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테스트가용이한시간선택형타이머및그테스트방법

  • 기술번호 : KST2015099449
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 VLSI로 타이머 회로를 구현할 때 VLSI 외부에서 간단히 테스트 모드와 타이머 모드를 선택하도록 하여 짧은 시간에 테스트가 가능한 타이머 및 그 테스트 방법에 관한 것으로서, 그 특징은 기본 클럭을 발생시키는 기본 클럭 발생기를 구비하고 있는 테스트가 용이한 시간 선택형 타이머에 있어서, 테스트 모드와 타이머 모드를 결정하는 결정 수단과, 테스트를 위해 기본 클럭을 선택하거나 타이머용의 긴 주기를 선택하는 선택 수단과, 타이머용 클럭을 분주시키는 분주 수단 및 상기 타이머의 출력 신호를 출력하는 출력 수단을 포함하는 데에 있으므로, 그 효과는 다단 클럭 분주기를 적절히 먹싱(Muxing)한 회로를 디코더로 선택함으로써 타이머 모드 시는 원하는 시간에 출력을 내주는 타이머 동작을 기대할 수 있고, 또한 테스트 모드시는 상용의 VLSI 테스트 장비로 테스트가 가능한 회로를 쉽게 구현할 수 있다는 데에 있다.
Int. CL G01R 31/28 (2006.01)
CPC G01R 31/31725(2013.01) G01R 31/31725(2013.01) G01R 31/31725(2013.01)
출원번호/일자 1019950047075 (1995.12.06)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자 10-0174876-0000 (1998.11.06)
공개번호/일자 10-1997-0048567 (1997.07.29) 문서열기
공고번호/일자 (19990401) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1995.12.06)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 임태영 대한민국 대전광역시서구
2 김대용 대한민국 대전광역시중구
3 신희천 대한민국 대전광역시유성구
4 곽명신 대한민국 대전광역시유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 1995.12.06 수리 (Accepted) 1-1-1995-0184092-55
2 출원심사청구서
Request for Examination		 1995.12.06 수리 (Accepted) 1-1-1995-0184094-46
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1995.12.06 수리 (Accepted) 1-1-1995-0184093-01
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1997.04.25 수리 (Accepted) 1-1-1995-0184095-92
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1997.08.22 수리 (Accepted) 1-1-1995-0184096-37
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 1998.07.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0097305-60
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.		 1998.09.24 수리 (Accepted) 1-1-1995-0184097-83
8 의견서
Written Opinion		 1998.09.24 수리 (Accepted) 1-1-1995-0184098-28
9 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent		 1998.09.24 수리 (Accepted) 1-1-1995-0184099-74
10 등록사정서
Decision to grant		 1998.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0468671-57
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
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번호 청구항
1 1

시스템 기본 주파수의 시스템 기본클럭과, 그 기본클럭을 타이머의 클럭으로 제공하기 위해 분주시킨 타이머 기본클럭을 제공하는 시스템 발진부와; 테스트 모드와 타이머모드를 선택하기 위한 모드 제어신호를 시스템 제어부로부터 입력받아 디코딩하여 테스트 모드와 타이머 모드에서의 주파수 분주비 및 출력선택을 위한 테스트 제어신호와, 타이머 세팅신호를 발생하는 디코더와; 첫째 단은 상기 시스템 기본클럭과 타이머 기본클럭을, 두번째 단부터는 상기 시스템 기본클럭과 테스트모드 또는 타이머모드에 따라 카운트된 앞단의 분주 클럭을 각각 입력받아, 상기 디코더의 테스트 제어신호에 의거하여 각각 클럭을 선택하는 다단으로 이루어진 주파수 선택부와; 각 주파수 선택부에서 선택된 주파수를 각기 분주 카운트하여 테스트모드 또는 타이머모드에 따른 분주된 주파수를 출력함과 아울러 최종 분주출력을 상기 주파수선택부의 일측 입력인 분주클럭으로 입력시키는 다수의 카운터와; 상기 디코더의 테스트 제어신호 및 세팅 제어신호를 각기 반전시킨 신호와 상기 카운터의 분주클럭을, 각각 앤드조합하고 이들을 다시 오아 조합하여 모드에 따라 1개의 신호만을 테스트출력 또는 타이머출력으로 통과시키도록 하는 출력게이트부로 구성된 것을 특징으로 하는 테스트가 용이한 시간 선택형 타이머 장치

2 2

제1항에 있어서, 상기 다수의 카운터는, 각각 입력클럭(X=주파수)에 대해 테스트 모드에서는, 2X, 4X, 8X, 16X의 4개의 분주클럭을 출력하고, 타이머 모드에서는 32X, 64X, 128X, 4096X

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.