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반도체 자동 시험장치

  • 기술번호 : KST2015100361
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 파형발생기와 부하 및 비교기등을 구비하는 다단자 측정의 반도체 자동시험기에 관한 것으로 특히, 피시험체와 프로그램으로 제어 가능한 복수개의 피시험체인 헤드와 핀카드와 인터페이스 되는 사이에 상기 파형발생기와 부하 및 비교기등을 분리시킬 목적으로 사용되는 제1스위치와; 피시험체인 반도체 소자와 프로그램으로 제어가능한 터미널과 연결하기 위한 제2스위치를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 반도체 자동 시험장치에 관한 것이다.
Int. CL G01R 31/28 (2006.01)
CPC G01R 31/31905(2013.01)
출원번호/일자 1019950053658 (1995.12.21)
출원인 한국전자통신연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-1997-0048572 (1997.07.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1995.12.21)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자통신연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 예충일 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김영길 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 대흥빌딩 ***호 (역삼동)
2 원혜중 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 **, 서울빌딩 *층 (역삼동)
3 이화익 대한민국 서울시 강남구 테헤란로*길** (역삼동,청원빌딩) *층,***,***호(영인국제특허법률사무소)
4 김명섭 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로**길 *, 테헤란오피스빌딩 ***호 시몬국제특허법률사무소 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 1995.12.21 수리 (Accepted) 1-1-1995-0207374-10
2 출원심사청구서
Request for Examination		 1995.12.21 수리 (Accepted) 1-1-1995-0207376-01
3 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1995.12.21 수리 (Accepted) 1-1-1995-0207375-55
4 출원인정보변경 (경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 1997.05.07 수리 (Accepted) 1-1-1995-0207377-46
5 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent		 1997.08.25 수리 (Accepted) 1-1-1995-0207378-92
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 1998.07.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0109513-87
7 거절사정서
Decision to Refuse a Patent		 1998.10.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-1995-0467610-15
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2001.04.19 수리 (Accepted) 4-1-2001-0046046-20
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2002.08.08 수리 (Accepted) 4-1-2002-0065009-76
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2009.08.04 수리 (Accepted) 4-1-2009-5150899-36
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.02 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006137-44
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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파형발생기와 부하 및 비교기등을 구비하는 다단자 측정의 반도체 자동시험기에 있어서, 피시험체와 프로그램으로 제어 가능한 복수개의 피시험체인 헤드와 핀카드와 인터페이스 되는 사이에 상기 파형발생기와 부하 및 비교기등을 분리시킬 목적으로 사용되는 제1스위치와; 피시험체인 반도체 소자와 프로그램으로 제어가능한 터미널과 연결하기 위한 제2스위치를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체 자동 시험장치

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.