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임베디드 시스템의 테스트 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015016288
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 테스트 장치는 임베디드 시스템을 테스트하는 임베디드 시스템의 테스트 장치에 있어서, 임베디드 시스템에서 전송된 로그 정보를 저장하는 로그부; 로그 정보의 입력 순서에 기초하여 패턴을 분석하는 패턴 분석부; 분석된 패턴에 기초하여 테스트 모델을 생성하는 테스트 모델부를 포함한다.본 발명은 임베디드 시스템에서 출력된 로그 정보를 이용하여 테스트 모델을 자동 생성함으로써 테스트 모델 구축 비용을 크게 절감할 수 있다. 나아가 테스트 모델 구축 비용 절감은 테스트 데이터 생성 비용 절감으로 이어질 수 있다.본 발명은 임베디드 시스템에서 출력된 로그 정보를 이용하여 테스트 모델을 생성하기 때문에 임베디드 시스템을 이용한 장치의 행위를 표현할 수 있다. 이러한 테스트 모델과 기존의 정형적/비정형적 방식으로 기록된 임베디드 시스템의 동작 명령을 비교하면 동작명령과 일관성이 있도록 임베디드 시스템이 구현되었는지 검증할 수 있다.
Int. CL G06F 11/28 (2006.01.01)
CPC G06F 11/28(2013.01)
출원번호/일자 1020140141868 (2014.10.20)
출원인 기아자동차주식회사, 현대자동차주식회사, 부산대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1575649-0000 (2015.12.02)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20151221) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.10.20)
심사청구항수 21

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 기아자동차주식회사 대한민국 서울특별시 서초구
2 현대자동차주식회사 대한민국 서울특별시 서초구
3 부산대학교 산학협력단 대한민국 부산광역시 금정구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 강효섭 대한민국 서울특별시 강서구
2 조호영 대한민국 경기도 용인시 수지구
3 임진용 대한민국 경기도 수원시 권선구
4 채흥석 대한민국 부산광역시 금정구
5 최현재 대한민국 부산광역시 부산진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인세림 대한민국 서울특별시 서초구 강남대로 ***, **층, **층(서초동, 태우빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 부산대학교 산학협력단 부산광역시 금정구
2 현대자동차주식회사 서울특별시 서초구
3 기아자동차주식회사 서울특별시 서초구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.10.20 수리 (Accepted) 1-1-2014-0999015-13
2 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2014.11.19 수리 (Accepted) 1-1-2014-1114398-40
3 보정요구서
Request for Amendment
2014.11.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0210407-63
4 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment
2014.12.01 수리 (Accepted) 1-1-2014-1163277-62
5 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2015.06.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
6 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2015.08.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-6-2015-0066735-00
7 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2015.08.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0586355-37
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2015.10.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2015-1047275-17
9 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2015.10.28 수리 (Accepted) 1-1-2015-1047276-63
10 등록결정서
Decision to grant
2015.11.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2015-0823943-12
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.01.13 수리 (Accepted) 4-1-2016-5004891-78
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.01.22 수리 (Accepted) 4-1-2016-5009725-79
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.09 수리 (Accepted) 4-1-2017-5004005-98
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.01.10 수리 (Accepted) 4-1-2017-5004797-18
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2017.09.18 수리 (Accepted) 4-1-2017-5150878-54
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.09.04 수리 (Accepted) 4-1-2018-5179063-18
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5148973-60
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.26 수리 (Accepted) 4-1-2019-5150191-76
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
임베디드 시스템을 테스트하는 임베디드 시스템의 테스트 장치에 있어서,상기 임베디드 시스템에서 전송된 로그 정보를 저장하는 로그부;상기 로그 정보의 입력 순서에 기초하여 패턴을 분석하는 패턴 분석부; 상기 분석된 패턴에 기초하여 테스트 모델을 생성하는 테스트 모델부를 포함하고상기 패턴 분석부는상기 로그 정보 중 특정 로그 정보를 기준으로 그룹을 나누어 각 그룹 내에 상기 특정 로그 정보와 동일한 로그 정보가 존재 하는지 판단하고 존재한다면 상기 동일한 로그 정보 사이에 패턴을 분석하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
2 2
제 1 항에 있어서, 상기 로그 정보는,적어도 하나의 부하 정보와, 상기 적어도 하나의 부하의 신호 정보를 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
3 3
제 2 항에 있어서, 상기 로그부는, 상기 적어도 하나의 부하 정보와 신호 정보가 매칭된 이벤트 정보를 생성하고,상기 로그 정보는 상기 이벤트 정보를 더 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
4 4
제 3 항에 있어서, 상기 로그부는, 상기 적어도 하나의 부하의 신호 정보의 입력 시간 순으로 로그 정보가 기록된 로그 시퀀스를 갖는 임베디드 시스템의 테스트 장치
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 로그부는,상기 로그 시퀀스를 상기 패턴 분석부에 전달하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
6 6
제 4 항에 있어서, 상기 테스트 모델부는,상기 적어도 하나의 부하의 신호 정보가 입력된 시간 순으로 이벤트 정보의 상태를 추가하고, 두 상태를 연결하는 전이를 추가하여 그래프 방식의 상태 머신을 생성하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
7 7
제 6 항에 있어서, 상기 테스트 모델부는,상기 로그 시퀀스에 기초하여 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성하는지 판단하고, 상기 패턴을 형성한다고 판단되면 상기 패턴 내 시작 상태와 상기 추가하고자 하는 상태를 연결하는 전이를 추가하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
8 8
제 6 항에 있어서, 상기 테스트 모델부는,상기 로그 시퀀스에 기초하여 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성하는지 판단하고, 상기 패턴을 형성하지 않는다고 판단되면 이전 상태와 상기 추가하고자 하는 상태를 연결하는 전이를 추가하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 로그부는,상기 임베디드 시스템의 출력 포트에 연결되어 상기 출력 포트에서 출력된 로그 정보를 수신하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
10 10
임베디드 시스템을 테스트하는 임베디드 시스템의 테스트 장치에 있어서,상기 임베디드 시스템에 저장된 로그 정보의 패턴을 분석하는 패턴 분석부; 상기 분석된 로그 정보의 패턴에 기초하여 테스트 모델을 생성하는 테스트 모델부를 포함하고상기 패턴 분석부는상기의 로그 정보 중 특정 로그 정보를 기준으로 그룹을 나누어 각 그룹 내에 상기 특정 로그 정보와 동일한 로그 정보가 존재 하는지 판단하고 존재한다면 상기 동일한 로그 정보 사이에 패턴을 분석하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
11 11
제 10 항에 있어서, 상기 로그 정보는, 적어도 하나의 부하 정보와, 상기 적어도 하나의 부하의 신호 정보와, 상기 적어도 하나의 부하 정보와 신호 정보가 매칭된 이벤트 정보를 포함하고,상기 로그 정보가 리스트화된 로그 시퀀스를 저장하는 로그부를 더 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
12 12
제 11 항에 있어서, 상기 테스트 모델부는,상기 로그 시퀀스에 기초하여 이벤트 정보의 상태와 전이를 추가하여 그래프 방식의 상태 머신을 테스트 모델로 생성하는 임베디드 시스템의 테스트 장치
13 13
임베디드 시스템에서 전송된 로그 정보를 수신하고,상기 수신된 로그 정보의 입력 순서에 기초하여 패턴을 분석하고,상기 분석된 패턴에 기초하여 이벤트 정보의 상태와 전이를 추가하여 그래프 방식의 상태 머신을 테스트 모델로 생성하고,상기 생성된 테스트 모델을 이용하여 상기 임베디드 시스템을 테스트하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
14 14
제 13 항에 있어서, 상기 로그 정보는,적어도 하나의 부하 정보와, 상기 적어도 하나의 부하의 신호 정보와, 상기 적어도 하나의 부하 정보와 신호 정보가 매칭된 이벤트 정보를 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
15 15
제 14 항에 있어서, 상기 패턴을 분석하는 것은,상기 적어도 하나의 부하의 신호가 입력된 시간 순서에 따라 상기 로그 정보를 리스트화한 로그 시퀀스를 생성하고,상기 생성된 로그 시퀀스에 기초하여 패턴을 분석하는 것을 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
16 16
제 15 항에 있어서, 상기 테스트 모델을 생성하는 것은,상기 생성된 로그 시퀀스의 이벤트 정보를 시간 순으로 상태로 추가하고,연속된 두 개의 상태를 연결하는 전이를 추가하여 상태 머신을 상기 테스트 모델로 생성하는 것을 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
17 17
제 16 항에 있어서, 상기 전이를 추가하는 것은,상기 로그 시퀀스에 기초하여 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성하는지 판단하고, 상기 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성한다고 판단되면 상기 패턴 내 시작 상태와 상기 추가하고자 하는 상태를 연결하는 전이를 추가하는 것을 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
18 18
제 17 항에 있어서, 상기 전이 추가가 완료되면 상기 패턴을 삭제하는 것을 더 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
19 19
제 16 항에 있어서, 상기 전이를 추가하는 것은,상기 로그 시퀀스에 기초하여 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성하는지 판단하고, 상기 추가하고자 하는 상태가 패턴을 형성하지 않는고 판단되면 이전 상태와 상기 추가하고자 하는 상태를 연결하는 전이를 추가하는 것을 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
20 20
제 19 항에 있어서, 상기 로그 시퀀스에서 상기 추가하고자 하는 상태를 삭제하는 것을 더 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
21 21
제 13 항에 있어서, 상기 로그 정보를 수신하는 것은, 상기 임베디드 시스템의 출력 포트에 연결되어 상기 출력 포트에서 출력된 로그 정보를 수신하는 것을 포함하고,상기 수신된 로그 정보를 저장하는 것을 더 포함하는 임베디드 시스템의 테스트 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.