맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법 및장치

  • 기술번호 : KST2015082850
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법 및 장치에 관한 것으로, 저밀도 패리티 검사 부호를 복호화하기 위하여 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법에 있어서, (a)검사노드의 차수 개만큼의 입력값 중 각각의 첫 번째 비트(MSB) 값들을 이용해 AND 연산을 수행하여 상기 입력값 중 첫 번째 최소값의 첫 번째 비트 값을 구하는 단계, (b)상기 첫 번째 최소값의 첫 번째 비트 값과 상기 입력값 중 각각의 첫 번째 비트 값들을 XOR 및 OR 연산을 순차적으로 수행하여 구한 값으로 스위칭하여 결과값을 구하는 단계 및 (c)상기 결과값을 다시 상기 입력값으로 하여 상기 (a) 및 (b)단계를 상기 입력값의 비트 수만큼(상기 입력값이 마지막 비트(LBS)가 될 때까지) 반복 수행하여 상기 첫 번째 최소값을 구하는 단계로 구성되어, 하드웨어의 복잡도를 줄이면서 초고속의 처리속도 지원을 가능하도록 할 수 있다.저밀도 패리티 검사 부호, 패리티 검사행렬 행분해, 검사노드 갱신
Int. CL H03M 13/11 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020070073098 (2007.07.20)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0864838-0000 (2008.10.16)
공개번호/일자 10-2008-0052274 (2008.06.11) 문서열기
공고번호/일자 (20081023) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020060122557   |   2006.12.05
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.07.20)
심사청구항수 15

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 오종의 대한민국 대전 유성구
2 이유로 대한민국 대전 유성구
3 윤찬호 대한민국 대전 유성구
4 정민호 대한민국 대전 유성구
5 이석규 대한민국 대전 유성구
6 송유승 대한민국 경기 용인시 수지구
7 김영균 대한민국 미국, 캘리포니아 *****, 라

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2007.07.20 수리 (Accepted) 1-1-2007-0529023-02
2 등록결정서
Decision to grant		 2008.09.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0462051-57
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
저밀도 패리티 검사 부호를 복호화하기 위하여 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법에 있어서,(a) 검사노드의 차수 개만큼의 입력값 중 각각의 첫 번째 비트(MSB) 값들을 이용해 AND 연산을 수행하여 상기 입력값 중 첫 번째 최소값의 첫 번째 비트 값을 구하는 단계;(b) 상기 첫 번째 최소값의 첫 번째 비트 값과 상기 입력값 중 각각의 첫 번째 비트 값들을 XOR 및 OR 연산을 순차적으로 수행하여 구한 값으로 스위칭하여 결과값을 구하는 단계; 및(c) 상기 결과값을 다시 상기 입력값으로 하여 상기 (a) 및 (b)단계를 상기 입력값의 비트 수만큼(상기 입력값이 마지막 비트(LBS)가 될 때까지) 반복 수행하여 상기 첫 번째 최소값을 구하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 첫 번째 최소값을 입력되는 최대값으로 설정하고 상기 (a) 내지 (c)단계를 반복 수행하여 두 번째 최소값을 구하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
3 3
제 1 항에 있어서,상기 검사노드의 갯수만큼의 최소값을 구할 때까지 상기 (a) 내지 (c)단계를 반복 수행하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
4 4
제 1 항에 있어서,상기 검사노드가 행분해가 적용된 패리티 검사행렬에 대한 검사노드일 경우에는 상기 검사노드와 행분해가 적용된 패리티 검사행렬에 대한 검사노드 각각에 대한 검사노드의 갯수만큼의 최소값을 구할 때까지 상기 (a) 내지 (c)단계를 반복 수행하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 검사노드의 차수 개만큼의 입력값이 4비트 입력값인 경우에는상기 (a)단계는 상기 검사노드의 차수 개만큼의 4 비트 입력값 중 각각의 첫 번째 비트(MSB) 값들을 이용해 AND 연산을 수행하여 상기 입력값 중 첫 번째 최소값의 첫 번째 비트 값을 구하고,상기 (b)단계는 상기 첫 번째 최소값의 첫 번째 비트 값과 상기 입력값 중 각각의 첫 번째 비트 값들을 XOR 및 OR 연산을 순차적으로 수행하여 제1결과값을 구하고 상기 입력값들을 상기 제1결과값으로 스위칭하여 제2결과값을 구하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 (c)단계는(c1) 상기 제2결과값 중 각각의 두 번째 비트 값들을 이용해 AND 연산을 수행하여 상기 입력값 중 첫 번째 최소값의 두 번째 비트 값을 구하는 단계; 및(c2) 상기 첫 번째 최소값의 두 번째 비트 값과 상기 제2결과값 중 각각의 두 번째 비트 값들을 XOR 및 OR 연산을 순차적으로 수행하여 제3결과값을 구하고 상기 제2결과값들을 상기 제3결과값으로 스위칭하여 제4결과값을 구하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 (c)단계는(c3) 상기 제4결과값 중 각각의 세 번째 비트 값들을 이용해 AND 연산을 수행하여 상기 입력값 중 첫 번째 최소값의 세 번째 비트 값을 구하는 단계; 및(c4) 상기 첫 번째 최소값의 세 번째 비트 값과 상기 제4결과값 중 각각의 세 번째 비트 값들을 XOR 및 OR 연산을 순차적으로 수행하여 제5결과값을 구하고 상기 제4결과값들을 상기 제5결과값으로 스위칭하여 제6결과값을 구하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
8 8
제 7 항에 있어서, 상기 (c)단계는(c5) 상기 제6결과값 중 각각의 네 번째 비트 값들을 이용해 AND 연산을 수행하여 상기 입력값 중 첫 번째 최소값의 네 번째 비트 값을 구하는 단계; 및(c6) 상기 첫 번째 최소값의 네 번째 비트 값과 상기 제6결과값 중 각각의 네 번째 비트 값들을 XOR 및 OR 연산을 순차적으로 수행하여 제7결과값을 구하고 상기 제6결과값들을 상기 제7결과값으로 스위칭하여 제8결과값을 구하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
9 9
제 8 항에 있어서, 상기 (c)단계는(c7) 상기 제1결과값, 상기 제3결과값, 상기 제5결과값 및 상기 제7결과값을 AND 연산을 수행하여 첫 번째 최소값을 구하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
10 10
제 5 항에 있어서,(d) 상기 첫 번째 최소값을 NOT 연산한 값으로 상기 입력값을 스위칭하여 구한 값을 상기 (a)단계의 검사노드의 차수 개만큼의 4 비트 입력값으로 하여 상기 (a)단계부터 (c)단계를 다시 수행하여 두 번째 최소값을 구하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
11 11
제 5 항에 있어서,상기 검사노드가 행분해가 적용된 패리티 검사행렬에 대한 검사노드일 경우 상기 (a)단계의 검사노드에 대한 입력값 외에 행분해된 다른 검사노드의 차수 개만큼의 4비트 입력값을 이용하여 상기 (a)단계부터 (c)단계를 다시 수행하여 상기 다른 검사노드에 대한 입력값의 첫 번째 최소값과 두 번째 최소값을 구하는 단계; 및상기 검사노드와 상기 행분해된 다른 검사노드의 입력값에 대한 각각의 첫 번째 최소값 및 두 번째 최소값을 이용하여 각각의 검사노드의 최소값을 구하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법
12 12
저밀도 패리티 검사 부호를 복호화하기 위하여 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 장치에 있어서,검사노드의 차수 개만큼의 4 비트 입력값 중 각각의 첫 번째 비트(MSB) 값들을 이용해 AND 연산을 수행하여 상기 입력값 중 첫 번째 최소값의 첫 번째 비트 값을 구하고, 상기 첫 번째 최소값의 첫 번째 비트 값과 상기 입력값 중 각각의 첫 번째 비트 값들을 XOR 및 OR 연산을 순차적으로 수행하여 제1결과값을 구하고 상기 입력값들을 상기 제1결과값으로 스위칭하여 제2결과값을 구하는 제1비트 처리부;상기 제2결과값 중 각각의 두 번째 비트 값들을 이용해 AND 연산을 수행하여 상기 입력값 중 첫 번째 최소값의 두 번째 비트 값을 구하고, 상기 첫 번째 최소값의 두 번째 비트 값과 상기 제2결과값 중 각각의 두 번째 비트 값들을 XOR 및 OR 연산을 순차적으로 수행하여 제3결과값을 구하고 상기 제2결과값들을 상기 제3결과값으로 스위칭하여 제4결과값을 구하는 제2비트 처리부;상기 제4결과값 중 각각의 세 번째 비트 값들을 이용해 AND 연산을 수행하여 상기 입력값 중 첫 번째 최소값의 세 번째 비트 값을 구하고, 상기 첫 번째 최소값의 세 번째 비트 값과 상기 제4결과값 중 각각의 세 번째 비트 값들을 XOR 및 OR 연산을 순차적으로 수행하여 제5결과값을 구하고 상기 제4결과값들을 상기 제5결과값으로 스위칭하여 제6결과값을 구하는 제3비트 처리부;상기 제6결과값 중 각각의 네 번째 비트 값들을 이용해 AND 연산을 수행하여 상기 입력값 중 첫 번째 최소값의 네 번째 비트 값을 구하고, 상기 첫 번째 최소값의 네 번째 비트 값과 상기 제6결과값 중 각각의 네 번째 비트 값들을 XOR 및 OR 연산을 순차적으로 수행하여 제7결과값을 구하고 상기 제6결과값들을 상기 제7결과값으로 스위칭하여 제8결과값을 구하는 제4비트 처리부; 및상기 제1결과값, 상기 제3결과값, 상기 제5결과값 및 상기 제7결과값을 AND 연산을 수행하여 첫 번째 최소값을 구하는 비트 최소값 산출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 장치
13 13
제 12 항에 있어서,상기 비트 최소값 산출부에서 구한 첫번째 최소값을 NOT 연산한 값으로 상기 입력값을 스위칭하여 구한 값을 상기 제1비트 처리부에서 상기 검사노드의 차수 개만큼의 4 비트 입력값으로 하여 두 번째 최소값을 구하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 장치
14 14
제 13 항에 있어서,상기 검사노드가 행분해가 적용된 패리티 검사행렬에 대한 검사노드일 경우 상기 검사노드에 대한 입력값 외에 행분해된 다른 검사노드의 차수 개만큼의 4 비트 입력값을 상기 제1비트 처리부의 입력값으로 하여 상기 다른 검사노드에 대한 입력값의 첫 번째 최소값과 두 번째 최소값을 구하고, 상기 검사노드와 상기 행분해된 다른 검사노드의 입력값에 대한 각각의 첫 번째 최소값 및 두 번째 최소값을 이용하여 각각의 검사노드의 최소값을 구하는 노드 최소값 산출부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 장치
15 15
제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항의 저밀도 패리티 검사 부호의 검사노드를 갱신하는 방법을 수행하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체
지정국 정보가 없습니다
순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - 패밀리정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20100037119 US 미국 FAMILY
2 WO2008069567 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

순번, 패밀리번호, 국가코드, 국가명, 종류의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 패밀리정보 - DOCDB 패밀리 정보 표입니다.
순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2010037119 US 미국 DOCDBFAMILY
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 정보통신부 한국전자통신연구원 IT신성장동력핵심기술개발사업 3Gbps급 4G 무선 LAN 시스템 개발