요약 | 본 발명은 N2O 플라즈마 처리를 이용한 고품질의 n-형 질화갈륨(GaN) 계열 박막의 제조방법에 관한 것으로, 본 발명에 따르면, 기판 위에 질화갈륨 핵생성층(nucleation layer)을 형성한 다음, 실리콘을 도핑하여 n-형 질화갈륨 박막을 형성하는 제 1 단계; n-형 질화갈륨 박막에 기설정된 소정 시간 동안 N2O 플라즈마 처리를 수행하는 제 2 단계를 포함하여 플라즈마 처리를 이용한 질화갈륨계열 박막의 제조함으로써, 고품질의 n-형 질화갈륨 박막을 제조함으로써 우수한 오믹접촉 특성을 구현할 수 있고 그로 인해 우수한 특성을 갖는 질화갈륨 계열의 광소자나 전자소자를 제작할 수 있는 효과를 얻을 수 있다. 또한, 본 발명에 의한 N2O 플라즈마 처리를 할 경우 후속열처리를 행하지 않고도 우수한 오믹접촉 특성을 보여줄 수 있게 됨으로써 질화갈륨 계열의 소자제작에 있어서 안정성 및 경제성을 향상시킬 수 있는 효과가 있으며, N2O 플라즈마 조건에 따라서 박막의 전자농도와 비저항 값을 임의로 조절할 수 있는 효과가 있다. |
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Int. CL | H01L 33/12 (2014.01) |
CPC | H01L 33/0075(2013.01) H01L 33/0075(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020000015830 (2000.03.28) |
출원인 | 광주과학기술원 |
등록번호/일자 | 10-0330840-0000 (2002.03.19) |
공개번호/일자 | 10-2001-0093026 (2001.10.27) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20020401) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2000.03.28) |
심사청구항수 | 3 |