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메모리 테스트 장치

  • 기술번호 : KST2023002174
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 메모리 테스트 신뢰성이 향상된 메모리 테스트 장치가 제공된다. 몇몇 실시예에 따른 메모리 테스트 장치는, 복수의 메모리 셀들 각각에 포함된 커맨드를 바탕으로, 커맨드 특징(feature) 벡터를 추출하는 커맨드 특징 벡터 추출기, 및 복수의 메모리 셀들 각각에 포함된 어드레스 관련 정보를 바탕으로, 어드레스 특징 벡터를 추출하는 어드레스 특징 벡터 추출기를 포함한다.
Int. CL G11C 29/10 (2015.01.01) G11C 29/18 (2006.01.01) G06F 11/10 (2006.01.01)
CPC G11C 29/10(2013.01) G11C 29/18(2013.01) G06F 11/1008(2013.01)
출원번호/일자 1020220071200 (2022.06.13)
출원인 삼성전자주식회사, 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-2511104-0000 (2023.03.13)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20230315) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2022.06.13)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강유 서울특별시 서초구
2 채수현 경기도 수원시 영통구
3 박종민 경기도 수원시 영통구
4 장준기 서울특별시 관악구
5 이지용 경기도 수원시 영통구
6 심수연 서울특별시 관악구
7 예블라디미르 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인가산 대한민국 서울 서초구 남부순환로 ****, *층(서초동, 한원빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 경기도 수원시 영통구
2 서울대학교 산학협력단 서울특별시 관악구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2022.06.13 수리 (Accepted) 1-1-2022-0611054-72
2 [우선심사신청]심사청구서·우선심사신청서
2022.06.13 수리 (Accepted) 1-1-2022-0611346-09
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2022.06.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2022.06.20 수리 (Accepted) 9-1-2022-0008796-06
5 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2022.08.11 수리 (Accepted) 4-1-2022-5189083-38
6 특허고객번호 정보변경(경정)신고서·정정신고서
2022.10.07 수리 (Accepted) 4-1-2022-5235636-01
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2022.10.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2022-0783895-22
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2022.11.23 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2022-1251310-45
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견서·답변서·소명서
2022.11.23 수리 (Accepted) 1-1-2022-1251309-09
10 등록결정서
Decision to grant
2022.12.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2022-0998921-19
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수의 메모리 셀들 각각에 포함된 커맨드와, 상기 커맨드의 종류를 바탕으로, 상기 커맨드의 종류가 반영된 커맨드 특징(feature) 벡터를 추출하는 커맨드 특징 벡터 추출기; 및상기 복수의 메모리 셀들 각각에 대한 랭크 주소, 뱅크 그룹 주소, 및 어드레스 주소가 포함된 어드레스 관련 정보를 바탕으로, 어드레스 특징 벡터를 추출하는 어드레스 특징 벡터 추출기를 포함하는 메모리 테스트 장치
2 2
제 1항에 있어서,상기 커맨드 특징 벡터 추출기는,상기 복수의 메모리 셀들에 포함된 상기 커맨드를 추출하는 커맨드 필드 추출기와,상기 커맨드 필드 추출기를 통해 추출된 상기 커맨드를 바탕으로, 상기 커맨드 특징 벡터를 추출하는 제1 추출기를 포함하는 메모리 테스트 장치
3 3
제 2항에 있어서,상기 제1 추출기는,n-gram 모델(n은 자연수)을 이용하여 상기 커맨드 특징 벡터를 추출하는 메모리 테스트 장치
4 4
제 1항에 있어서,상기 어드레스 특징 벡터 추출기는,상기 복수의 메모리 셀들에 포함된 상기 어드레스 관련 정보를 추출하는 어드레스 필드 추출기와,상기 어드레스 필드 추출기를 통해 추출된 상기 어드레스 관련 정보를 바탕으로, 상기 어드레스 특징 벡터를 추출하는 제2 추출기를 포함하는 메모리 테스트 장치
5 5
복수의 메모리 셀들에 대한 워크로드 시퀀스(sequence)를 바탕으로 생성된 특징 벡터를 바탕으로, 상기 복수의 메모리 셀들에 대한 워크로드를 알려진(known) 워크로드와 알려지지 않은(unknown) 워크로드로 구분하는 클래스 감지기를 포함하되,상기 워크로드 시퀀스는,상기 복수의 메모리 셀들 각각에 대한 커맨드 및 어드레스 관련 정보를 포함하며,상기 특징 벡터는,상기 워크로드 시퀀스의 상기 커맨드와, 상기 커맨드의 종류를 바탕으로 생성된 상기 커맨드의 종류가 반영된 커맨드 특징 벡터와,상기 워크로드 시퀀스의 랭크 주소, 뱅크 그룹 주소, 및 어드레스 주소가 포함된 상기 어드레스 관련 정보를 바탕으로 생성된 어드레스 특징 벡터를 포함하는 메모리 테스트 장치
6 6
삭제
7 7
제 5항에 있어서,상기 클래스 감지기는,상기 특징 벡터 중 학습 특징 벡터를 수신하여, 상기 학습 특징 벡터에 대해 특이값 분해(Singular Value Decomposition, SVD)를 수행하는 SVD 생성기와,상기 학습 특징 벡터를 바탕으로 클래스 분류 학습을 수행하는 훈련부를 포함하는 메모리 테스트 장치
8 8
복수의 메모리 셀들 각각에 포함된 커맨드와 상기 커맨드의 종류를 바탕으로, 상기 커맨드의 종류가 반영된 커맨드 특징(feature) 벡터를 추출하는 커맨드 특징 벡터 추출기와, 상기 복수의 메모리 셀들 각각에 대한 랭크 주소, 뱅크 그룹 주소, 및 어드레스 주소가 포함된 어드레스 관련 정보를 바탕으로, 어드레스 특징 벡터를 추출하는 어드레스 특징 벡터 추출기를 포함하는 특징 벡터 추출기; 및상기 커맨드 특징 벡터와 상기 어드레스 특징 벡터를 포함하는 특징 벡터를 바탕으로, 상기 복수의 메모리 셀들에 대한 워크로드를 알려진(known) 워크로드와 알려지지 않은(unknown) 워크로드로 구분하는 클래스 감지기를 포함하는 메모리 테스트 장치
9 9
제 8항에 있어서,상기 커맨드 특징 벡터 추출기는, 상기 복수의 메모리 셀들에 포함된 상기 커맨드를 추출하는 커맨드 필드 추출기와, 상기 커맨드 필드 추출기를 통해 추출된 상기 커맨드를 바탕으로, 상기 커맨드 특징 벡터를 추출하는 제1 추출기를 포함하고,상기 어드레스 특징 벡터 추출기는, 상기 복수의 메모리 셀들에 포함된 상기 어드레스 관련 정보를 추출하는 어드레스 필드 추출기와, 상기 어드레스 필드 추출기를 통해 추출된 상기 어드레스 관련 정보를 바탕으로, 상기 어드레스 특징 벡터를 추출하는 제2 추출기를 포함하는 메모리 테스트 장치
10 10
제 9항에 있어서,상기 클래스 감지기는,상기 특징 벡터 중 학습 특징 벡터를 수신하여, 상기 학습 특징 벡터에 대해 특이값 분해(Singular Value Decomposition, SVD)를 수행하는 SVD 생성기와,상기 학습 특징 벡터를 바탕으로 클래스 분류 학습을 수행하는 훈련부와,상기 특징 벡터 중 테스트 특징 벡터를 수신하고, 상기 훈련부를 통해 생성된 클래스 분류 학습 결과를 바탕으로, 상기 테스트 특징 벡터를 적어도 하나의 클래스로 예측하는 예측기와,상기 SVD 생성기를 통해 생성된 특이값 분해값을 바탕으로 우 특이 벡터(Right Singular Vector, RSV)를 추출하는 RSV 추출기와,상기 RSV 추출기를 통해 추출된 우 특이 벡터값을 바탕으로 제1 재구성 오차(reconstruction error)를 계산하는 제1 에러 계산기와,상기 제1 재구성 오차를 바탕으로 임계값을 생성하는 임계값 계산기와,상기 우 특이 벡터값과 상기 예측기를 통해 예측된 클래스 사이의 제2 재구성 오차를 계산하는 제2 에러 계산기와,상기 임계값과, 상기 제2 재구성 오차를 비교하는 비교기와,상기 비교기가 비교한 결과를 바탕으로, 상기 테스트 특징 벡터를 분류하는 분류기를 포함하는 메모리 테스트 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.