맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

라이다 반사특성 추정 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2024000165
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 라이다의 반사특성 추정 장치 및 방법에 관한 것으로, 회전축을 회전시키는 로테이션부와, 라이다 센서가 장착된 고정부를 이동시켜 상기 회전축에 라이다 센서의 광중심을 일치시키는 광정렬부와, 상기 라이다 센서와 일정한 거리 이격되며, 표면에 다수의 측정점이 형성된 반사판과, 상기 라이다 센서에서 검출된 스캐닝 데이터에서 상기 측정점들의 법선을 추정하고, 법선에 대한 입사각과 각 측정점의 신호강도를 확인하고, 입사각에 따른 재질 반사율 프로파일을 생성하고, 매개변수를 구하는 연산부를 포함할 수 있다.
Int. CL G01S 7/497 (2006.01.01) G01S 7/481 (2006.01.01)
CPC G01S 7/497(2013.01) G01S 7/481(2013.01)
출원번호/일자 1020230084213 (2023.06.29)
출원인 한국전자기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2024-0002952 (2024.01.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020220080337   |   2022.06.30
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 국내출원/신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 8

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이승주 전라북도 정읍시
2 김용휘 광주광역시 광산구
3 이종훈 광주광역시 북구
4 조지혁 경기도 용인시 수지구
5 류제호 광주광역시 북구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인이룸리온 대한민국 서울특별시 서초구 사평대로 ***, *층 (반포동)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2023.06.29 수리 (Accepted) 1-1-2023-0717919-47
2 [출원서 등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2023.07.04 수리 (Accepted) 1-1-2023-0734966-26
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
회전축을 회전시키는 로테이션부;라이다 센서가 장착된 고정부를 이동시켜 상기 회전축에 라이다 센서의 광중심을 일치시키는 광정렬부;상기 라이다 센서와 일정한 거리 이격되며, 표면에 다수의 측정점이 형성된 반사판; 및상기 라이다 센서에서 검출된 스캐닝 데이터에서 상기 측정점들의 법선을 추정하고, 법선에 대한 입사각과 각 측정점의 신호강도를 확인하고, 입사각에 따른 재질 반사율 프로파일을 생성하고, 매개변수를 구하는 연산부를 포함하는 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 로테이션부 및 광정렬부를 구동하는 제어부를 더 포함하는 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 광정렬부는,상기 고정부를 수평면의 전후 및 좌우 방향으로 이동하는 2축 이동장치인 것을 특징으로 하는 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 연산부는, 법선 추정 알고리즘을 이용하여 각 측정점의 법선을 추정하는 것을 특징으로 하는 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 연산부는,추정된 법선을 기준으로 지면에 대하여 수평 및 수직 방향에서의 상기 라이다 센서의 레이저 입사각을 추정하는 장치
6 6
a) 라이다 센서를 지면에 대해 수평 방향으로 회전시키면서, 표면에 다수의 측정점을 가지는 반사판을 스캐닝하는 단계;b) 법선 추정 알고리즘을 이용하여 스캐닝 데이터에서 측정점마다 법선을 추정하는 단계;c) 추정된 법선을 기준으로 상기 라이다 센서의 송신 레이저 입사각을 추정하는 단계; 및d) 추정된 입사각에 대한 신호강도를 매칭하여 입사각에 따른 재질 반사율 프로파일을 생성하고, 매개변수를 구하는 단계를 포함하는 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 d) 단계는,상기 a) 내지 c) 단계가 설정된 반복 횟수만큼 수행된 후에 수행되는 것을 특징으로 하는 방법
8 8
제6항에 있어서,상기 c) 단계의 입사각은,추정된 상기 법선을 기준으로, 지면에 대하여 수평 방향의 입사각과 수직 방향의 입사각을 구하는 것을 특징으로 하는 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.