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메모리제어부(A)에서 입력되는 데이터비트(B-1)에서 패리티비트(C)를 생성하여 메모리 셀어레이(E, Cell Array)에 데이터비트(B-1)와 패리티비트(C)를 포함하는 코드워드(D-1)를 쓰는 패리티생성부(110)를 포함하는 오류정정코드부호기(10, Error Correction Code encoder) 및메모리 셀어레이(E)에 쓰여진 데이터비트(B-2)와 패리티비트(F)를 포함하는 코드워드(D-2)를 읽어온 후, 연산하여 신드롬데이터(G)를 생성하는 신드롬생성부(210)와, 신드롬생성부(210)를 통해 생성된 신드롬데이터(G)를 복호화 하여 오류 비트의 위치를 나타내는 오류위치비트(H)를 생성하는 신드롬복호화부(220)와,메모리 셀어레이(E)에서 데이터비트(B-2)와 신드롬복호화부(220)에서 생성된 오류위치비트(H)를 수신하면, 데이터비트(B-2)와 오류위치비트(H)의 위치 별 각 비트를 비교 연산하여 정정비트데이터(I)를 생성하는 오류정정부(230)와,신드롬생성부(210)에서 출력된 신드롬데이터(G)를 수신한 후, 논리합 연산하며 연산 값으로 디지털 신호 ‘1’ 또는 디지털 신호 ‘0’을 출력하는 오류검출부(240)와,디지털 신호 ‘0’과 디지털 신호 ‘1’을 포함하여, 메모리제어부(A)에서 제어되며 디지털 신호 ‘0’또는 디지털 신호 ‘1’중 어느 하나를 출력하는 PIM인에이블부(250)와,메모리 셀어레이(E)를 통해 데이터비트(B-2)를 수신하고, 오류정정부(230)를 통해 정정비트데이터(I)를 수신하고, PIM인에이블부(250)에서 디지털 신호 ‘0’또는 디지털 신호 ‘1’중 어느 하나를 수신하여, PIM인에이블부(250)에서 디지털 신호 ‘0’이 수신되면 오류정정부(230)에서 출력되는 정정비트데이터(I)를 출력하고, PIM인에이블부(250)에서 디지털 신호 ‘1’이 수신되면 데이터비트(B-2)를 출력하는 PIM인에이블스위치부(260)가 구비된 오류정정코드복호기(20)를 포함하는, 온-다이 오류 정정 코드에서 오류 정정과 오류 검출을 동적 전환 가능한 메모리 장치
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제1항에 있어서, 신드롬생성부(210)는,메모리(1)가 읽기 동작을 수행할 때, 메모리 셀에레이(E)로부터 코드워드(D-2)를 수신하는, 온-다이 오류 정정 코드에서 오류 정정과 오류 검출을 동적 전환 가능한 메모리 장치
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제2항에 있어서, 신드롬생성부(210)는,복수 개의 배타적 논리합 게이트(#1~#8)를 포함하여 코드워드(D-2)의 데이터비트(B-2)를 읽어 새로운 패리트비트(C)를 연산하는 제1패리티모듈(211)과,복수 개의 배타적 논리합 게이트(#9~#16)를 포함하여 메모리 셀어레이(E, Cell Array)를 통해 수신된 패리티비트(F)와 제1패리티모듈(211)에서 출력되는 패리트비트(C)를 수신하여 배타적 논리합 연산을 실행하는 제2패리티모듈(212)을 포함하는, 온-다이 오류 정정 코드에서 오류 정정과 오류 검출을 동적 전환 가능한 메모리 장치
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제3항에 있어서,제1패리티모듈(211)과 제2패리티모듈(212)은 동일한 개수의 배타적 논리합 게이트(XOR Gate)를 포함하는, 온-다이 오류 정정 코드에서 오류 정정과 오류 검출을 동적 전환 가능한 메모리 장치
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제3항에 있어서, 신드롬복호화부(220)는,입력측에 입력되는 신드롬데이터(G)를 10진수로 복호화 한 후, 복호화된 10진수의 값에 대응하는 위치에 있는 출력단에 디지털 신호 ‘1’을 출력하고, 나머지 위치에 있는 출력단에는 디지털 신호 ‘0’을 출력하는, 온-다이 오류 정정 코드에서 오류 정정과 오류 검출을 동적 전환 가능한 메모리 장치
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제5항에 있어서, 오류정정부(230)는,제1입력단이 코드워드(D-2)를 수신하고,제2입력단이 신드롬복호화부(220)에서 출력된 디지털 신호를 수신하여, 배타적 논리합 연산을 실행하는 배타적 논리합 게이트를 포함하는, 온-다이 오류 정정 코드에서 오류 정정과 오류 검출을 동적 전환 가능한 메모리 장치
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제1항에 있어서, 오류검출부(240)는,신드롬생성부(210)에서 입력되는 신드롬데이터(G) 가운데, 어느 하나의 디지털 신호 ‘1’이 입력되면 오류신호를 출력하는, 논리합 게이트(241)를 포함하는, 온-다이 오류 정정 코드에서 오류 정정과 오류 검출을 동적 전환 가능한 메모리 장치
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