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바이패스 경로를 이용하여 신뢰성 검증을 할 수 있는 플래시 메모리 저장 장치， 및 이를 이용한 플래시 메모리 저장 장치의 신뢰성 검증 시스템 및 방법

  • 기술번호 : KST2014058611
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 플래시 메모리 저장 장치에 있어서, 적어도 하나의 플래시 메모리 칩; 상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩을 제어하는 컨트롤러; 상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩과 상기 컨트롤러 사이의 제1 경로를 위한 제1 커넥터; 및 상기 컨트롤러와 상기 플래시 메모리 저장 장치를 테스트하는 테스트 지원 시스템 사이의 제2 경로를 위한 제2 커넥터를 포함하고, 상기 컨트롤러는 상기 제1 경로 또는 상기 제2 경로 중 적어도 하나를 선택적으로 활성화하는 플래시 메모리 저장 장치를 이용하여 플래시 메모리 저장 장치의 신뢰성을 검증하는 기술을 제공한다.
Int. CL G11C 29/00 (2006.01.01) G11C 16/06 (2006.01.01) G11C 16/02 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020110095882 (2011.09.22)
출원인 서울대학교산학협력단
등록번호/일자 10-1300443-0000 (2013.08.20)
공개번호/일자 10-2013-0032151 (2013.04.01) 문서열기
공고번호/일자 (20130827) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.09.22)
심사청구항수 19

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤진혁 대한민국 서울특별시 용산구
2 남이현 대한민국 서울특별시 도봉구
3 민상렬 대한민국 서울특별시 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 서울대학교산학협력단 서울특별시 관악구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.09.22 수리 (Accepted) 1-1-2011-0740217-29
2 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2011.09.23 수리 (Accepted) 1-1-2011-0742465-82
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2011.09.27 수리 (Accepted) 4-1-2011-5195109-43
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2012.10.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2012.11.15 수리 (Accepted) 9-1-2012-0085614-09
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.01.14 수리 (Accepted) 4-1-2013-5007213-54
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.02.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0131153-04
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2013.03.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0235061-61
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2013.03.19 수리 (Accepted) 1-1-2013-0235060-15
10 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2013.04.04 수리 (Accepted) 1-1-2013-0293479-80
11 등록결정서
Decision to grant		 2013.07.25 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0512396-62
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.03.17 수리 (Accepted) 4-1-2015-5033829-92
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5062924-01
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.05.13 수리 (Accepted) 4-1-2019-5093546-10
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.05.23 수리 (Accepted) 4-1-2019-5101798-31
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2019.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5154561-59
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
플래시 메모리 저장 장치에 있어서,적어도 하나의 플래시 메모리 칩;상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩을 제어하는 컨트롤러;상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩과 상기 컨트롤러 사이의 제1 경로를 위한 제1 커넥터; 및상기 컨트롤러와 상기 플래시 메모리 저장 장치를 테스트하는 테스트 지원 시스템 사이의 제2 경로를 위한 제2 커넥터를 포함하고,상기 컨트롤러는 상기 제1 경로 또는 상기 제2 경로 중 적어도 하나를 선택적으로 활성화하는 플래시 메모리 저장 장치
2 2
제1항에 있어서,상기 제2 경로는상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩을 바이패스(bypass)하면서상기 제2 커넥터를 통하여 상기 컨트롤러와 상기 테스트 지원 시스템 사이를 연결하는 플래시 메모리 저장 장치
3 3
제1항에 있어서,상기 제2 경로를 위한 입/출력 단자를 더 포함하고,상기 제2 경로는상기 컨트롤러와 상기 제2 커넥터 사이의 경로;상기 제2 커넥터와 상기 입/출력 단자 사이의 경로; 및상기 입/출력 단자와 상기 테스트 지원 시스템 사이의 경로를 포함하는 플래시 메모리 저장 장치
4 4
제1항에 있어서,상기 컨트롤러는 상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부를 판단하고, 상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부에 따라 상기 제1 경로 또는 상기 제2 경로 중 적어도 하나를 선택적으로 활성화하는 플래시 메모리 저장 장치
5 5
제4항에 있어서,상기 컨트롤러는호스트에 의해 전송된 명령 또는 상기 컨트롤러의 이전 동작 모드를 기초로 상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부를 판단하는 플래시 메모리 저장 장치
6 6
제5항에 있어서,상기 컨트롤러는호스트에 의해 전송된 명령을 기초로 상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부를 판단하고,상기 판단된 컨트롤러의 동작 모드를 상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩에 저장하고,상기 저장된 컨트롤러의 동작 모드를 기초로 상기 컨트롤러의 이전 동작 모드를 확인하는 플래시 메모리 저장 장치
7 7
플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 시스템에 있어서,플래시 메모리 저장 장치;상기 플래시 메모리 저장 장치를 테스트하는 테스트 지원 시스템 장치; 및상기 플래시 메모리 저장 장치를 사용하는 호스트 장치를 포함하고,상기 플래시 메모리 저장 장치는적어도 하나의 플래시 메모리 칩;상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩을 제어하는 컨트롤러;상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩과 상기 컨트롤러 사이의 제1 경로를 위한 제1 커넥터; 및상기 컨트롤러와 상기 테스트 지원 시스템 장치 사이의 제2 경로를 위한 제2 커넥터를 포함하고,상기 컨트롤러는 상기 제1 경로 또는 상기 제2 경로 중 적어도 하나를 선택적으로 활성화하는플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 시스템
8 8
제7항에 있어서,상기 제2 경로는상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩을 바이패스(bypass)하면서상기 제2 커넥터를 통하여 상기 컨트롤러와 상기 테스트 지원 시스템 사이를 연결하는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 시스템
9 9
제7항에 있어서,상기 플래시 메모리 저장 장치는 상기 제2 경로를 위한 입/출력 단자를 더 포함하고,상기 제2 경로는상기 컨트롤러와 상기 제2 커넥터 사이의 경로;상기 제2 커넥터와 상기 입/출력 단자 사이의 경로; 및상기 입/출력 단자와 상기 테스트 지원 시스템 사이의 경로를 포함하는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 시스템
10 10
제7항에 있어서,상기 플래시 메모리 저장 장치의 컨트롤러는 상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부를 판단하고, 상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부에 따라 상기 제1 경로 또는 상기 제2 경로 중 적어도 하나를 선택적으로 활성화하는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 시스템
11 11
제10항에 있어서,상기 플래시 메모리 저장 장치의 컨트롤러는호스트에 의해 전송된 명령 또는 상기 컨트롤러의 이전 동작 모드를 기초로 상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부를 판단하는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 시스템
12 12
제11항에 있어서,상기 플래시 메모리 저장 장치의 컨트롤러는호스트에 의해 전송된 명령을 기초로 상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부를 판단하고,상기 판단된 컨트롤러의 동작 모드를 상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩에 저장하고,상기 저장된 컨트롤러의 동작 모드를 기초로 상기 컨트롤러의 이전 동작 모드를 확인하는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 시스템
13 13
제7항에 있어서,상기 테스트 지원 시스템 장치는상기 플래시 메모리 저장 장치의 동작을 검증하기 위한 테스트 지원 기능을 수행하는 플래시 메모리 에뮬레이터; 및상기 제2 경로를 통하여 전달된 작업 요청과 데이터를 상기 플래시 메모리 에뮬레이터에서 사용되는 형태로 변환하는 변환 모듈을 포함하는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 시스템
14 14
제7항에 있어서,상기 테스트 지원 시스템 장치는상기 호스트 시스템 장치와 별개의 물리적인 시스템에서 운용되거나, 상기 호스트 시스템 장치와 함께 하나의 물리적인 시스템에서 운용되는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 시스템
15 15
제7항에 있어서,상기 제2 경로를 통하여 전달되는 정보의 형태는 비공개 형태 및 표준화된 형태를 포함하는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 시스템
16 16
플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 방법에 있어서,적어도 하나의 플래시 메모리 칩을 제어하는 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부를 판단하는 단계; 및상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부에 따라 상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩과 상기 컨트롤러 사이의 제1 경로 또는 상기 컨트롤러와 상기 플래시 메모리 저장 장치를 테스트하는 테스트 지원 시스템 사이의 제2 경로 중 적어도 하나를 선택적으로 활성화하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 방법
17 17
제16항에 있어서,상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부를 판단하는 단계는전원 공급 또는 시스템 재 시작 여부를 판단하는 단계;상기 전원 공급 또는 시스템 재 시작 여부에 대한 판단에 따라 플래시 메모리 칩에 저장된 컨트롤러의 이전 동작 모드를 확인하는 단계; 및상기 확인된 컨트롤러의 이전 동작 모드에 따라 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부에 대한 판단을 수행하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 방법
18 18
제16항에 있어서,상기 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부를 판단하는 단계는호스트에 의해 명령이 전송되었는지 여부를 판단하는 단계;상기 호스트에 의해 명령이 전송되었는지 여부에 대한 판단에 따라 호스트에 의해 전송된 명령을 수신하는 단계;상기 수신된 호스트 명령에 따라 컨트롤러의 동작 모드가 테스트 모드인지 여부에 대한 판단을 수행하는 단계; 및상기 판단된 컨트롤러의 동작 모드를 상기 적어도 하나의 플래시 메모리 칩에 저장하는 단계를 포함하는 플래시 메모리 저장 장치 신뢰성 검증 방법
19 19
제16항 내지 제18항 중에서 어느 하나의 항의 방법을 실행시키기 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2013042972 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
2 WO2013042972 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2013042972 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
2 WO2013042972 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
순번, 연구부처, 주관기관, 연구사업, 연구과제의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 국가R&D 연구정보 정보 표입니다.
순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 교육과학기술부 서울대학교산학협력단 도약연구지원사업 정확성 검증이 가능한 플래시메모리 소프트웨어