요약 | 본 발명은 다른 변위검출장치에 비하여 구성이 쉽고, 장비구현이 저가이며 탁월한 분해능을 가지고, 측정영역이 다른 측정장비에 비해 매우 큰 공초점원리의 단위변위센서를 이용한 초정밀 변위측정기 및 직선 또는 회전변위를 검출하는 변위측정방법에 관한 것이다.본 발명의 일실시예로서 광원으로부터 변위측정대상물에 광점을 투광하고, 투광된 광점의 이송량으로서 상대적 변위를 측정하는 기기로서, 광원으로부터 발산된 광선을 일정한 크기의 슬릿 또는 핀홀에 투광시키는 투광렌즈(26)와; 상기 슬릿 또는 핀홀을 통과한 광선을 평행시키는 평행광렌즈(28)와; 상기 평행광렌즈(28)와 변위측정대상물과의 사이에 배치된 대물렌즈(30)와; 상기 투광렌즈(26)로 반사된 광선을 파장별로 분할하는 광분할기(32); 및 상기 광분할기(32)를 통과한 광선의 광강도를 검출하는 광검출기(34)를 포함한 단위변위센서(20)를 구비하고, 상기 광검출기(34)로 검출되는 광신호가 항상 최대를 유지할 수 있도록 상기 단위변위센서(20)를 미세 이송시키기 위한 구동수단을 포함한 것을 특징으로 한다.변위센서, 격자, 공초점, 광분할기, 광검출기, 압전구동기, 회전변위 |
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Int. CL | G01B 11/00 (2006.01) |
CPC | |
출원번호/일자 | 1020010001654 (2001.01.11) |
출원인 | 한국과학기술원 |
등록번호/일자 | 10-0421427-0000 (2004.02.23) |
공개번호/일자 | 10-2002-0060525 (2002.07.18) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20040309) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 소멸 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2001.01.11) |
심사청구항수 | 4 |