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레이더 시스템에서 레이더 신호 처리 장치의 동작 방법으로서,서로 다른 위상을 가진 어느 하나의 샘플링 비율 개수의 펄스 신호들을 생성하는 단계;상기 펄스 신호들을 표적을 향하여 송신하는 단계;상기 표적에서 반사되어 되돌아 오는 반사 펄스 신호들을 수신하는 단계;상기 반사 펄스 신호들을 샘플링한 후에 위상이 일치하도록 합성하여 합성 신호를 생성하는 단계; 및 상기 합성 신호로부터 표적 정보를 추출하는 단계를 포함하는, 레이더 신호 처리 장치의 동작 방법
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청구항 1에 있어서, 상기 서로 다른 위상을 가진 어느 하나의 샘플링 비율 개수의 송신 펄스 신호들을 생성하는 단계는,이론적인 최대 샘플링 주파수를 결정하는 단계;상기 이론적인 최대 샘플링 주파수보다 작은 실제적인 최대 샘플링 주파수들을 선택하는 단계;상기 이론적인 최대 샘플링 주파수에 대한 상기 실제적인 최대 샘플링 주파수들의 비율들인 샘플링 비율들을 산출하는 단계;상기 샘플링 비율들에서 양의 정수를 가지는 상기 어느 하나의 샘플링 비율을 선택하는 단계; 및 상기 선택한 샘플링 비율 개수의 상기 송신 펄스 신호들을 상기 서로 다른 위상을 갖도록 생성하는 단계를 포함하는, 레이더 신호 처리 장치의 동작 방법
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청구항 2에 있어서, 상기 서로 다른 위상은 일 수 있고, 여기서, 상기 SR은 상기 선택된 샘플링 비율일 수 있고, 상기 는 상기 선택된 샘플링 비율의 상기 실제적인 ADC 최대 샘플링 주파수의 샘플링 간격인, 레이더 신호 처리 장치의 동작 방법
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청구항 2에 있어서, 상기 선택한 샘플링 비율 개수의 상기 송신 펄스 신호들을 상기 서로 다른 위상을 갖도록 생성하는 단계는, N개의 기본 주파수 신호들을 생성하는 단계; 및 상기 N개의 기본 주파수 신호들의 위상을 조절하면서 합성하여 상기 송신 펄스 신호들을 생성하는 단계를 포함하며, 상기 N은 양의 정수인, 레이더 신호 처리 장치의 동작 방법
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청구항 4에 있어서, 각 송신 펄스 신호를 구성하는 각 기본 주파수 신호의 위상 은 이며, 여기서, b는 1 내지 SR이고, n은 상기 각 기본 주파수 신호의 인덱스이고, 은 상기 각 기본 주파 신호의 주파수이며, b는 상기 각 송신 펄스 신호의 인덱스이고, 는 상기 각 기본 주파수 신호의 주파수 간격이고, 상기 SR은 상기 SR은 상기 선택된 샘플링 비율인, 레이더 신호 처리 장치의 동작 방법
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청구항 1에 있어서, 상기 반사 펄스 신호들을 샘플링한 후에 위상이 일치하도록 합성하여 합성 신호를 생성하는 단계는, 상기 반사 펄스 신호들을 샘플링하는 단계:상기 샘플링된 반사 펄스 신호들의 각각의 위상을 직전의 샘플링된 반사 펄스 신호의 위상보다 일정 크기로 지연시키는 단계; 및 상기 위상이 지연된 샘플링된 반사 펄스 신호들을 합성하여 합성 신호를 생성하는 단계를 포함하는, 레이더 신호 처리 장치의 동작 방법
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청구항 6에 있어서, 상기 샘플링된 반사 펄스 신호들의 각각의 위상을 직전의 샘플링된 반사 펄스 신호의 위상보다 일정 크기로 지연시키는 단계는, 샘플링된 첫 번째 반사 펄스 신호의 샘플들을 각각의 샘플링 인터벌 그리드(sampling interval grid)에 배치하는 단계; 및 각각의 후속하는 샘플링된 반사 펄스 신호의 샘플들을 해당하는 펄스 신호를 생성할 때에 위상이 당겨진 시간만큼 지연된 각각의 샘플링 인터벌 그리드에 배치하는 단계를 포함하는, 레이더 신호 처리 장치의 동작 방법
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레이더 신호 처리 장치로서, 프로세서(processor);상기 프로세서와 전자적(electronic)으로 통신하는 메모리(memory); 그리고상기 메모리에 저장되는 명령들(instructions)을 포함하며,상기 명령들이 상기 프로세서에 의해 실행되는 경우, 상기 명령들은 상기 레이더 신호 처리 장치가,서로 다른 위상을 가진 어느 하나의 샘플링 비율 개수의 펄스 신호들을 생성하고;상기 펄스 신호들을 표적을 향하여 송신하고;상기 표적에서 반사되어 되돌아 오는 반사 펄스 신호들을 수신하고;상기 반사 펄스 신호들을 샘플링한 후에 위상이 일치하도록 합성하여 합성 신호를 생성하고; 그리고 상기 합성 신호로부터 표적 정보를 추출하는 것을 야기하도록 동작하는, 레이더 신호 처리 장치
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청구항 8에 있어서, 상기 서로 다른 위상을 가진 어느 하나의 샘플링 비율 개수의 송신 펄스 신호들을 생성하는 경우 상기 명령들은 상기 레이더 신호 처리 장치가, 이론적인 최대 샘플링 주파수를 결정하고;상기 이론적인 최대 샘플링 주파수보다 작은 실제적인 최대 샘플링 주파수들을 선택하고;상기 이론적인 최대 샘플링 주파수에 대한 상기 실제적인 최대 샘플링 주파수들의 비율들인 샘플링 비율들을 산출하고;상기 샘플링 비율들에서 양의 정수를 가지는 상기 어느 하나의 샘플링 비율을 선택하고; 그리고상기 선택한 샘플링 비율 개수의 상기 송신 펄스 신호들을 상기 서로 다른 위상을 갖도록 생성하는 것을 야기하도록 동작하는, 레이더 신호 처리 장치
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청구항 9에 있어서, 상기 선택한 샘플링 비율 개수의 상기 송신 펄스 신호들을 상기 서로 다른 위상을 갖도록 생성하는 경우 상기 명령들은 상기 레이더 신호 처리 장치가, N개의 기본 주파수 신호들을 생성하고; 그리고상기 N개의 기본 주파수 신호들의 위상을 조절하면서 합성하여 상기 송신 펄스 신호들을 생성하는 것을 야기하도록 동작하며, 상기 N은 양의 정수인, 레이더 신호 처리 장치
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청구항 8에 있어서, 상기 반사 펄스 신호들을 샘플링한 후에 위상이 일치하도록 합성하여 합성 신호를 생성하는 경우 상기 명령들은 상기 레이더 신호 처리 장치가, 상기 반사 펄스 신호들을 샘플링하고:상기 샘플링된 반사 펄스 신호들의 각각의 위상을 직전의 샘플링된 반사 펄스 신호의 위상보다 일정 크기로 지연시키고; 그리고 상기 위상이 지연된 샘플링된 반사 펄스 신호들을 합성하여 합성 신호를 생성하는 것을 야기하도록 동작하는, 레이더 신호 처리 장치
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청구항 11에 있어서, 상기 샘플링된 반사 펄스 신호들의 각각의 위상을 직전의 샘플링된 반사 펄스 신호의 위상보다 일정 크기로 지연시키는 경우 상기 명령들은 상기 레이더 신호 처리 장치가, 샘플링된 첫 번째 반사 펄스 신호의 샘플들을 각각의 샘플링 인터벌 그리드(sampling interval grid)에 배치하고; 그리고 각각의 후속하는 샘플링된 반사 펄스 신호의 샘플들을 해당하는 펄스 신호를 생성할 때에 위상이 당겨진 시간만큼 지연된 각각의 샘플링 인터벌 그리드에 배치하는 것을 야기하도록 동작하는, 레이더 신호 처리 장치
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