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전자 장치의 동작 방법에 있어서, 참조광과 물체광의 간섭 패턴을 측정하는 동작;상기 참조광에 기반하여, 상기 측정된 간섭 패턴을 변조하는 동작;상기 변조된 간섭 패턴에서 파동의 위상 정보를 추출하는 동작; 및상기 추출된 위상 정보에 기반하여, 상기 변조된 간섭 패턴의 이미지를 획득하는 동작을 포함하고, 상기 간섭 패턴 측정 과정은,상기 물체광의 공간 주파수 성분을 양수 성분과 음수 성분으로 구분하는 동작; 상기 양수 성분을 기반으로 제 1 간섭 패턴을 측정하는 동작; 및상기 음수 성분을 기반으로 제 2 간섭 패턴을 측정하는 동작을 포함하는 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 위상 정보 추출 동작은, 크라머스-크로니히 관계(Kramers-Kronig relation)에 기반하여, 상기 위상 정보를 추출하는 동작을 포함하는 방법
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제 1 항에 있어서, 상기 측정된 간섭 패턴 변조 과정은,상기 참조광에 기반하여, 상기 측정된 제 1 간섭 패턴을 변조하는 동작; 및상기 참조광에 기반하여, 상기 측정된 제 2 간섭 패턴을 변조하는 동작을 포함하는 방법
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제 4 항에 있어서, 상기 위상 정보 추출 동작은,상기 변조된 제 1 간섭 패턴으로부터 제 1 위상 정보를 추출하는 동작; 및상기 변조된 제 2 간섭 패턴으로부터 제 2 위상 정보를 추출하는 동작을 포함하는 방법
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제 5 항에 있어서, 상기 변조된 간섭 패턴의 이미지 획득 동작은,상기 추출된 제 1 위상 정보에 기반하여, 상기 변조된 제 1 간섭 패턴의 제 1 이미지를 획득하는 동작;상기 추출된 제 2 위상 정보에 기반하여, 상기 변조된 제 2 간섭 패턴의 제 2 이미지를 획득하는 동작; 및상기 획득된 제 1 이미지와 제 2 이미지를 합하는 동작을 포함하는 방법
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전자 장치에 있어서, 참조광과 물체광의 간섭 패턴을 측정하도록 구성되는 이미지 모듈; 및상기 이미지 모듈과 작동적으로 연결되는 프로세서를 포함하고, 상기 프로세서는, 상기 참조광에 기반하여, 상기 측정된 간섭 패턴을 변조하고, 상기 변조된 간섭 패턴에서 파동의 위상 정보를 추출하고, 상기 추출된 위상 정보에 기반하여, 상기 변조된 간섭 패턴의 이미지를 획득하도록 구성되고,상기 이미지 모듈은, 상기 물체광의 공간 주파수 성분을 양수 성분과 음수 성분으로 구분하고,상기 프로세서는,상기 양수 성분을 기반으로 제 1 간섭 패턴을 측정하고, 상기 음수 성분을 기반으로 제 2 간섭 패턴을 측정하도록 구성되는 전자 장치
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제 7 항에 있어서, 상기 프로세서는,크라머스-크로니히 관계(Kramers-Kronig relation)에 기반하여, 상기 위상 정보를 추출하도록 구성되는 전자 장치
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제 7 항에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 참조광에 기반하여, 상기 측정된 제 1 간섭 패턴과 상기 측정된 제 2 간섭 패턴을 각각 변조하고,상기 변조된 제 1 간섭 패턴으로부터 제 1 위상 정보를 추출하고, 상기 변조된 제 2 간섭 패턴으로부터 제 2 위상 정보를 추출하고, 상기 추출된 제 1 위상 정보에 기반하여, 상기 변조된 제 1 간섭 패턴의 제 1 이미지를 획득하고, 상기 추출된 제 2 위상 정보에 기반하여, 상기 변조된 제 2 간섭 패턴의 제 2 이미지를 획득하고, 상기 획득된 제 1 이미지와 제 2 이미지를 합하도록 구성되는 전자 장치
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