맞춤기술찾기

이전대상기술

마이크로어레이 통합 분석 방법

  • 기술번호 : KST2014000930
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 마이크로어레이 통합 분석 방법이 개시된다.본 발명은 실험 설계, 표준화, 추정과 검정, 군집 분석 및 분류로 구성된 상위 메뉴의 아이템에 대하여, 상기 아이템 중 상기 실험 설계가 선택되면, 염료 교환, 기준설계 또는 루프설계 중 어느 하나의 실험 디자인을 선택하는 인터페이스와 상기 선택된 실험 디자인에 사용될 설계 파라미터를 입력하는 인터페이스를 디스플레이하고, 상기 입력된 설계 파라미터를 이용하여 상기 선택된 실험 디자인에 대한 아노바 설계 매트릭스를 생성하는 단계, 상기 아이템 중 상기 표준화가 선택되면, 입력된 슬라이드 정보를 이용한 단일 슬라이드 표준화, 단일 배치 표준화 및 다중 슬라이드 표준화를 순차적으로 수행하여 표준화 결과를 생성하는 단계, 상기 아이템 중 상기 추정과 검정이 선택되면, 상기 표준화 결과에 대해, 소정의 추정과 검정 방법을 수행하여 마이크로어레이 실험에서 유의한 유전자를 선택하는 단계, 상기 아이템 중 상기 군집 분석이 선택되면, 상기 표준화 결과를 이용하여 소정의 군집 분석을 수행하여 생성된 군집 분석 결과를 그래프로 디스플레이하는 단계 및 상기 아이템 중 상기 분류가 선택되면, 상기 표준화 결과 및 처리군 간의 변동과 처리군 내에서의 변동의 비를 이용하여 후보 유전자를 선정하고,상기 후보 유전자에 대해 소정의 분류를 수행하여 상기 설계 파라미터에 의한 관심 대상 그룹을 예측하며, 오분류율을 출력하는 단계를 포함한다.본 발명에 의하면, 하나의 통합시스템에서 마이크로어레이 자료 분석의 전 과정을 처리함으로써, 데이터베이스를 공유하여 마이크로어레이 스캐닝 이미지 자료에 대한 체계적인 통계분석을 수행할 수 있고, 각 실험의 상황에 따른 최적의 통계분석법을 적용함으로써 부적절한 방법의 적용으로 인한 위양성 및 위음성 오류율을 최소화하고 연구결과의 신뢰성을 높일 수 있으며, 편리하고 사용자 친화적인 인터페이스를 제공하여 분석이 용이하다.
Int. CL G06F 9/455 (2006.01) G06F 17/50 (2006.01)
CPC G06F 19/20(2013.01) G06F 19/20(2013.01)
출원번호/일자 1020060095827 (2006.09.29)
출원인 고려대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0839221-0000 (2008.06.11)
공개번호/일자 10-2008-0030142 (2008.04.04) 문서열기
공고번호/일자 (20080619) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.09.29)
심사청구항수 7

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이재원 대한민국 서울 성북구
2 김철민 대한민국 부산 서구
3 전명식 대한민국 서울 성북구
4 송석헌 대한민국 서울 성북구
5 이정복 대한민국 경기 안산시 단원구
6 손인석 대한민국 서울 성북구
7 박미라 대한민국 대전 중구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 현종철 대한민국 서울특별시 중구 다산로 **, *층 특허법인충현 (신당동, 두지빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 고려대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성북구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.09.29 수리 (Accepted) 1-1-2006-0715797-39
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.03.22 수리 (Accepted) 4-1-2007-5043540-16
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.07.05 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.08.14 수리 (Accepted) 9-1-2007-0049243-67
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.11.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0609607-56
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.01.15 수리 (Accepted) 1-1-2008-0034409-80
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.01.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0034416-00
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.05 수리 (Accepted) 4-1-2008-5034712-96
9 등록결정서
Decision to grant
2008.05.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0258114-50
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.06.09 수리 (Accepted) 4-1-2009-5111177-32
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.12 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149278-93
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.11 수리 (Accepted) 4-1-2014-5018243-16
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049934-62
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.10.10 수리 (Accepted) 4-1-2019-5210941-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
실험 설계, 표준화, 추정과 검정, 군집 분석 및 분류로 구성된 상위 메뉴의 아이템 중 상기 실험 설계가 선택되면, 염료 교환, 기준설계 또는 루프설계 중 어느 하나의 실험 디자인을 선택하는 인터페이스와 상기 선택된 실험 디자인에서 사용될 어레이 개수, 어레이 간 반복 여부, 어레이 내 반복 여부 및 처리 리스트를 포함하는 설계 파라미터를 입력하는 인터페이스를 디스플레이하는 단계; 및상기 입력된 설계 파라미터를 이용하여 상기 선택된 실험 디자인에 대한 아노바 설계 매트릭스를 생성하는 단계를 포함하는 마이크로어레이 통합 분석 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 아이템 중 상기 표준화가 선택되면,입력된 슬라이드 정보를 이용한 단일 슬라이드 표준화, 단일 배치 표준화 및 다중 슬라이드 표준화를 순차적으로 수행하여 표준화 결과를 생성하는 것을 특징으로 하는 마이크로어레이 통합 분석 방법
3 3
제 2 항에 있어서,상기 단일 슬라이드 표준화 수행시에 평균, 강도, 프린트 팁 또는 스케일 표준화 중 어느 하나의 표준화 방법을 선택하는 인터페이스를 디스플레이하고, 상기 단일 슬라이드를 상기 선택된 방법으로 표준화시키는 단계; 및상기 염료 교환 실험에 대해 동일한 조건에서 Cy3와 Cy5를 반대로 하여 실험한 결과들을 비교하여 표준화를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로어레이 통합 분석 방법
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 아이템 중 상기 추정과 검정이 선택되면,상기 표준화 결과에 대해, 뉴턴 분석 또는 B-통계량 분석 중 어느 하나의 분석을 수행하여 마이크로어레이 실험에서 유의한 유전자를 추정하는 단계;상기 표준화 결과에 대해, 에스에이엠(SAM) 분석 또는 이비에엠(EBAM) 중 어느 하나의 분석을 수행하여 반복된 마이크로어레이 실험에서 유의한 유전자를 탐색하고 상기 탐색된 유전자에 따른 잘못 발견할 확률을 연산하는 단계; 및상기 표준화 결과에 대해, 에이디피(ADP) 분석을 수행하여 마이크로어레이 실험에서 유의한 유전자를 추정하며 반복된 마이크로어레이 실험에서 유의한 유전자의 조정유의확률을 연산하여 상기 조정유의확률을 디스플레이하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로어레이 통합 분석 방법
5 5
제 3 항에 있어서, 상기 아이템 중 상기 군집 분석이 선택되면,유전자 또는 샘플에 대한 계층적 군집분석, k-평균 군집분석, 자기조직도 분석, 주성분 분석 또는 유전자에 대한 진쉐이빙 분석 중 어느 하나의 분석 방법을 선택하는 인터페이스를 제공하는 단계;상기 계층적 군집분석이 선택된 경우, 상기 군집 분석 결과로서 덴드로 그램을 디스플레이하는 단계;상기 k-평균 군집분석 또는 자기조직도 분석 중 어느 하나의 분석이 선택된 경우, 상기 군집 분석 결과로서 각 클러스터마다 프로파일의 평균 그래프를 디스플레이하는 단계;상기 주성분 분석이 선택된 경우, 상기 군집 분석 결과로서 제1 주성분과 제2 주성분을 축으로 하여 각 유전자들을 플롯한 그래프를 디스플레이하는 단계; 및상기 진쉐이빙 분석이 선택된 경우, 상기 군집 분석 결과로서 각 클러스터에서의 실험과 유전자 발현정도를 나타내는 그래프, 실제 주어진 데이터와 순열 데이터를 나타내는 그래프 및 클러스터의 크기에 따른 갭 통계량을 나타내는 그래프를 디스플레이하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로어레이 통합 분석 방법
6 6
제 3 항에 있어서, 상기 아이템 중 상기 분류가 선택되면,상기 표준화 결과와 처리군 간에는 변동값이 크며 처리군 내에서는 변동값이 작은 후보 유전자를 선정하고, 상기 후보 유전자에 대해 분류를 수행하여 상기 설계 파라미터에 의한 관심 대상 그룹을 예측하며 오분류율을 출력하고,상기 분류는 선형판별분석, 이차판별분석, 선형판별분석의 크로스확인 또는 이차판별분석의 크로스 확인 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 마이크로어레이 통합 분석 방법
7 7
제 6 항에 있어서,상기 설계 파라미터에 의한 관심 대상 그룹을 예측하며 오분류율을 출력하는 단계는상기 표준화 결과에 대해, 의사결정규칙을 도표화하여 예측의 대상이 되는 집단을 복수의 소집단으로 분류하고 의사결정나무를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로어레이 통합 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.