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홀로그래픽 이미지 센서(Holographic image sensor)

  • 기술번호 : KST2017016158
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 홀로그래픽 이미지 센서가 제시된다. 본 발명에서 제안하는 홀로그래픽 이미지 센싱 방법은 파면제어기를 통과한 빛과 참조 빛을 동시에 홀로그래픽 이미지 센서에 입사시켜 발생하는 간섭 패턴으로부터 상기 파면제어기에 입력한 광학 필드에 해당하는 이미징 센서 행렬에서의 투과 행렬을 측정하는 단계, 광학 필드를 측정하고자 하는 빛을 홀로그래픽 이미지 센서에 입사시켜 이미징 센서 행렬에 생성되는 스페클 패턴을 측정하는 단계, 상기 투과 행렬 및 상기 스페클 패턴을 이용하여 입사 빛의 광학 필드를 추출하는 단계를 포함한다.
Int. CL G03H 1/04 (2016.05.13) G03H 1/22 (2016.05.13) H04N 5/335 (2016.05.13) H04N 5/372 (2016.05.13) G03H 1/00 (2016.05.13)
CPC G03H 1/04(2013.01) G03H 1/04(2013.01) G03H 1/04(2013.01) G03H 1/04(2013.01) G03H 1/04(2013.01) G03H 1/04(2013.01)
출원번호/일자 1020160043274 (2016.04.08)
출원인 한국과학기술원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2017-0116281 (2017.10.19) 문서열기
공고번호/일자 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2016.04.08)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박용근 대한민국 대전광역시 유성구
2 이겨레 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 양성보 대한민국 서울특별시 강남구 선릉로***길 ** (논현동) 삼성빌딩 *층(피앤티특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술원 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2016.04.08 수리 (Accepted) 1-1-2016-0340098-94
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2016.11.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2016.12.16 수리 (Accepted) 9-1-2016-0051201-64
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2017.06.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0427704-19
5 [출원서 등 보정(보완)]보정서
2017.08.07 수리 (Accepted) 1-1-2017-0758722-58
6 [공지예외적용 보완 증명서류]서류제출서
2017.08.07 수리 (Accepted) 1-1-2017-0758723-04
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2017.08.07 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2017-0760010-62
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2017.08.07 수리 (Accepted) 1-1-2017-0760009-15
9 등록결정서
Decision to grant
2017.12.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2017-0871272-23
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.04.24 수리 (Accepted) 4-1-2019-5081392-49
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.15 수리 (Accepted) 4-1-2020-5108396-12
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2020-5131486-63
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번호 청구항
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홀로그래픽 이미지 센싱 방법에 있어서, 파면제어기를 통과한 빛과 참조 빛을 동시에 홀로그래픽 이미지 센서에 입사시켜 발생하는 간섭 패턴으로부터 상기 파면제어기에 입력한 광학 필드에 해당하는 이미징 센서 행렬에서의 투과 행렬을 측정하는 단계;광학 필드를 측정하고자 하는 빛을 홀로그래픽 이미지 센서에 입사시켜 이미징 센서 행렬에 생성되는 스페클 패턴을 측정하는 단계; 및상기 투과 행렬 및 상기 스페클 패턴을 이용하여 입사 빛의 광학 필드를 추출하는 단계를 포함하고, 상기 투과 행렬 및 상기 스페클 패턴을 이용하여 입사 빛의 광학 필드를 추출하는 단계는, 이미징 센서 행렬로 측정한 진폭정보만을 이용하여 입력 광학 필드를 구성하는 알고리즘을 이용하고, 상기 알고리즘은,랜덤 필드 모멘트 공식(random field moment theorem)에 기반하며, 측정된 투과 행렬과 진폭 정보의 랜덤 필드적 성질을 활용하여 반복 없이 광학 필드를 추출하는 랜덤 필드의 특성을 이용한 무 반복(non-iterative) 광학 필드 추출 알고리즘 또는 필드 추출을 위한 반복 알고리즘 중 적어도 하나를 이용하는 홀로그래픽 이미지 센싱 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 파면제어기를 통과한 빛과 참조 빛을 동시에 홀로그래픽 이미지 센서에 입사시켜 발생하는 간섭 패턴으로부터 상기 파면제어기에 입력한 광학 필드에 해당하는 이미징 센서 행렬에서의 투과 행렬을 측정하는 단계는, 투과 행렬을 측정하기 위해 설정되는 각각의 입력 광학 필드가 서로 독립적인 관계를 갖도록 설정된 베이시스를 이용하는홀로그래픽 이미지 센싱 방법
3 3
제2항에 있어서, 상기 베이시스를 구축하는 입력 광학 필드의 개수가 선택 가능하고, 이미지 센서의 개수가 선택 가능하고, 상기 베이시스의 개수 및 상기 이미지 센서의 개수에 따라 이미징 센서 행렬이 결정되는홀로그래픽 이미지 센싱 방법
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제1항에 있어서, 상기 광학 필드를 측정하고자 하는 빛을 홀로그래픽 이미지 센서에 입사시켜 이미징 센서 행렬에 생성되는 스페클 패턴을 측정하는 단계는, 입사되는 빛의 광학 필드가 상기 투과행렬을 측정할 때 사용된 베이시스로서 기술 가능하도록 상기 이미징 센서 행렬의 베이시스를 구축하는 선택 가능한 개수의 필드를 이용하는홀로그래픽 이미지 센싱 방법
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삭제
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삭제
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삭제
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제1항에 있어서, 상기 이미징 센서 행렬 중 하나의 이미지 센서의 크기는 상기 스페클 패턴의 광학적 회절한계의 크기보다 작도록 하기 식을 만족하고, 여기에서, D는 입사 빛의 입사 구멍의 크기, L은 광학 디퓨저 및 이미징 센서 행렬 사이의 거리, λ는 사용하는 파장, p는 상기 이미징 센서 행렬 중 하나의 이미지 센서의 크기인홀로그래픽 이미지 센싱 방법
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홀로그래픽 이미지 센싱 장치에 있어서, 파면제어기를 통과한 빛과 참조 빛을 동시에 홀로그래픽 이미지 센서에 입사시켜 발생하는 간섭 패턴으로부터 상기 파면제어기에 입력한 광학 필드에 해당하는 이미징 센서 행렬에서의 투과 행렬을 측정하는 투과 행렬 측정부;광학 필드를 측정하고자 하는 빛을 홀로그래픽 이미지 센서에 입사시켜 이미징 센서 행렬에 생성되는 스페클 패턴을 측정하는 스페클 패턴 측정부; 및상기 투과 행렬 및 상기 스페클 패턴을 이용하여 입사 빛의 광학 필드를 추출하는 광학 필드 추출부를 포함하고, 상기 광학 필드 추출부는, 이미징 센서 행렬로 측정한 진폭정보만을 이용하여 입력 광학 필드를 구성하는 알고리즘을 이용하고, 상기 알고리즘은,랜덤 필드 모멘트 공식(random field moment theorem)에 기반하며, 측정된 투과 행렬과 진폭 정보의 랜덤 필드적 성질을 활용하여 반복 없이 광학 필드를 추출하는 랜덤 필드의 특성을 이용한 무 반복(non-iterative) 광학 필드 추출 알고리즘 또는 필드 추출을 위한 반복 알고리즘 중 적어도 하나를 이용하는 홀로그래픽 이미지 센싱 장치
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제9항에 있어서, 상기 투과 행렬 측정부는,투과 행렬을 측정하기 위해 설정되는 각각의 입력 광학 필드는 서로 독립적인 관계를 갖도록 설정된 베이시스를 이용하는홀로그래픽 이미지 센싱 장치
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제10항에 있어서, 상기 베이시스를 구축하는 입력 광학 필드의 개수가 선택 가능하고, 이미지 센서의 개수가 선택 가능하고, 상기 베이시스의 개수 및 상기 이미지 센서의 개수에 따라 이미징 센서 행렬이 결정되는홀로그래픽 이미지 센싱 장치
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제9항에 있어서, 상기 스페클 패턴 측정부는, 입사되는 빛의 광학 필드가 상기 투과행렬을 측정할 때 사용된 베이시스로서 기술 가능하도록 상기 이미징 센서 행렬의 베이시스를 구축하는 선택 가능한 개수의 필드를 이용하는 홀로그래픽 이미지 센싱 장치
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