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부채널 분석을 위한 장치

  • 기술번호 : KST2015087903
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 부채널 분석을 위한 장치는 분석용 보드의 전력 신호를 측정하는 파형 측정부, 상기 분석용 보드의 전자기파 신호를 측정하는 전자기파 측정부, 및 상기 측정된 전자기파 신호를 이용하여 부채널 분석을 수행하는 분석부를 포함한다. 상기 전자기파 측정부는 상기 분석용 보드를 스캔하여 스캔된 전자기파 신호를 획득하고, 상기 스캔된 전자기파 신호와 상기 전력 신호의 상관 관계가 큰 측정 지점에서 상기 전자기파 신호를 측정한다.
Int. CL H04L 9/06 (2006.01) H04L 12/26 (2006.01) H04L 12/22 (2006.01)
CPC G06F 21/755(2013.01) G06F 21/755(2013.01)
출원번호/일자 1020100116260 (2010.11.22)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2012-0054892 (2012.05.31) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 취하
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 최용제 대한민국 대전광역시 유성구
2 최두호 대한민국 충청남도 천안시 동남구
3 김태성 대한민국 대전광역시 유성구
4 김주한 대한민국 대전광역시 유성구
5 오경희 대한민국 대전광역시 유성구
6 강유성 대한민국 대전광역시 유성구
7 김정녀 대한민국 대전광역시 유성구
8 조현숙 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 인비전 특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길**, *층(대치동, 동산빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.11.22 수리 (Accepted) 1-1-2010-0761439-50
2 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2013.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2013-0182492-04
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
부채널 분석을 위한 장치에 있어서,분석용 보드의 전력 신호를 측정하는 파형 측정부;상기 분석용 보드의 전자기파 신호를 측정하는 전자기파 측정부; 및상기 측정된 전자기파 신호를 이용하여 부채널 분석을 수행하는 분석부를 포함하되,상기 전자기파 측정부는 상기 분석용 보드를 스캔하여 스캔된 전자기파 신호를 획득하고, 상기 스캔된 전자기파 신호와 상기 전력 신호의 상관 관계가 큰 측정 지점에서 상기 전자기파 신호를 측정하는 것을 특징으로 하는 부채널 분석을 위한 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부/방송통신위원회 한국전자통신연구원 정보통신산업원천기술개발사업 부채널 공격 방지 원천 기술 및 안전성 검증 기술개발