체에서 반사된 제2 반사광의 강도를 감지하는 단계; 및제어기가 상기 제1 반사광의 강도와 상기 제2 반사광의 강도를 비교하여 상기 측정 대상체의 반사율을 연산하고, 상기 반사율과 사전에 설정된 두께 별 반사율을 비교하여 상기 측정 대상체의 두께를 측정하는 단계;를 포함하는 두께 측정 방법
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 제어기는 상기 측정 대상체로서 이온 주입에 이용되는 에너지 퓨리티 모듈의 전극 로드에 증착된 불순물의 두께를 측정하는 두께 측정 방법
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 제어기는 상기 전극 로드에 증착된 불순물의 두께와 사전에 설정된 기준 파라미터를 비교하여 상기 전극 로드의 교체 시기를 연산하는 단계;를 더 포함하는 두께 측정 방법
13 13
제 10 항에 있어서,상기 사전에 설정된 두께 별 반사율은 상기 측정 대상체의 물질에 따라 분류되는 두께 측정 방법
14 14
제 13 항에 있어서,상기 사전에 설정된 두께 별 반사율은 상기 레이저 빔의 입사각에 따라 분류되는 두께 측정 방법
15 15
제 10 항에 있어서, 상기 제어기는 상기 측정 대상체로서 웨이퍼에 증착된 반투명 박막의 두께를 측정하는 두께 측정 방법
16 16
제 15 항에 있어서, 상기 제어기는 상기 반투명 박막에 레이저 빔을 적어도 두 개 이상의 입사각들로 조사하도록 상기 레이저를 제어하는 두께 측정 방법
17 17
제 16 항에 있어서, 상기 제어기는 상기 입사각들 별 반사율을 연산하고, 상기 입사각들 별 반사율과 상기 사전에 설정된 두께 별 반사율을 비교하여 상기 측정 대상체의 두께를 측정하는 두께 측정 방법
18 18
제 17 항에 있어서, 상기 사전에 설정된 두께 별 반사율은 상기 반투명 박막의 물질에 따라 분류되고, 상기 레이버 빔의 입사각에 따라 분류되는 두께 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.