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보조 이중 프로브가 구비된 플라즈마 진단 장치

  • 기술번호 : KST2014039954
  • 담당센터 : 서울서부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-6124-6930
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 플라즈마 진단장치는, 플라즈마 상태 변수를 측정하기 위한 메인 프로브; 상기 메인 프로브와 병렬 연결되는 제1 보조 프로브; 상기 메인 프로브와 병렬 연결되는 제2 보조 프로브; 및 상기 제1 보조 프로브와 상기 제2 보조 프로브를 상호 연결하여 바이어스 전압을 인가하기 위한 직류 전원을 포함한다.
Int. CL H01J 37/32 (2006.01.01) H01L 21/67 (2006.01.01)
CPC H01J 37/32935(2013.01) H01J 37/32935(2013.01) H01J 37/32935(2013.01)
출원번호/일자 1020100110796 (2010.11.09)
출원인 한양대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1177377-0000 (2012.08.21)
공개번호/일자 10-2012-0049510 (2012.05.17) 문서열기
공고번호/일자 (20120827) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.11.09)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 대한민국 서울특별시 성동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정진욱 대한민국 서울특별시 송파구
2 오세진 대한민국 서울특별시 성동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유병욱 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로**길* 백년빌딩*층(세연특허법률사무소)
2 한승범 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로**길* (역삼동) 백년빌딩 *층(세연특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한양대학교 산학협력단 서울특별시 성동구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.11.09 수리 (Accepted) 1-1-2010-0729507-16
2 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.10.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0633317-56
3 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.12.19 수리 (Accepted) 1-1-2011-1008397-82
4 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.12.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-1008399-73
5 등록결정서
Decision to grant
2012.05.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0316649-31
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.06.05 수리 (Accepted) 4-1-2014-5068294-39
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5022074-70
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.05 수리 (Accepted) 4-1-2019-5155816-75
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.08.06 수리 (Accepted) 4-1-2019-5156285-09
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
플라즈마 상태 변수를 측정하기 위한 메인 프로브;상기 메인 프로브와 병렬 연결되는 제1 보조 프로브;상기 메인 프로브와 병렬 연결되는 제2 보조 프로브; 및상기 제1 보조 프로브와 상기 제2 보조 프로브를 상호 연결하여 바이어스 전압을 인가하기 위한 직류 전원을 포함하는, 보조 이중 프로브가 구비된 플라즈마 진단장치
2 2
제1항에 있어서,상기 제1 보조 프로브는, 상기 메인 프로브와 인접하게 배치되고,상기 제2 보조 프로브는, 상기 제1 보조 프로브에서 미리 정해진 거리만큼 떨어져 있는, 보조 이중 프로브가 구비된 플라즈마 진단장치
3 3
제1항 또는 제2항에 있어서,상기 플라즈마 진단장치는,상기 메인 프로브와 상기 제1 보조 프로브가 장착되는 제1 튜브; 및상기 제2 보조 프로브가 장착되는 제2 튜브를 더 포함하는, 보조 이중 프로브가 구비된 플라즈마 진단장치
4 4
제1항에 있어서,상기 직류 전원은,상기 바이어스 전압의 값을 변경할 수 있도록, 가변 직류 전원으로 마련되는, 보조 이중 프로브가 구비된 플라즈마 진단장치
5 5
제1항에 있어서,상기 제1 보조 프로브는,상기 메인 프로브와 전기적으로 절연되도록, 저지 커패시터를 통해 상기 메인 프로브에 병렬 연결되는, 보조 이중 프로브가 구비된 플라즈마 진단장치
6 6
제1항에 있어서,상기 제1 보조 프로브는 양(+)으로 바이어스 되고,상기 제2 보조 프로브는 음(-)으로 바이어스 되는, 보조 이중 프로브가 구비된 플라즈마 진단장치
7 7
제1항에 있어서,상기 메인 프로브는 랭뮤어 프로브(Langmuir Probe)로 마련되고,상기 제1 및 제2 보조 프로브 각각은 링 형상을 갖는, 보조 이중 프로브가 구비된 플라즈마 진단장치
8 8
제1항에 있어서,상기 제1 보조 프로브는,상기 메인 프로브에 비해 큰 면적을 갖는, 보조 이중 프로브가 구비된 플라즈마 진단장치
9 9
제8항에 있어서,상기 제2 보조 프로브는,상기 제1 보조 프로브에 비해 작은 면적을 갖는, 보조 이중 프로브가 구비된 플라즈마 진단장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.