요약 | 반도체 장치 및 그 형성 방법이 제공된다. 상기 방법은 기판 내에 국부적으로 매몰 절연막을 형성하는 단계를 포함한다. 상기 기판을 식각하여 상기 매몰 절연막을 노출하는 개구부를 형성하여, 상기 매몰 절연막 상에 적어도 일 방향으로 상기 기판으로부터 이격된 실리콘 패턴이 형성된다. 상기 실리콘 패턴을 둘러싸는 제 1 절연막이 형성된다. 국부 소이 구조, 매몰 절연막 |
---|---|
Int. CL | H01L 21/20 (2006.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020070132314 (2007.12.17) |
출원인 | 한국전자통신연구원 |
등록번호/일자 | 10-0937599-0000 (2010.01.12) |
공개번호/일자 | 10-2009-0064929 (2009.06.22) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20100120) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2007.12.17) |
심사청구항수 | 13 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국전자통신연구원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 권오균 | 대한민국 | 대전 유성구 |
2 | 서동우 | 대한민국 | 대전 유성구 |
3 | 표정형 | 대한민국 | 서울 마포구 |
4 | 김경옥 | 대한민국 | 서울 강남구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 오세준 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 테헤란로 *길 ** *층(역삼동)(특허법인 고려) |
2 | 권혁수 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(삼일빌딩, 역삼동)(KS고려국제특허법률사무소) |
3 | 송윤호 | 대한민국 | 서울특별시 강남구 언주로 *** (역삼동) *층(삼일빌딩)(케이에스고려국제특허법률사무소) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국전자통신연구원 | 대한민국 | 대전광역시 유성구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2007.12.17 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0905868-74 |
2 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2009.01.12 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2009.02.16 | 수리 (Accepted) | 9-1-2009-0008460-32 |
4 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2009.06.26 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0272108-49 |
5 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2009.08.03 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0474784-18 |
6 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2009.08.03 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2009-0474783-73 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2009.08.04 | 수리 (Accepted) | 4-1-2009-5150899-36 |
8 | 등록결정서 Decision to grant |
2009.12.28 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0531469-69 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.02.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-0006137-44 |
번호 | 청구항 |
---|---|
1 |
1 기판 내에 국부적으로 매몰 절연막을 형성하는 단계; 상기 기판을 식각하여 상기 매몰 절연막을 노출하는 개구부를 형성하여, 상기 매몰 절연막 상에 적어도 일 방향으로 상기 기판으로부터 이격된 실리콘 패턴을 형성하는 단계; 상기 매몰 절연막을 제거하여 상기 실리콘 패턴 하부에 에어 갭을 형성하는 단계; 및 상기 실리콘 패턴을 둘러싸는 제 1 절연막을 형성하는 단계를 포함하되, 상기 에어 갭은 상기 개구부와 소통되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 형성 방법 |
2 |
2 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 절연막은 열산화 공정을 수행하는 것에 의해 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 형성 방법 |
3 |
3 제 1 항에 있어서, 상기 실리콘 패턴 및 상기 기판 사이의 상기 제 1 절연막은 갭 영역을 정의하고, 상기 갭 영역을 포함하여 상기 제 1 절연막 상에 제 2 절연막을 형성하는 단계를 더 포함하는 반도체 장치의 형성 방법 |
4 |
4 삭제 |
5 |
5 제 1 항에 있어서, 상기 매몰 절연막은 습식식각 공정을 수행하는 것에 의해 제거되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 형성 방법 |
6 |
6 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 절연막을 형성하는 단계는 기상증착 공정을 수행하는 것에 의해 상기 에어 갭 및 상기 개구부를 채우는 충진 절연막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 형성 방법 |
7 |
7 제 1 항에 있어서, 상기 매몰 절연막을 형성하는 단계는: 상기 기판 상에 이온주입 마스크를 형성하는 단계; 상기 이온주입 마스크를 사용하여 상기 기판 내에 이온을 주입하여 이온 주입층을 형성하는 단계; 및 열처리 공정을 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 형성 방법 |
8 |
8 제 7 항에 있어서, 상기 이온은 산소 또는 질소를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 형성 방법 |
9 |
9 제 1 항에 있어서, 상기 개구부는 상기 매몰 절연막의 가장자리를 노출하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 형성 방법 |
10 |
10 기판; 기판 상에 위치하고, 상기 기판과 마주보는 하부면과 측벽들을 갖는 실리콘 패턴; 및 상기 기판과 상기 실리콘 패턴 사이에 개재하여 상기 실리콘 패턴의 하부면 및 측벽들과 접하는 절연막 패턴을 포함하되, 상기 절연막 패턴은, 상기 기판과 상기 실리콘 패턴 사이에 개재하여 상기 실리콘 패턴의 하부면 및 측벽들과 접하고, 상기 실리콘 패턴의 측벽들과 상기 기판 사이에 갭 영역을 정의하되, 상기 실리콘 패턴에 인접하여 오목한 형태의 상부면을 가지는 제 1 절연패턴; 및 상기 갭 영역 내에 배치되며 상기 제 1 절연 패턴의 오목한 형태의 상부면과 접하며 상기 실리콘 패턴 및 상기 기판으로부터 이격된 제 2 절연 패턴을 포함하고, 상기 제 1 절연 패턴 및 상기 제 2 절연 패턴은 서로 다른 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치 |
11 |
11 제 10 항에 있어서, 상기 절연막 패턴은 "凹"형 단면을 갖고, 상기 실리콘 패턴은 상기 절연막 패턴의 오목한 부분에 삽입된 것을 특징으로 하는 반도체 장치 |
12 |
12 삭제 |
13 |
13 제 10 항에 있어서, 상기 실리콘 패턴은 상기 절연막 패턴 상에 복수 개 배치되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치 |
14 |
14 제 10 항에 있어서, 상기 기판은 제 1 영역 및 제 2 영역을 포함하고, 상기 실리콘 패턴 및 상기 절연막 패턴은 상기 제 1 영역에 배치되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치 |
15 |
15 제 14 항에 있어서, 상기 제 1 영역에 광소자가 배치되고, 상기 제 2 영역에 전자소자가 배치되는 것을 특징으로 하는 반도체 장치 |
지정국 정보가 없습니다 |
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순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US07790567 | US | 미국 | FAMILY |
2 | US08183633 | US | 미국 | FAMILY |
3 | US20090152673 | US | 미국 | FAMILY |
4 | US20100301448 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | US2009152673 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
2 | US2010301448 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
3 | US7790567 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
4 | US8183633 | US | 미국 | DOCDBFAMILY |
순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 정보통신부 및 정보통신연구진흥원 | 한국전자통신연구원 | IT원천기술개발 | 실리콘 기반 초고속 광인터커넥션 IC |
특허 등록번호 | 10-0937599-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20071217 출원 번호 : 1020070132314 공고 연월일 : 20100120 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20091228 청구범위의 항수 : 4 유별 : H01L 21/20 발명의 명칭 : 반도체 장치 및 그 형성 방법 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한국전자통신연구원 대전광역시 유성구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 276,000 원 | 2010년 01월 13일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 128,000 원 | 2012년 12월 06일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 128,000 원 | 2013년 12월 09일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 89,600 원 | 2014년 12월 29일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 252,000 원 | 2015년 12월 28일 | 납입 |
제 8 년분 | 금 액 | 176,400 원 | 2016년 12월 28일 | 납입 |
제 9 년분 | 금 액 | 176,400 원 | 2017년 12월 26일 | 납입 |
제 10 년분 | 금 액 | 230,000 원 | 2018년 12월 26일 | 납입 |
제 11 년분 | 금 액 | 230,000 원 | 2019년 12월 23일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2007.12.17 | 수리 (Accepted) | 1-1-2007-0905868-74 |
2 | 선행기술조사의뢰서 | 2009.01.12 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
3 | 선행기술조사보고서 | 2009.02.16 | 수리 (Accepted) | 9-1-2009-0008460-32 |
4 | 의견제출통지서 | 2009.06.26 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0272108-49 |
5 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2009.08.03 | 수리 (Accepted) | 1-1-2009-0474784-18 |
6 | [명세서등 보정]보정서 | 2009.08.03 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2009-0474783-73 |
7 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2009.08.04 | 수리 (Accepted) | 4-1-2009-5150899-36 |
8 | 등록결정서 | 2009.12.28 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2009-0531469-69 |
9 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.02.02 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-0006137-44 |
기술정보가 없습니다 |
---|
과제고유번호 | 1415107630 |
---|---|
세부과제번호 | KI001499 |
연구과제명 | 실리콘 기반 초고속 광인터커넥션 IC |
성과구분 | 등록 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 한국산업기술평가관리원 |
연구주관기관명 | 한국전자통신연구원 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 200602~201101 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 기초연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
과제고유번호 | 1445006529 |
---|---|
세부과제번호 | 2006-S-004-02 |
연구과제명 | 실리콘기반초고속광인터커넥션IC |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 정보통신연구진흥원 |
연구주관기관명 | 한국전자통신연구원 |
성과제출연도 | 2007 |
연구기간 | 200702~200801 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | IT(정보기술) |
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