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스핀 홀 효과를 이용한 자기메모리셀 판독 방법 및 자기메모리 장치

  • 기술번호 : KST2014028210
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 양태에 따른 자기메모리 장치는, 채널층을 갖는 판독용 기판부; 및 상기 기판부 상에 형성되며, 상기 채널층을 지나는 전자에 스핀 정보를 전달하는 자화된 자성체를 구비한 자기메모리셀을 포함하고, 상기 채널층을 지나는 전자가 스핀 홀 효과에 의해 상기 채널층 폭방향으로 이동함으로써 발생되는 상기 채널층 양측단의 전압으로 상기 자기메모리셀에 저장된 정보가 판독된다. 자기메모리, 스핀 홀 효과
Int. CL G11C 11/15 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020080075690 (2008.08.01)
출원인 한국과학기술연구원
등록번호/일자 10-0982660-0000 (2010.09.10)
공개번호/일자 10-2010-0013930 (2010.02.10) 문서열기
공고번호/일자 (20100917) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.08.01)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국과학기술연구원 대한민국 서울특별시 성북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 구현철 대한민국 서울 성북구
2 한석희 대한민국 서울 노원구
3 장준연 대한민국 서울 성북구
4 김형준 대한민국 서울 용산구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인씨엔에스 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, 대림아크로텔 *층(도곡동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 (주) 컴파스 시스템 서울특별시 구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.08.01 수리 (Accepted) 1-1-2008-0557547-49
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.10.08 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.11.12 수리 (Accepted) 9-1-2009-0061722-87
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.12.15 수리 (Accepted) 4-1-2009-5247056-16
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.02.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0078908-76
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.04.26 수리 (Accepted) 1-1-2010-0269816-52
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.04.26 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0269813-15
8 등록결정서
Decision to grant
2010.08.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0356523-45
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.19 수리 (Accepted) 4-1-2014-5022002-69
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
채널층을 갖는 판독용 기판부; 및 상기 기판부 상에 형성되며, 상기 채널층을 지나는 전자에 스핀 정보를 전달하는 자화된 자성체를 구비한 자기메모리셀을 포함하고, 상기 채널층을 지나는 전자가 스핀 홀 효과에 의해 상기 채널층 폭방향으로 이동함으로써 발생되는 상기 채널층 양측단의 전압으로 상기 자기메모리셀에 저장된 정보가 판독되고, 상기 자기메모리셀에 구비된 상기 자성체의 자화방향은 상기 채널층 상면에 수직이고, 상기 자기메모리셀의 판독시에 상기 자성체의 스핀 정보를 갖는 전자가 상기 자성체로부터 상기 채널층으로 주입되고, 상기 채널층으로 주입된 전자는 스핀 홀 효과에 의해 외부 자장 없이 상기 채널층의 폭방향으로 이동하고, 상기 채널층 폭방향으로의 전자 이동 방향은 상기 채널층으로 주입되는 전자의 스핀 방향에 따라 달라지는 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
2 2
삭제
3 3
삭제
4 4
제1항에 있어서, 상기 자기메모리셀의 판독시, 상기 채널층 폭방향으로의 전자 이동 방향이 달라짐에 따라 상기 채널층 양측단에 걸리는 전압의 극성이 달라지는 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
5 5
제1항에 있어서, 상기 자기메모리셀에 구비된 상기 자성체는 CoFe, Co, Ni, NiFe 및 이들의 조합으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
6 6
제1항에 있어서, 상기 자기메모리셀에 구비된 상기 자성체는 (Ga, Mn)As, (In, Mn)As 및 이들의 조합으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
7 7
제1항에 있어서, 상기 자기메모리셀은 강자성체/터널장벽/강자성체의 다층 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
8 8
제1항에 있어서, 상기 자기메모리셀은 강자성체의 단일 패턴 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
9 9
제1항에 있어서, 상기 채널층은 2차원 전자가스층인 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
10 10
제9항에 있어서, 상기 2차원 전자가스층은 GaAs, InAs, InGaAs, InSb 및 이들의 조합으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 재료로 형성된 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
11 11
제9항에 있어서, 상기 판독용 기판부는, 상기 2차원 전자가스층을 이루는 채널층을 샌드위칭하는 하부 클래딩층과 상부 클래딩층을 포함하고, 상기 하부 클래딩층은 제1 하부 클래딩층과, 상기 제1 하부 클래딩층 아래에 형성되어 상기 제1 하부 클래딩층보다 큰 밴드갭을 갖는 제2 하부 클래딩층을 포함하고, 상기 상부 클래딩층은 제1 상부 클래딩층과, 상기 제1 상부 클래딩층 위에 형성되어 상기 제1 상부 클래딩층보다 큰 밴드갭을 갖는 제2 상부 클래딩층을 포함하는 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
12 12
제11항에 있어서, 상기 채널층은 InAs로 형성되고, 상기 제1 하부 클래딩층과 제1 상부 클래딩층은 언도프 InGaAs로 형성되고, 상기 제2 하부 클래딩층과 제2 상부 클래딩층은 언도프 InAlAs로 형성된 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
13 13
제1항에 있어서, 상기 판독용 기판부는 상기 채널층의 길이 방향을 따라 양측부가 제거된 리지 구조를 갖고, 상기 리지 구조에 의해 채널의 폭이 한정되고, 상기 리지 구조의 제거된 양측부에는 평탄화를 위한 절연막이 형성된 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
14 14
제13항에 있어서, 상기 리지 구조는 상기 채널층의 길이방향 연장부와 폭방향 연장부가 서로 교차하는 십자가 형상의 상면을 갖고, 상기 폭방향 연장부의 양단에 걸리는 전압이 저장 정보로서 읽혀지는 것을 특징으로 하는 자기메모리 장치
15 15
자기메모리셀에 저장된 정보를 판독하는 방법에 있어서, 채널층을 지나는 전자에 스핀 정보를 전달할 수 있도록 상기 채널층을 갖는 판독용 기판부 상에 자화된 자성체를 구비한 자기메모리셀를 배치하고, 상기 자기메모리셀의 판독시 상기 채널층을 지나는 전자에 의한 스핀 홀 효과를 이용하여 상기 채널층 양측단에 발생된 전압을 읽어 상기 자기메모리에 저장된 정보를 판독하고, 상기 자기메모리셀에 구비된 상기 자성체의 자화방향은 상기 채널층 상면에 수직인 스핀-업 또는 스핀-다운이고, 상기 자기메모리셀의 판독시에 상기 자성체의 스핀 정보를 갖는 전자가 상기 자성체로부터 상기 채널층으로 주입되고, 상기 채널층으로 주입된 전자는 스핀 홀 효과에 의해 외부 자장 없이 상기 채널층의 폭방향으로 이동하고, 상기 채널층에 주입된 전자의 이동 방향이 상기 자성체의 스핀 정보를 갖는 전자의 스핀 방향에 따라 달라져서 상기 전압이 읽혀지는 것을 특징으로 하는 자기메모리셀 판독 방법
16 16
삭제
17 17
삭제
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1 US07839675 US 미국 FAMILY
2 US20100027330 US 미국 FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2010027330 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US7839675 US 미국 DOCDBFAMILY
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