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부채널 분석 시스템에서 스트림 파형 분석 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015100192
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 부채널 분석 시스템에서의 스트림 파형 분석 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명의 스트림 파형 분석 장치는 부채널 분석 시스템을 통해 스트림 파형의 분석에 이용되는 입력 파라미터를 수신하는 수신부; 입력 파라미터에 포함된 정보를 근거로 스트림 파형 내에서 추출 대상인 분석 파형이 포함된 복수의 분석 구간들을 설정하는 구간 설정부 및 분석 구간 내에서 입력 파라미터에 포함된 기준 파형의 상관도 분석을 통해 분석 파형을 추출하는 추출부를 포함하고, 분석 파형은 분석 대상 장치에서 암호 모듈이 동작시 발생하는 추출 대상 파형이고, 기준 파형은 스트림 파형 내에서 암호 모듈이 동작할 때의 파형을 포함하는 파형인 것을 특징으로 한다.
Int. CL G06F 17/00 (2006.01) G06F 21/00 (2006.01)
CPC G06F 11/3048(2013.01) G06F 11/3048(2013.01)
출원번호/일자 1020130159053 (2013.12.19)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0071921 (2015.06.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 N
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김주한 대한민국 대전광역시 유성구
2 최두호 대한민국 충청남도 천안시 동남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 한양특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 논현로**길 **, 한양빌딩 (도곡동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2013.12.19 수리 (Accepted) 1-1-2013-1163906-48
2 보정요구서
Request for Amendment		 2013.12.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2013-0165839-93
3 [출원서등 보정]보정서
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment		 2014.01.07 수리 (Accepted) 1-1-2014-5000547-77
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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부채널 분석 시스템을 통해 스트림 파형의 분석에 이용되는 입력 파라미터를 수신하는 수신부;상기 입력 파라미터에 포함된 정보를 근거로 스트림 파형 내에서 추출 대상인 분석 파형이 포함된 복수의 분석 구간들을 설정하는 구간 설정부 및상기 분석 구간 내에서 상기 입력 파라미터에 포함된 기준 파형의 상관도 분석을 통해 상기 분석 파형을 추출하는 추출부를 포함하고, 상기 분석 파형은 분석 대상 장치에서 암호 모듈이 동작시 발생하는 추출 대상 파형이고, 상기 기준 파형은 상기 스트림 파형 내에서 암호 모듈이 동작할 때의 파형을 포함하는 파형인 것을 특징으로 하는, 스트림 파형 분석 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.