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설정된 패턴의 구조광을 대상물에 출력하도록 구성되는 구조광 출력부; 및상기 대상물에서 반사된 구조광에 대해 홀로그래픽 이미지를 생성하고, 상기 구조광의 패턴에 따라 생성되는 간섭 무늬를 기반으로 위상 정보를 획득하고, 상기 위상 정보를 기반으로 상기 대상물의 표면에 관한 깊이 정보를 획득하도록 구성되는 홀로그래픽 카메라;를 포함하는 깊이 측정 장치
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제1항에 있어서,상기 홀로그래픽 카메라는:상기 대상물에서 반사된 구조광을 편광시키는 편광기;상기 편광기를 통과한 구조광의 파면을 분리하고 위상을 변조하는 기하학적 위상 렌즈; 및상기 기하학적 위상 렌즈를 통과한 구조광으로부터 홀로그램 패턴을 측정하는 편광 이미지 센서;를 포함하는 깊이 측정 장치
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제2항에 있어서,상기 홀로그래픽 카메라는:상기 홀로그램 패턴의 자동 초점 정렬을 통해 상기 대상물의 표면 깊이를 검출하도록 구성되는 깊이 검출부;를 더 포함하는 깊이 측정 장치
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제3항에 있어서,상기 깊이 검출부는:초점이 맞는 전파 길이를 찾기 위하여 수치적 복원을 통해 다양한 수치적 복원 깊이에 따른 홀로그램의 선명도를 평가하고;상기 홀로그램의 선명도가 가장 높은 수치적 복원 깊이를 찾아 상기 대상물의 표면 깊이를 측정하도록 구성되는 깊이 측정 장치
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제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 구조광은 일정한 주기를 가지는 바이너리(binary) 줄무늬 패턴을 가지는 비간섭광을 포함하는 깊이 측정 장치
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홀로그래픽 카메라에 의해, 대상물에서 반사된 구조광에 대해 홀로그램 패턴을 생성하는 단계; 및상기 홀로그래픽 카메라에 의해, 상기 홀로그램 패턴의 간섭 무늬를 기반으로 위상 정보를 획득하고, 상기 위상 정보를 기반으로 상기 대상물의 표면에 관한 깊이 정보를 획득하는 단계;를 포함하는 깊이 측정 방법
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제6항에 있어서,상기 홀로그램 패턴을 생성하는 단계는:편광기에 의해, 상기 대상물에서 반사된 구조광을 편광시키는 단계;기하학적 위상 렌즈에 의해, 상기 편광기를 통과한 구조광의 파면을 분리하고 위상을 변조하는 단계; 및편광 이미지 센서에 의해, 상기 기하학적 위상 렌즈를 통과한 구조광으로부터 홀로그램 패턴을 측정하는 단계;를 포함하는 깊이 측정 방법
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제7항에 있어서,상기 깊이 정보를 획득하는 단계는:상기 홀로그램 패턴의 자동 초점 정렬을 통해 상기 대상물의 표면 깊이를 검출하는 단계;를 포함하는 깊이 측정 방법
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제8항에 있어서,상기 표면 깊이를 검출하는 단계는:초점이 맞는 전파 길이를 찾기 위하여 수치적 복원을 통해 다양한 수치적 복원 깊이에 따른 홀로그램의 선명도를 평가하는 단계; 및상기 홀로그램의 선명도가 가장 높은 수치적 복원 깊이를 찾아 상기 대상물의 표면 깊이를 측정하는 단계;를 포함하는 깊이 측정 방법
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제6항에 있어서,상기 구조광은 일정한 주기를 가지는 줄무늬 패턴을 가지도록 설정되는 깊이 측정 방법
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제6항의 깊이 측정 방법을 실행시키도록 컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체에 기록된 컴퓨터 프로그램
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