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1
제1 값 또는 제2 값을 각각 갖는 일련의 비트들을 포함하는 직교 코드를 수신하고, 상기 일련의 비트들 중 상기 제1 값을 갖는 비트에 대응하는 비트 구간에서 상기 비트 구간보다 짧은 폭의 펄스를 갖는 제어 신호를 생성하고, 상기 제어 신호에 포함된 상기 펄스를 트리거로 상기 비트 구간보다 짧은 펄스 폭을 갖는 펄스 레이저 빔을 생성하고, 상기 생성된 펄스 레이저 빔을 포함하는 입사빔을 샘플에 조사하도록 구성된 레이저 조사 장치; 및 상기 입사빔이 조사된 상기 샘플에서 발생하는 검출 신호 및 상기 직교 코드를 수신하고, 상기 직교 코드를 기반으로 상기 입사빔과 동일한 파형의 직교 코드 신호를 생성하고, 상기 생성된 직교 코드 신호 및 상기 검출 신호에 포함된 라만 신호의 상관 관계를 기반으로 상기 라만 신호를 복조하도록 구성된 검출기를 포함하는 분광 장치
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2
제 1 항에 있어서,상기 제어 신호는 제1 전압 또는 상기 제1 전압보다 높은 제2 전압을 가지며, 상기 일련의 비트들 중 상기 제1 값을 갖는 비트에 대응하는 상기 비트 구간에서 상기 제2 전압을 가진 후 상기 제1 전압을 갖고, 상기 일련의 비트들 중 상기 제2 값을 갖는 비트에 대응하는 다른 비트 구간에서 상기 제1 전압을 유지하는 분광 장치
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3
제 1 항에 있어서,상기 레이저 조사 장치는 상기 제어 신호에 포함된 상기 펄스의 상승 에지를 트리거로 상기 펄스 레이저 빔을 생성하도록 더 구성된 분광 장치
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4
제 1 항에 있어서,상기 레이저 조사 장치는 상기 제어 신호에 포함된 상기 펄스의 하강 에지를 트리거로 상기 펄스 레이저 빔을 생성하도록 더 구성된 분광 장치
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5
제 1 항에 있어서,상기 레이저 조사 장치는:상기 직교 코드를 수신하고, 상기 펄스 레이저 빔을 포함하는 시분해 빔을 출력하도록 구성된 주발진기; 및상기 시분해 빔을 수신하고, 상기 수신된 시분해 빔을 증폭하여 상기 입사빔을 상기 샘플에 조사하도록 구성된 파워 증폭기를 포함하는 분광 장치
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6
제 5 항에 있어서,상기 주발진기는: 상기 직교 코드를 수신하고, 상기 수신된 직교 코드를 기반으로 상기 제어 신호를 출력하도록 구성된 제어신호 생성기;상기 제어 신호를 수신하고, 상기 제어 신호를 기반으로 상기 펄스 레이저 빔을 생성하는 트리거 신호를 출력하도록 구성된 제어기; 및상기 트리거 신호를 수신하고, 상기 펄스 레이저 빔의 상기 펄스 폭을 결정하는 시분해 폭 정보를 포함하고, 상기 수신된 트리거 신호 및 상기 시분해 폭 정보를 기반으로 상기 시분해 빔을 출력하도록 구성된 광원을 포함하는 분광 장치
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7
제 5 항에 있어서,상기 파워 증폭기는 상기 시분해 빔을 수신하고, 상기 시분해 빔에서 역반사되는 광을 차단하도록 구성된 아이솔레이터를 포함하는 분광 장치
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8
제 5 항에 있어서,상기 파워 증폭기는:이득 매질에 광 펌핑을 하는 제1 펌프 레이저 빔을 출력하도록 구성된 제1 펌프 레이저; 및상기 시분해 빔과 상기 제1 펌프 레이저 빔을 결합하도록 구성된 결합기를 포함하는 분광 장치
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9
제 8 항에 있어서,상기 파워 증폭기는 상기 이득 매질에 광 펌핑을 하는 제2 펌프 레이저 빔을 출력하도록 구성된 제2 펌프 레이저를 더 포함하고,상기 결합기는 상기 시분해 빔, 상기 제1 펌프 레이저 빔, 및 상기 제2 펌프 레이저 빔을 결합하도록 더 구성된 분광 장치
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10
제 5 항에 있어서,상기 파워 증폭기는 상기 시분해 빔의 파장에 해당하는 레이저 빔을 통과시키고, 잡음을 차단하도록 구성된 필터를 포함하는 분광 장치
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11
제 5 항에 있어서,상기 파워 증폭기는:상기 시분해 빔을 수신하고, 상기 수신된 시분해 빔을 증폭하여 제1 증폭된 시분해 빔을 출력하도록 구성된 제1 증폭단;상기 제1 증폭된 시분해 빔을 수신하고, 상기 제1 증폭된 시분해 빔을 더 증폭한 제2 증폭된 시분해 빔을 출력하도록 구성된 제2 증폭단; 및상기 제2 증폭된 시분해 빔을 수신하고, 상기 제2 증폭된 시분해 빔을 더 증폭한 상기 입사빔을 상기 샘플에 조사하도록 구성된 제3 증폭단을 포함하는 분광 장치
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12
제1 값 또는 제2 값을 각각 갖는 일련의 비트들을 포함하는 직교 코드를 생성하는 단계;상기 일련의 비트들 중 상기 제1 값을 갖는 비트에 대응하는 비트 구간에서 상기 비트 구간보다 짧은 폭의 펄스를 갖는 제어 신호를 생성하는 단계;상기 제어 신호에 포함된 상기 펄스를 트리거로 상기 비트 구간보다 짧은 펄스 폭을 갖는 펄스 레이저 빔을 생성하고, 상기 생성된 펄스 레이저 빔을 포함하는 입사빔을 샘플에 조사하는 단계;상기 입사빔이 조사된 상기 샘플에서 출력되는 검출 신호를 수신하는 단계; 및상기 직교 코드를 기반으로 상기 입사빔과 동일한 파형의 직교 코드 신호를 생성하고, 상기 직교 코드 신호 및 상기 검출 신호에 포함된 라만 신호의 상관 관계를 기반으로 상기 라만 신호를 복조하는 단계를 포함하는 분광 방법
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제 12 항에 있어서,상기 검출 신호는: 제1 강도를 갖고 제1 시간에 수신되는 상기 라만 신호; 및상기 제1 강도보다 높은 제2 강도를 갖고 상기 제1 시간보다 늦은 제2 시간에 수신되는 잡음 신호를 포함하는 분광 방법
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제 13 항에 있어서,상기 라만 신호를 복조하는 단계는 상기 직교 코드 신호 및 상기 잡음 신호의 상관 관계를 기반으로 상기 잡음 신호를 제거하는 단계를 더 포함하고,상기 복조된 라만 신호의 강도는 상기 제거된 잡음 신호의 강도보다 높은 분광 방법
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제 12 항에 있어서,상기 검출 신호는 제1 수명 시간을 갖는 상기 라만 신호 및 상기 제1 수명 시간보다 긴 제2 수명 시간을 갖는 잡음 신호를 포함하고,상기 펄스 레이저 빔의 상기 펄스 폭은 상기 제1 수명 시간보다 길고 상기 제2 수명 시간보다 짧은 분광 방법
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