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스캔 플립 플롭과 캐스케이드로 연결된 경로 제어 스캔 플립 플롭들을 포함하는 스캔 체인을 복수개 포함하는 스캔 파티션을 포함하며, 상기 스캔 파티션 내 스캔 플립플롭의 연결 경로는 제어 가능하고, 상기 고장의 위치를 검출하도록 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭들의 연결 경로가 제어되어 상기 스캔 파티션 내의 고장 범위를 감축시켜 고장 진단하는 스캔 장치
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제1항에 있어서, 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭은, 상기 스캔 파티션 내에서 어레이 형태로 배치되고, 상기 어레이 내에서 동일한 열에 배치된 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭들은 동일한 상기 경로 제어 신호로 상기 연결 경로가 제어되는 스캔 장치
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제1항에 있어서, 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭은, 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭이 배치된 스캔 체인에서 이전 스테이지의 출력이 제공되는 제1 입력과, 상기 스캔 파티션에 포함된 다른 스캔 체인에서, 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭과 동일한 열의 출력이 제공되는 제2 입력을 포함하고, 상기 경로 제어 신호에 따라 상기 제1 입력 및 상기 제2 입력으로 제공된 신호 중 어느 하나를 출력하는 다중화기(MUX) 및 플립플롭을 포함하는 스캔 장치
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제1항에 있어서, 상기 고장 진단을 수행하는 상기 스캔 장치는상기 고장의 위치를 검출하도록 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭들의 연결 경로를 제어하여 상기 스캔 파티션 내의 고장 범위를 감축시키는 제1 페이즈를 수행하고, 상기 제1 페이즈의 수행 결과로 상기 스캔 파티션 내에서 세 개 이상의 고장이 검출되면 제2 페이즈를 더 수행하는 스캔 장치
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제4항에 있어서, 상기 스캔 체인은 L 개의 상기 스캔 플립 플롭들을 포함하고, 상기 스캔 파티션은 N 개의 상기 스캔 체인들을 포함하며, 상기 제1 페이즈에서(a) 상기 경로를 변경하지 않은 채로 플러시 테스트를 수행하는 단계와(b) 상기 L 보다 작되 가장 인접한 Ni 번째 열에 상기 경로 제어 신호를 제공하여 상기 경로를 변경하여 플러시 테스트를 수행하는 단계와, (c) 상기 경로가 변경되지 않은 Ni-1의 배수번째 열, Ni-2의 배수번째 열 내지 1번째 열까지 순차적으로 경로 제어 신호를 제공하여 상기 경로를 변경하고 플러시 테스트를 수행하는 단계가 수행되는 스캔 체인 고장 진단 장치(N, L, i: 0 이상의 정수)
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제5항에 있어서, 상기 제2 페이즈에서 형성되는 상기 경로는상기 (a) 단계 내지 상기 (c) 단계에서 연결되지 않은 경로인 스캔 장치
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제4항에 있어서,상기 제1 페이즈의 수행 결과로 상기 스캔 파티션 내에서 검출된 고장이 없거나, 두 개 이하의 고장이 검출되면 상기 고장의 위치 검출을 중단하는 스캔 장치
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제5항에 있어서, 논리 하이와 논리 로우가 미리 정해진 비율로 포함된 플러시 패턴을 제공하는 플러시 테스트로 상기 고장의 위치를 검출하되, 상기 논리 하이와 상기 논리 로우가 상기 미리 정해진 비율로 포함되되 입력된 신호의 위상이 변화되어 출력될 때 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭의 고장으로 파악하는 스캔 장치
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단순 스캔 플립 플롭과 캐스케이드로 연결된 경로 제어 스캔 플립 플롭들을 포함하는 스캔 체인을 복수개 포함하는 스캔 파티션에서, 상기 경로 제어 스캔 플립플롭들의 연결 경로를 변경하여 상기 스캔 파티션 내의 고장 위치를 감축시켜 상기 고장을 검출하는 제1 페이즈와, 상기 제1 페이즈의 수행 결과에 따라 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭들이 상기 제1 페이즈에서 변경되지 않은 연결 경로로 연결되어 상기 스캔 파티션 내의 고장 위치를 파악하는 제2 페이즈를 포함하는 스캔 체인 고장 진단 방법
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제9항에 있어서, 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭은, 상기 스캔 파티션 내에서 어레이 형태로 배치되고, 상기 어레이 내에서 동일한 열에 배치된 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭들은 동일한 상기 경로 제어 신호로 상기 연결 경로가 제어되는 스캔 체인 고장 진단 방법
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제9항에 있어서, 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭은, 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭이 배치된 스캔 체인에서 이전 스테이지의 출력이 제공되는 제1 입력과, 상기 스캔 파티션에 포함된 다른 스캔 체인에서, 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭과 동일한 열의 출력이 제공되는 제2 입력을 포함하고, 상기 경로 제어 신호에 따라 상기 제1 입력 및 상기 제2 입력으로 제공된 신호 중 어느 하나를 출력하는 다중화기(MUX) 및 플립플롭을 포함하는 스캔 체인 고장 진단 방법
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제9항에 있어서, 상기 제2 페이즈는, 상기 제1 페이즈의 수행 결과로 상기 스캔 파티션 내에서 세 개 이상의 고장이 검출되면 수행되는 스캔 체인 고장 진단 방법
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제9항에 있어서, 상기 스캔 체인은 L 개의 상기 스캔 플립 플롭들을 포함하고, 상기 스캔 파티션은 N 개의 상기 스캔 체인들을 포함하며, 상기 제1 페이즈는,(a) 상기 경로를 변경하지 않은 채로 플러시 테스트를 수행하는 단계와(b) 상기 L 과 같거나 작으며 가장 인접한 Ni 번째 열에 상기 경로 제어 신호를 제공하여 상기 경로를 변경하여 플러시 테스트를 수행하는 단계와, (c) Ni-1의 배수번째 열, Ni-2의 배수번째 열 내지 1번째 열까지 순차적으로 경로 제어 신호를 제공하고 상기 경로를 변경하여 플러시 테스트를 수행하는 단계가 수행되는 스캔 체인 고장 진단 방법(N, L, i: 0 이상의 정수)
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제13항에 있어서, 상기 제2 페이즈에서,상기 (a) 단계 내지 상기 (c) 단계에서 Ni 번째 열, Ni-1 번째 열 내지 1번째 열에 제공되지 않은 순서로 상기 경로 제어 신호가 제공되어 상기 고장을 검출하는 스캔 체인 고장 진단 방법
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제9항에 있어서,상기 제1 페이즈의 수행 결과로 상기 스캔 파티션 내에서 검출된 고장이 없거나, 두 개 이하의 고장이 검출되면 상기 고장의 위치 검출을 중단하는 스캔 체인 고장 진단 방법
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제13항에 있어서, 논리 하이와 논리 로우가 미리 정해진 비율로 포함된 플러시 패턴을 제공하는 플러시 테스트로 상기 고장의 위치를 검출하되, 상기 논리 하이와 상기 논리 로우가 상기 미리 정해진 비율로 포함되되 입력된 플러시 패턴과 다른 위상으로 출력될 때 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭의 고장으로 파악하는 스캔 체인 고장 진단 방법
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