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단결정 기판의 제조 방법, 이에 의해 제조된 단결정 기판, 상기 단결정 기판을 포함하는 발광소자, 및 이의 제조 방법

  • 기술번호 : KST2014013923
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 단결정 기판의 제조방법, 이에 의해 제조된 단결정 기판, 단결정 기판을 포함하는 발광소자, 및 이의 제조방법이 개시되어 있다. 단결정 기판의 제조방법은 베이스 기판 상에 하부 에피층을 성장시키는 단계, 하부 에피층 내의 전위 영역의 적어도 일부를 선택적으로 제거하는 단계, 제거된 전위 영역 내에 전위 방지 요소를 형성하는 단계 및 전위 방지 요소가 형성된 하부 에피층 상에 상부 에피층을 형성하는 단계를 포함한다. 단결정 기판, 단결정 성장, 발광소자
Int. CL H01L 33/12 (2014.01)
CPC
출원번호/일자 1020080093400 (2008.09.23)
출원인 일진머티리얼즈 주식회사
등록번호/일자 10-1146819-0000 (2012.05.09)
공개번호/일자 10-2010-0034332 (2010.04.01) 문서열기
공고번호/일자 (20120521) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.09.22)
심사청구항수 19

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 일진머티리얼즈 주식회사 대한민국 전라북도 익산시 석

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박태영 대한민국 광주광역시 북구
2 박성주 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한) 대아 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, 한양빌딩*층(역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 에이치씨 세미테크 코퍼레이션 중국 ****** 우한 이스트 레이크 하이 테크놀러지 디벨롭먼트 존 빈후 로드 넘
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.09.23 수리 (Accepted) 1-1-2008-0668963-00
2 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2009.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2009-0580011-64
3 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2011.01.11 수리 (Accepted) 1-1-2011-0021878-68
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.04.06 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0186866-36
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.06.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0420330-64
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.06.03 수리 (Accepted) 1-1-2011-0420329-17
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.11.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0697455-26
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.12.13 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0989659-13
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.12.13 수리 (Accepted) 1-1-2011-0989658-67
10 등록결정서
Decision to grant
2012.05.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0268904-19
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
베이스 기판 상에 하부 에피층을 성장시키는 단계;상기 하부 에피층 내의 전위 영역의 적어도 일부를 선택적으로 제거하는 단계;상기 제거된 전위 영역 외의 상기 하부 에피층 상에 포토레지스트 패턴을 형성하고 전위 방지막을 형성한 후 상기 포토레지스트 패턴을 제거하여, 상기 제거된 전위 영역 내에 전위 방지 요소를 형성하는 단계; 및상기 전위 방지 요소가 형성된 하부 에피층 상에 상부 에피층을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 전위 방지 요소 형성 단계에서, 상기 전위 방지 요소를 상기 전위 영역 내에 함몰된 형태로 형성하여, 상기 상부 에피층 형성 단계에서 상기 전위 방지 요소 상에 보이드를 형성하는 것을 특징으로 하는 단결정 기판의 제조방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 전위 영역의 적어도 일부를 선택적으로 제거하는 것은,건식식각 또는 습식식각을 이용하여 수행하는 것을 특징으로 하는 단결정 기판의 제조방법
3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
삭제
6 6
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 전위 방지 요소는 금속층 또는 무기물층인 단결정 기판의 제조방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 상부에피층은 MOCVD법, MBE법, HVPE법 또는 SVPE법을 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 단결정 기판의 제조방법
8 8
제 1 항 또는 7항에 있어서, 상기 상부 에피층은 SiC층, ZnO층, Si층, GaAs층, NCO층, BN층, AlN층 또는 GaN층인 단결정 기판의 제조방법
9 9
베이스 기판:상기 베이스 기판 상에 위치하고, 상부면에 다수 개의 홈을 구비하는 하부 에피층;상기 홈 내에 위치하는 전위 방지 요소; 및상기 전위 방지 요소 및 상기 하부 에피층 상에 위치하는 상부 에피층을 구비하고,상기 전위 방지 요소는 상기 홈 내에 함몰된 형태로 형성되어, 상기 전위 방지 요소와 상기 상부 에피층 사이에 보이드가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 단결정 기판
10 10
제 9 항에 있어서, 상기 전위 방지 요소는 금속층 또는 무기물층인 단결정 기판
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 금속층은 Ag층, Au층 또는 Pt층인 단결정 기판
12 12
제 10 항에 있어서, 상기 무기물층은 SiN층, SiO2층, HfO2층 또는 TiO2층인 단결정 기판
13 13
제 9 항에 있어서, 상기 상부 에피층은 SiC층, ZnO층, Si층, GaAs층, NCO층, BN층, AlN층 또는 GaN층인 단결정 기판
14 14
베이스 기판 상에 하부 버퍼층을 성장시키는 단계;상기 하부 버퍼층 내의 전위 영역의 적어도 일부를 선택적으로 제거하는 단계;상기 제거된 전위 영역 외의 상기 하부 버퍼층 상에 포토레지스트 패턴을 형성하고 전위 방지막을 형성한 후 상기 포토레지스트 패턴을 제거하여, 상기 제거된 전위 영역 내에 전위 방지 요소를 형성하는 단계;상기 전위 방지 요소가 형성된 하부 버퍼층 상에 상부 버퍼층을 형성하는 단계;상기 상부 버퍼층 상에 제1형 반도체층을 형성하는 단계;상기 제1형 반도체층 상에 활성층을 형성하는 단계; 및상기 활성층 상에 제2형 반도체층을 형성하는 단계를 포함하고,상기 전위 방지 요소 형성 단계에서, 상기 전위 방지 요소를 상기 전위 영역 내에 함몰된 형태로 형성하여, 상기 상부 버퍼층 형성 단계에서, 상기 전위 방지 요소 상에 보이드를 형성하는 것을 특징으로 하는 발광소자 제조방법
15 15
삭제
16 16
삭제
17 17
삭제
18 18
제 14 항에 있어서, 상기 전위 방지 요소는 금속층 또는 무기물층인 발광소자 제조방법
19 19
제 14 항에 있어서, 상기 상부 버퍼층은 MOCVD법, MBE법, HVPE법 또는 SVPE법을 이용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 발광소자 제조방법
20 20
제 14 항 또는 19항에 있어서, 상기 상부 버퍼층은 SiC층, ZnO층, Si층, GaAs층, NCO층, BN층, AlN층 또는 GaN층인 발광소자 제조방법
21 21
베이스 기판 상에 위치하고, 상부면에 다수 개의 홈을 구비하는 하부 버퍼층;상기 홈 내에 위치하는 전위 방지 요소;상기 전위 방지 요소 및 상기 하부 버퍼층 상에 위치하는 상부 버퍼층;상기 상부 버퍼층 상에 형성된 제1형 단결정 반도체층; 상기 제1형 단결정 반도체층 상에 형성된 활성층; 및상기 활성층 상에 형성된 제2형 단결정 반도체층;을 포함하고,상기 전위 방지 요소는 상기 홈 내에 함몰된 형태로 형성되어, 상기 전위 방지 요소와 상기 상부 버퍼층 사이에 보이드가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 발광소자
22 22
제 21 항에 있어서, 상기 전위 방지 요소는 금속층 또는 무기물층인 발광소자
23 23
제 22 항에 있어서, 상기 금속층은 Ag층, Au층 또는 Pt층인 발광소자
24 24
제 22 항에 있어서, 상기 무기물층은 SiN층, SiO2층, HfO2층 또는 TiO2층인 발광소자
25 25
제 21 항에 있어서, 상기 상부 버퍼층은 SiC층, ZnO층, Si층, GaAs층, NCO층, BN층, AlN층 또는 GaN층인 발광소자
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2010036002 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
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1 WO2010036002 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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