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단면 중 적어도 일부가 U자 형상인 스페이서 본체; 및적어도 일부가 상기 스페이서 본체의 홀(hole)을 통과하는 마이크로미터(micrometer)를 포함하는 가변 스페이서(spacer)
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제1항에 있어서,상기 스페이서 본체는,상기 마이크로미터의 동작 또는 배치에 따라, 이동하거나 또는 배치되는 가변 스페이서
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3
제2항에 있어서,상기 스페이서 본체는,상기 마이크로미터의 회전에 따라, 상기 마이크로미터의 회전축을 기초로 이동하는 가변 스페이서
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4
제3항에 있어서,상기 스페이서 본체는,상기 마이크로미터가 제1 회전 방향으로 회전할 경우, 상기 회전축의 제1 회전축 방향으로 이동하는 가변 스페이서
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5
제4항에 있어서,상기 스페이서 본체는,상기 마이크로미터가 상기 제1 회전 방향과 반대의 제2 회전 방향으로 회전할 경우, 상기 회전축의 상기 제1 회전축 방향과 반대의 제2 회전축 방향으로 이동하는 가변 스페이서
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6
제3항에 있어서,상기 스페이서 본체는,상기 마이크로미터의 회전에 따라 상기 마이크로미터가 연장될 경우, 상기 마이크로미터의 연장 방향과 반대의 방향으로 이동하는 가변 스페이서
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7
제3항에 있어서,상기 스페이서 본체는,상기 마이크로미터의 회전에 따라 상기 마이크로미터가 단축될 경우, 상기 마이크로미터의 단축 방향과 반대의 방향으로 이동하는 가변 스페이서
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8
제2항에 있어서,상기 스페이서 본체는,상기 마이크로미터의 연장에 따라, 상기 마이크로미터의 연장 길이만큼 상기 마이크로미터의 연장 방향과 반대의 방향으로 이동하는 가변 스페이서
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9
제2항에 있어서,상기 스페이서 본체는,상기 마이크로미터의 단축에 따라, 상기 마이크로미터의 단축 길이만큼 상기 마이크로미터의 단축 방향과 반대의 방향으로 이동하는 가변 스페이서
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10
제1항에 있어서,상기 스페이서 본체의 U자 형상의 단면 또는 평면은,상기 마이크로미터의 회전축에 수직으로 배치되는 가변 스페이서
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11
제1항에 있어서,상기 스페이서 본체는 3 개 이상의 홀을 포함하고, 상기 마이크로미터는 상기 3 개 이상의 홀 중 적어도 하나의 홀을 통과하되,상기 마이크로미터는,상기 스페이서 본체의 말단에 근접한 위치의 제1 홀을 통과하도록 배치된 제1 마이크로미터;상기 스페이서 본체의 말단과 다른 말단에 근접한 위치의 제2 홀을 통과하도록 배치된 제2 마이크로미터; 및상기 스페이서 본체의 곡선에 위치한 제3 홀을 통과하도록 배치된 제3 마이크로미터를 포함하는 가변 스페이서
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12
물질 측정 장치에 장착되는 가변 스페이서(spacer)에 있어서,단면 중 적어도 일부가 U자 형상인 스페이서 본체; 및적어도 일부가 상기 스페이서 본체의 홀(hole)을 통과하는 마이크로미터(micrometer)를 포함하되,상기 마이크로미터는 측정하려는 대상의 적어도 일부와 접하거나 또는 상기 측정하려는 대상의 적어도 일부를 수용하는 용기와 접하는 가변 스페이서
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13
제12항에 있어서,상기 스페이서 본체는,3 개 이상의 홀을 포함하는 제1 스페이서 본체를 포함하고,상기 마이크로미터는 상기 제1 스페이서 본체의 3 개 이상의 홀 중 적어도 하나의 홀을 통과하되,상기 마이크로미터는,상기 제1 스페이서 본체의 말단에 근접한 위치의 제1 홀을 통과하도록 배치된 제1 마이크로미터;상기 제1 스페이서 본체의 말단과 다른 말단에 근접한 위치의 제2 홀을 통과하도록 배치된 제2 마이크로미터; 및상기 제1 스페이서 본체의 곡선에 위치한 제3 홀을 통과하도록 배치된 제3 마이크로미터를 포함하는 가변 스페이서
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14
제13항에 있어서,상기 스페이서 본체는,상기 제1 스페이서 본체의 3 개 이상의 홀과 다른 3 개 이상의 홀을 포함하는 제2 스페이서 본체를 더 포함하고,상기 마이크로미터는 상기 제2 스페이서 본체의 3 개 이상의 홀 중 적어도 하나의 홀을 통과하되,상기 마이크로미터는,상기 제2 스페이서 본체의 말단에 근접한 위치의 제4 홀을 통과하도록 배치된 제4 마이크로미터;상기 제2 스페이서 본체의 말단과 다른 말단에 근접한 위치의 제5 홀을 통과하도록 배치된 제5 마이크로미터; 및상기 제2 스페이서 본체의 곡선에 위치한 제6 홀을 통과하도록 배치된 제6 마이크로미터를 더 포함하는 가변 스페이서
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15
제14항에 있어서,상기 제1 스페이서 본체와 상기 제2 스페이서 본체는,상기 측정하려는 대상을 기준으로 대칭되도록 배치되고,상기 제1 마이크로미터 또는 상기 제2 마이크로미터는,상기 측정하려는 대상을 기준으로 상기 제4 마이크로미터 또는 상기 제5 마이크로미터와 대칭되도록 배치되며,상기 제3 마이크로미터와 상기 제6 마이크로미터는,상기 측정하려는 대상을 기준으로 대칭되도록 배치되는 가변 스페이서
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16
제14항에 있어서,상기 제1 스페이서 본체의 적어도 일부와 상기 제2 스페이서 본체의 적어도 일부는 평행하게 배치되고, 상기 제1 스페이서 본체와 상기 제2 스페이서 본체 사이에 상기 측정하려는 대상의 적어도 일부가 배치되고,상기 제1 마이크로미터의 적어도 일부 또는 상기 제2 마이크로미터의 적어도 일부는, 상기 제4 마이크로미터의 적어도 일부 또는 상기 제5 마이크로미터의 적어도 일부와 동일한 일직선 또는 축 상에 배치되며,상기 제3 마이크로미터의 적어도 일부와 상기 제6 마이크로미터의 적어도 일부는, 동일한 일직선 또는 축 상에 배치되는 가변 스페이서
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17
가변 스페이서(spacer)가 장착된 물질 측정 장치에 있어서,제1 포트(port);제2 포트; 및상기 제1 포트 또는 상기 제2 포트에 장착된 가변 스페이서를 포함하고,상기 제1 포트의 적어도 일부와 상기 제2 포트의 적어도 일부는, 동일한 일직선 또는 축 상에 배치되고,상기 가변 스페이서는,단면 중 적어도 일부가 U자 형상인 스페이서 본체; 및적어도 일부가 상기 스페이서 본체의 홀(hole)을 통과하는 마이크로미터(micrometer)를 포함하고,상기 제1 포트 또는 상기 제2 포트에서 탈부착되는 물질 측정 장치
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18
제17항에 있어서,상기 스페이서 본체는 3 개 이상의 홀을 포함하고,상기 마이크로미터는, 상기 스페이서 본체의 3 개 이상의 홀 중 적어도 하나의 홀을 통과하고, 측정하려는 대상의 적어도 일부와 접하거나 또는 상기 측정하려는 대상의 적어도 일부를 수용하는 용기와 접하되,상기 마이크로미터는,상기 스페이서 본체의 말단에 근접한 위치의 제1 홀을 통과하도록 배치된 제1 마이크로미터;상기 스페이서 본체의 말단과 다른 말단에 근접한 위치의 제2 홀을 통과하도록 배치된 제2 마이크로미터; 및상기 스페이서 본체의 곡선에 위치한 제3 홀을 통과하도록 배치된 제3 마이크로미터를 포함하는 물질 측정 장치
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가변 스페이서(spacer)를 이용하는 물질 측정 방법에 있어서,물질 측정 장치의 제1 포트(port) 또는 제2 포트 상에 장착된 가변 스페이서의 마이크로미터(micrometer)의 적어도 일부를 연장 또는 단축하는 단계; 및상기 마이크로미터가 측정하려는 대상의 적어도 일부와 접하거나 또는 상기 측정하려는 대상의 적어도 일부를 수용하는 용기와 접하는 경우, 상기 측정하려는 대상의 물질 특성을 측정하는 단계를 포함하되,상기 가변 스페이서는,단면 중 적어도 일부가 U자 형상인 스페이서 본체; 및적어도 일부가 상기 스페이서 본체의 홀(hole)을 통과하는 상기 마이크로미터를 포함하는 물질 측정 방법
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20
제19항에 있어서,상기 스페이서 본체는 3 개 이상의 홀을 포함하고,상기 마이크로미터는, 상기 스페이서 본체의 3 개 이상의 홀 중 적어도 하나의 홀을 통과하고, 측정하려는 대상의 적어도 일부와 접하거나 또는 상기 측정하려는 대상의 적어도 일부를 수용하는 용기와 접하되,상기 마이크로미터는,상기 스페이서 본체의 말단에 근접한 위치의 제1 홀을 통과하도록 배치된 제1 마이크로미터;상기 스페이서 본체의 말단과 다른 말단에 근접한 위치의 제2 홀을 통과하도록 배치된 제2 마이크로미터; 및상기 스페이서 본체의 곡선에 위치한 제3 홀을 통과하도록 배치된 제3 마이크로미터를 포함하는 물질 측정 방법
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