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간섭 광학식 2차원 변형률측정 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2014013356
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 간섭 광학식 2차원 변형률측정 장치 및 방법에 관한 것으로, 그 목적은 동시에 여러 지점의 변형률, 즉, 변형이 일어나는 방향(길이방향)과 변형이 일어나는 방향의 수직 방향(횡방향)의 여러 지점에서 변형률을 동시에 측정할 수 있도록 있도록 함으로써 2차원 면 전체의 측정을 할 수 있도록 한 장치 및 방법을 제공함에 있다. 본 발명의 구성은 레이저 광원으로부터 조사된 후, 레이저 거울을 경유하고 확대렌즈를 통해 확대된 레이저빔을 2개(한쌍)의 라인패턴이 표시되어 있는 측정시편에 입사하고, 두개의 라인패턴에서 반사 또는 산란된 레이저빔이 만드는 회절간섭 패턴의 위치 변화를 1개 이상의 센서로 측정하여 두 라인패턴 사이의 간격의 변화로부터 물체의 변형률을 측정하는 간섭변형률측정장치에 있어서, 측정시편에 2쌍 이상의 라인패턴을 횡방향으로 길이를 길게 표기한 측정시편과; 각각의 라인패턴 쌍에서 회절된 간섭무늬의 위치변화를 측정하는 2차원 면 센서;로 구성하여 길이 방향의 여러 위치와 횡방향으로 긴 라인패턴의 위치 변화를 동시에 측정하도록 구성한 것을 특징으로 하는 간섭 광학식 2차원 변형률측정장치 및 이를 이용한 측정방법을 그 기술적 사상의 특징으로 한다.
Int. CL G01B 11/24 (2006.01) G01B 9/02 (2006.01)
CPC G01B 9/02094(2013.01) G01B 9/02094(2013.01) G01B 9/02094(2013.01) G01B 9/02094(2013.01)
출원번호/일자 1020080002894 (2008.01.10)
출원인 한국원자력연구원, 한국수력원자력 주식회사
등록번호/일자 10-0927542-0000 (2009.11.11)
공개번호/일자 10-2009-0077124 (2009.07.15) 문서열기
공고번호/일자 (20091117) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 발송처리완료
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.01.10)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 한국수력원자력 주식회사 대한민국 경상북도 경주시

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 백성훈 대한민국 대전광역시 유성구
2 박승규 대한민국 대전광역시 유성구
3 정용무 대한민국 대전 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 최영규 대한민국 서울특별시 금천구 가산디지털*로 ***, B동 ***호 새천년 국제특허법률사무소 (가산동, 우림 라이온스밸리)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구
2 한국수력원자력 주식회사 대한민국 경상북도 경주시
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2008.01.10 수리 (Accepted) 1-1-2008-0020603-69
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.09.10 수리 (Accepted) 4-1-2008-5145739-98
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2008.10.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2008.11.11 수리 (Accepted) 9-1-2008-0072758-32
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2009.04.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0151142-32
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2009.06.08 수리 (Accepted) 1-1-2009-0343533-37
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2009.07.02 수리 (Accepted) 1-1-2009-0405458-43
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2009.07.02 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2009-0405504-56
9 등록결정서
Decision to grant		 2009.11.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0460375-22
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2010.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2010-5177354-66
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2012-5134067-95
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.09.16 수리 (Accepted) 4-1-2014-5109542-64
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2016.03.18 수리 (Accepted) 4-1-2016-5034922-43
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
레이저 광원으로부터 조사된 후, 레이저 거울을 경유하고 확대렌즈를 통해 확대된 레이저빔을 2개(한쌍)의 라인패턴이 표시되어 있는 측정시편에 입사하고, 두개의 라인패턴에서 반사 또는 산란된 레이저빔이 만드는 회절간섭 패턴의 위치 변화를 1개 이상의 센서로 측정하여 두 라인패턴 사이의 간격의 변화로부터 물체의 변형률을 측정하는 간섭변형률측정장치에 있어서, 측정시편에 2쌍 이상의 라인패턴을 횡방향으로 길이를 길게 표기한 측정시편과; 각각의 라인패턴 쌍에서 회절된 간섭무늬의 위치변화를 측정하는 2차원 면 센서;로 구성하되, 상기 횡방향으로 길게 표기한 라인패턴의 길이는 면센서에 영상을 맺게 되는 폭 길이만큼 구성하여 길이 방향의 여러 위치와 횡방향으로 긴 라인패턴의 위치 변화를 동시에 측정하도록 구성한 것을 특징으로 하는 간섭 광학식 2차원 변형률측정장치
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삭제
3 3
제 1항에 있어서, 상기 레이저빔은 여러 파장의 레이저빔을 사용하고, 면센서는 컬러 CCD 카메라로 구성하여 파장에 따른 여러 회절간섭 패턴을 동시에 측정하여 측정 분해능을 향상시키도록 구성한 것을 특징으로 하는 간섭 광학식 2차원 변형률측정장치
4 4
레이저 광원으로부터 조사된 후, 레이저 거울을 경유하고 확대렌즈를 통해 확대된 레이저빔을 2개(한쌍)의 라인패턴이 표시되어 있는 측정시편에 입사하고, 두개의 라인패턴에서 반사 또는 산란된 레이저빔이 만드는 회절간섭 패턴의 위치 변화를 1개 이상의 센서로 측정하여 두 라인패턴 사이의 간격의 변화로부터 물체의 변형률을 측정하는 간섭변형률측정방법에 있어서, 측정시편에 2쌍 이상의 라인패턴을 횡방향으로 길이를 길게 표기하고, 레이저빔을 확대하여 입사함으로써 길이 방향 뿐 아니라 횡방향으로 긴 간섭회절 패턴을 발생시키고, 회절간섭 패턴의 위치 변화를 2차원 면 센서를 사용하여 측정함으로써 횡방향의 간섭회절 패턴의 위치 변화도 측정하여, 동시에 길이 방향의 여러 위치와 횡방향으로 긴 라인패턴의 위치 변화를 측정하되, 상기 횡방향으로 길게 표기한 라인패턴의 길이는 면센서에 영상을 맺게 되는 폭 길이만큼 표기하여 측정하는 방법을 특징으로 하는 간섭 광학식 2차원 변형률측정방법
5 5
삭제
6 6
제 4항에 있어서, 상기 레이저빔은 여러 파장의 레이저빔을 사용하고, 면센서로는 컬러 CCD 카메라를 사용함으로써 파장에 따른 여러 회절간섭 패턴을 동시에 측정하여, 측정 분해능을 향상시킬 수 있도록 한 방법을 특징으로 하는 간섭 광학식 2차원 변형률측정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.