비트오율 측정에 있어서 사용되는 세 개의 의사임계값(x1,x2,x3)을 등간격(T)으로 결정하고 크기순(x1x2=x1+Tx3=x2+T)으로 기억장치에 순서대로 놓는 제1과정과, 샘플링된 전체 신호 수 및 세 개의 의사임계값(x1,x2,x3)을 기준으로 하여 구한 각각의 에러 수를 카운터를 통하여 구하는 제2과정과, 각 연산기를 통하여 의사임계값 별로 전체 신호 수 대 에러 수의 비인 의사비트오율을 구하고 세개의 의사임계값의 로그값과 각각의 의사임계값을 기준으로 하여 구한 의사 비트오율의 더블로그값을 계산하는 제3과정과, 세 개의 의사임계값의 로그값과 각각의 의사임계값을 기준으로 하여 구한 세 개의 의사 비트오율의 더블로그값에 대한 상관계수의 절대값을 구하는 제4과정과, 상관계수의 절대값으로 부터 세 개의 의사임계값의 로그값과 세 개의 의사 비트오율의 더블로그값에 대한 선형성을 판별하는 제5과정과, 선형판별기가 선형성이 없다고 판별한 경우에, 새로운 의사임계값을 정하고 그 값을 기존의 세 개로 구성된 기억장치중 하나를 선택하여 기존의 의사임계값 하나를 새로운 의사임계값으로 대체한 후, 새로운 의사임계값과 기존에 있는 두 개의 임계값에 대한 로그값과 이러한 세 개의 의사임계값을 기준으로 하여 구한 각각의 의사 비트오율의 더블로그값을 구하는 제6과정과, 상관계수의 절대값의 판별에 따라 세 개의 의사임계값의 로그값과 세 개의 의사임계값을 기준으로 하여 구한 각각의 의사 비트오율의 더블로그값이 선형성이 있다고 판별되는 경우에, 세 개의 의사임계값의 로그값과 각각의 의사임계값을 기준으로 구한 의사 비트오율의 더블로그값으로 구성된 세 점을 지나는 직선방정식을 구하고, 실제 임계값의 로그값을 직선방정식에 대입하여 y축 값을 구한 후, 그 값에 자연 지수함수를 두 번 취해서 구한 값으로 실제 비트오율을 측정하는 제7과정을 수행하여, 실제 임계값으로부터 결정되는 실제 비트오율을 얻기 위해서 필요한 샘플링 수보다 작은 샘플링의 수로 실제 비트오율을 측정할 수 있는 것을 특징으로 하는 비트오율 측정의 최적 의사임계값의 결정방법