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메모리 테스트 패턴 생성기

  • 기술번호 : KST2015096567
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 메모리 테스트는 고가의 테스트 장비를 이용하여 수십 종류의 고장 모델 점검 및 진단을 목표로 하는 방법과 사용중 발생하는 간헐오류 등을 실시간으로 점검하기 위한 빌트-인 셀프 테스트(Built-In Self Test) 기술로 구분할 수 있다. 테스트 장비에서 결정적인(deterministic) 테스트 패턴 생성에 의한 방법은 목표한 몇 가지 고장만을 점검할 수 있을 뿐 지연 고장등을 실속도로 점검하는 데에 어려움이 있다.따라서, 본 발명에서는 기존의 논리회로용 테스트를 위하여 널리 사용되는 가중 랜덤 패턴 생성기(WRPG : Weighted Random Pattern Generator)를 개선하여 신호지연을 포함한 다양한 종류의 고장을 실속도로 단시간에 점검할 수 있는 메모리 테스트 패턴 생성기에 관해 개시된다.
Int. CL G01R 31/28 (2006.01)
CPC G01R 31/31724(2013.01) G01R 31/31724(2013.01) G01R 31/31724(2013.01)
출원번호/일자 1019960065733 (1996.12.14)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0227789-0000 (1999.08.05)
공개번호/일자 10-1998-0047257 (1998.09.15) 문서열기
공고번호/일자 (19991101) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1996.12.14)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박성주 대한민국 경기도 안산시
2 박종욱 대한민국 경기도 안양시
3 김보우 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 신영무 대한민국 서울특별시 강남구 영동대로 ***(대치동) KT&G타워 *층(에스앤엘파트너스)
2 최승민 대한민국 서울특별시 중구 통일로 **, 에이스타워 *층 (순화동)(법무법인 세종)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 1996.12.14 수리 (Accepted) 1-1-1996-0218788-90
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1996.12.14 수리 (Accepted) 1-1-1996-0218789-35
3 출원심사청구서
Request for Examination		 1996.12.14 수리 (Accepted) 1-1-1996-0218790-82
4 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 1997.01.31 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-1996-0218791-27
5 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1997.03.12 수리 (Accepted) 1-1-1996-0218792-73
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 1998.12.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1996-0467711-52
7 의견서
Written Opinion		 1999.02.27 수리 (Accepted) 1-1-1999-5095130-14
8 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 1999.02.27 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-1999-5095131-60
9 등록사정서
Decision to grant		 1999.05.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-1999-0167437-55
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
12 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)		 2008.11.06 수리 (Accepted) 1-1-2008-5055003-22
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

드-브론 카운터로부터 출력되는 각각의 데이터를 입력으로 하여 가중치 생성기 출력값을 생성하고, 상기 드-브론 카운터의 어느 한 출력값에 따라서 가중치 생성기 출력값을 반전하거나 유지하는 가중 랜덤 패턴 생성기를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 패턴 생성기

2 2

제1항에 있어서, 상기 가중 랜덤 패턴 생성기의 출력은 드-브론 카운터 출력이 인버터를 통해 네 개의 서로 다른 가중치를 각각 선택하도록 구성된 것을 특징으로 하는 메모리 테스트 패턴 생성기

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.