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실리콘 혹은 실리카의 단일 기판상에 언도우프트 코아층(6)을 형성하고, 그의 중심영역을 소정의 형상으로 식각하여 광증폭영역을 정의하는 제 1 공정; 상기 언도우프트 코아층(6) 및 광증폭영역상에 에르븀 도우프트 코아층(8)을 형성하고 두 코아층의 표면을 평탄화하는 제 2 공정; 및 상기 언도우프트 코아층(6)과 에르븀 도우프트 코아층(8)을 패터닝하여 입출력단이 언도우프트 코아층으로 형성되고, 광증폭영역이 에르븀 도우프트 코아층으로 형성되는 도파로(6a, 8a)를 형성하는 제 3 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 에르븀-도우프트 평민형 광증폭기의 제조방법
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제 1 항에 있어서, 상기 언도우프트 코아층(6)과 도우프트 코아층(8)은 화염가수분해증착(FHD)법으로 형성하는 것을 특징으로 하는 에르븀-도우프트 평면형 광증폭기의 제조방법
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제 1 항에 있어서, 상기 광증폭영역은 언도우프트 코아층(6)상에 알루미늄 식각 마스크를 형성하고 건식 식각하여 형성하는 것을 특징으로 하는 에르븀-도우프트 평면형 광증폭기 제조방법
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제 1 항에 있어서, 상기 광증폭영역은 상기 광증폭영역은 언도우프트 코아층(6)상에 알루미늄 식각 마스크를 형성하고 CF4, CHF3 가스를 사용하여(ICP:유도결합 플라즈마 에칭)법으로 식각하는 것을 특징으로 하는 에르븀-도우프트 평면형 광증폭기 제조방법
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제 1 항에 있어서, 상기 에르븀 도우프트 코아층(8)은 SiCl4, BCl3, POCl3(PCl3)를 실리카 원료로 사용하고 에르븀(Er)원료로 에르븀 킬레이트(Chelates)를 사용하는 화염가수분해증착법으로 실리카 미립자를 형성하고 1250∼1350℃의 온도에서 고밀화시켜 형성하는 것을 특징으로 하는 에르븀-도우프트 평면형 광증폭기 제조방법
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제 5 항에 있어서, 상기 에르븀 도우프트 코아층(8)은 에르븀 킬레이트(Chelates)중 전구체(Precursor)로 Er(DPM-Dipivaloylmethane)-Er(thd)3-2,2,6,6,-tetramethyl-3,5-heptanedionate)를 사용하며, 에르븀-킬레이트(Chelates)의 공급라인의 온도는 175∼220℃로 유지하고 헤륨(He), 질소(N2) 가스를 이송기체로 사용하여 형성하는 것을 특징으로 하는 에르븀-도우프트 평면형 광증폭기 제조방법
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제 5 항에 있어서, 상기 에르븀 도우프트 코아층(8)은 상기 에르븀 도우프트 코아층(8)은 BCl3, POCl3(PCl3)를 사용한 동시도핑(Codoping)하되, 인(P)농도는 10∼25% 정도로 도핑하여 Er+3 이온의 사이트(Site)를 제공하고, 보론(B) 농도는 1% 미만의 적은 양을 도핑하여 실리카막의 투명성을 개선시키는 것을 특징으로 하는 에르븀 도우프트 평면형 광증폭기 제조방법
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제 1 항에 있어서, 상기 언도우프트 코아층(6)과 에르븀 도우프트 코아층(8)은 상기 광증폭영역에 형성된 에르븀 도우프트 코아층(8)상에 마스크를 형성하고, 언도우프트 코아층(6)상에 형성된 도우프트 코아층(8)을 유도결합 플라즈마 에칭(ICP)법으로 식각하여 표면 평탄화를 수행하는 것을 특징으로 하는 에르븀-도우프트 평면형 광증폭기 제조방법
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제 8 항에 있어서, 상기 표면 평탄화는 상기 광증폭영역에 형성된 에르븀 도우프트 코아층(8)상에 마스크를 형성하고, 언도우프트 코아층(6)상에 형성된 도우프트 코아층(8)을 등방성 식각하고, 1200∼1300℃의 온도에서 플로잉하는 것을 특징으로 하는 에르븀-도우프트 평면형 광증폭기 제조방법
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제 1 항에 있어서, 상기 입력단(1)측의 도파로(6a)에 광출력신호(1550nm)와 펌핑광(980nm)을 결합시켜 WDM 결합기(3)를 형성하는 것을 특징으로 하는 에르븀-도우프트 평면형 광증폭기 제조방법
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제 1 항에 있어서, 상기 출력단(4)측의 도파로(6a)를 이용하여 1×16 광분배기를 형성하는 것을 특징으로 하는 에르븀-도우프트 평면형 광증폭기 제조방법
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