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지문의 방향특징을 추출하는 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2014027837
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 개시된 기술은 지문의 방향 특징을 추출하는 장치 및 방법에 관한 것이다. 실시예들 중에서 지문의 방향 특징을 추출하는 장치는 지문 영상에서 제1 윈도우를 이동시키며, 픽셀 단위로 융선의 진행 순서를 탐색하는 융선 탐색부; 및 상기 지문 영상에서 상기 탐색된 융선의 진행 순서와 동일하게 제2 윈도우를 이동시키며, 픽셀 단위로 상기 융선의 방향 값들을 검출하는 방향 검출부를 포함한다.
Int. CL G06K 9/46 (2006.01) G06K 9/00 (2006.01)
CPC G06K 9/0008(2013.01) G06K 9/0008(2013.01)
출원번호/일자 1020090076138 (2009.08.18)
출원인 성균관대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1021134-0000 (2011.03.03)
공개번호/일자 10-2011-0018598 (2011.02.24) 문서열기
공고번호/일자 (20110314) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.08.18)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이지형 대한민국 서울특별시 용산구
2 정혜욱 대한민국 서울특별시 동작구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 양우석 대한민국 서울특별시 서초구 양재동 ***-* 정환빌딩 *층(쿼스국제특허법률사무소)
2 남정길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 인화빌딩 *층 (삼성동)(특허법인(유한)아이시스)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 성균관대학교산학협력단 대한민국 경기도 수원시 장안구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.08.18 수리 (Accepted) 1-1-2009-0503238-82
2 등록결정서
Decision to grant
2011.02.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0115513-93
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2012-5090770-53
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.20 수리 (Accepted) 4-1-2012-5131828-19
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.27 수리 (Accepted) 4-1-2012-5137236-29
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.02.23 수리 (Accepted) 4-1-2017-5028829-43
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
지문 영상에서 제1 윈도우를 이동 시키며, 픽셀 단위로 융선의 진행 순서를 탐색하는 융선 탐색부; 및 상기 지문 영상에서 상기 탐색된 융선의 진행 순서와 동일하게 제2 윈도우를 이동시키며, 픽셀 단위로 상기 융선의 방향 값들을 검출하는 방향 검출부를 포함하는 지문의 방향 특징을 추출하는 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 융선 탐색부는, 복수의 픽셀들을 포함하는 제1 윈도우를 설정하고, 상기 제1 윈도우의 테두리 픽셀들에게 진행 순서 값들을 할당하는 제1 윈도우 설정부; 상기 제1 윈도우가 위치한 픽셀들 중에서 상기 융선이 위치한 픽셀을 검출하고, 상기 검출된 픽셀에 할당된 진행 순서 값을 상기 융선의 진행 순서 값으로 결정하고, 상기 융선의 다음 진행 순서 값을 결정하기 위해 상기 제1 윈도우의 중심을 상기 검출된 픽셀로 이동시키는 진행 순서 값 결정부를 포함하며, 상기 방향 검출부는 상기 결정된 진행 순서 값을 기초로 상기 제2 윈도우를 이동시키는 지문의 방향 특징을 추출하는 장치
3 3
제1항에 있어서, 상기 방향 검출부는, 복수의 픽셀들을 포함하는 제2 윈도우를 설정하고, 상기 제2 윈도우의 테두리 픽셀들에게 방향 값들을 할당하는 제2 윈도우 설정부; 상기 융선 탐색부에서 탐색된 융선의 진행순서와 동일하게 상기 제2 윈도우의 중심을 이동시키며, 상기 제2 윈도우 내에서 상기 융선이 위치한 픽셀을 탐색하고, 상기 탐색된 픽셀에 할당된 방향 값을 기초로 상기 융선의 방향 값들을 픽셀 단위로 결정하는 방향 값 결정부를 포함하는 지문의 방향 특징을 추출하는 장치
4 4
제1항에 있어서, 상기 지문 영상에서 방향 특징의 추출을 용이하게 하기 위한 전처리를 하는 전처리부를 더 포함하는 지문의 방향 특징을 추출하는 장치
5 5
제4항에 있어서, 상기 전처리부는, 상기 지문 영상의 명암 분포를 고르게 하는 평활화부; 상기 지문 영상의 융선과 골을 각각 제1 값과 제2 값으로 표현하는 이진화부; 및 상기 융선의 두께를 1픽셀 두께로 변환하는 세선화부를 포함하는 지문의 방향 특징을 추출하는 장치
6 6
제1항에 있어서, 상기 융선 탐색부는, 상기 융선의 진행을 탐색하는 중 분기점이 나오면, 상기 분기점을 기준으로 제1 분기 융선의 진행을 먼저 탐색하고, 그 후에 제2 분기 융선의 진행을 탐색하며, 상기 방향 검출부는, 상기 융선 탐색부의 탐색 순서에 따라, 상기 제1 분기 융선의 방향값들을 먼저 검출하고, 그 후에 상기 제2 분기 융선의 방향값들을 검출하는 지문의 방향 특징을 추출하는 장치
7 7
제1항에 있어서, 상기 방향 검출부에서 검출된 픽셀 단위의 방향 값들을 그룹 단위로 병합하는 방향 병합부를 더 포함하는 지문의 방향 특징을 추출하는 장치
8 8
제1항에 있어서, 상기 제1 윈도우는 제1 복수의 픽셀들을 포함하는 정방형 윈도우이고, 상기 제2 윈도우는 상기 제1 복수보다 큰 제2 복수의 픽셀들을 포함하는 정방형 윈도우인 지문의 방향 특징을 추출하는 장치
9 9
제8항에 있어서, 상기 제1 복수는 9이고, 상기 제2 복수는 25인 지문의 방향 특징을 추출하는 장치
10 10
융선의 방향 특징을 추출하는 장치가 융선의 방향 특징을 추출하는 방법에 있어서, 지문 영상에서 제1 윈도우를 이동 시키며, 픽셀 단위로 융선의 진행 순서를 탐색하는 단계; 및 상기 지문 영상에서 상기 탐색된 융선의 진행 순서와 동일하게 제2 윈도우를 이동시키며, 픽셀 단위로 상기 융선의 방향 값들을 검출하는 단계를 포함하는 지문의 방향 특징을 추출하는 방법
11 11
제10항에 있어서, 상기 탐색하는 단계는, 복수의 픽셀들을 포함하는 제1 윈도우를 설정하고, 상기 제1 윈도우의 테두리 픽셀들에게 진행 순서 값들을 할당하는 단계; 및 상기 제1 윈도우가 위치한 픽셀들 중에서 상기 융선이 존재하는 픽셀을 검출하고, 상기 검출된 픽셀에 할당된 진행 순서 값을 상기 융선의 진행 순서 값으로 결정하고, 상기 융선의 다음 진행 순서 값을 결정하기 위해 상기 제1 윈도우의 중심을 상기 검출된 픽셀로 이동시키는 단계를 포함하며, 상기 검출하는 단계는 상기 결정된 진행 순서 값을 기초로 상기 제2 윈도우를 이동시키는 단계를 포함하는 지문의 방향 특징을 추출하는 방법
12 12
제10항에 있어서, 상기 검출하는 단계는, 복수의 픽셀들을 포함하는 제2 윈도우를 설정하고, 상기 제2 윈도우의 테두리 픽셀들에게 방향 값들을 할당하는 단계; 및 상기 탐색된 융선의 진행순서와 동일하게 상기 제2 윈도우의 중심을 이동시키며, 상기 제2 윈도우 내에서 상기 융선이 위치한 픽셀을 탐색하고, 상기 탐색된 픽셀에 할당된 방향 값을 기초로 상기 융선의 방향 값들을 픽셀 단위로 결정하는 단계를 포함하는 지문의 방향 특징을 추출하는 방법
13 13
제10항에 있어서, 상기 지문 영상에서 방향 특징의 추출을 용이하게 하기 위한 전처리를 하는 단계를 더 포함하는 지문의 방향 특징을 추출하는 방법
14 14
제10항에 있어서, 상기 검출하는 단계에서 검출된 픽셀 단위의 방향 값들을 그룹 단위로 병합하는 단계를 더 포함하는 지문의 방향 특징을 추출하는 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.